[發明專利]一種SMR硬盤的性能測試方法和系統

在審

• 申請號: 202111500866.5
• 申請日: 2021-12-09
• 公開（公告）號: CN114281621A
• 公開（公告）日: 2022-04-05
• 發明（設計）人: 徐曉倩
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/34;G11C29/56
• 代理公司: 濟南誠智商標專利事務所有限公司 37105
• 代理人: 李偉偉

本發明公開一種SMR硬盤的性能測試方法和系統，其中，SMR硬盤的性能測試方法包括：查詢SMR硬盤的邏輯區塊地址和數據塊信息；將寫指針重置到邏輯區塊地址的起始位置；使用libzbc庫包含的測試工具，控制寫指針從起始位置對SMR硬盤的特定數據塊信息進行寫操作性能測試；根據寫操作性能測試的測試結果，生成測試日志。本發明的技術方案能解決現有技術中SMR硬盤寫數據不準確的問題。

技術領域

本發明涉及服務器技術領域，尤其涉及一種SMR硬盤的性能測試方法和系統。

背景技術

疊瓦式磁記錄SMR硬盤是一種采用新型磁存儲技術的高容量硬盤。SMR硬盤能夠將盤片上的數據磁道部分重疊，就像屋頂上的瓦片一樣，因此SMR硬盤采用的技術被稱為疊瓦式磁記錄技術。該技術在制造工藝方面的變動非常微小，但卻可以大幅提高磁盤存儲密度。在數據量飛速增長的當今世界，SMR技術可以有效降低單位容量的磁盤存儲成本，是未來高密度磁盤存儲技術的發展潮流。

SMR硬盤的讀行為和普通磁盤相同，但是它的寫行為有了巨大的變化：不再支持隨機寫和原地更新寫。這是由于SMR盤上新寫入的磁道會覆蓋與之重疊的所有磁道，從而摧毀磁道上原有的數據；換言之，相較傳統硬盤而言，SMR盤不再支持隨機寫，只能進行順序追加寫。

上述SMR硬盤的寫入方式的限制，給SMR硬盤的存儲使用帶來了巨大挑戰。現有的硬盤性能測試方法通常是針對垂直式磁記錄PMR和縱向或稱水平的磁記錄LMR硬盤的，通常使用fio工具以及libaio引擎對待測硬盤進行順序、隨機或者混合讀寫測試。然而因為現有技術不支持libzbc庫，測試時會從C-Zone開始寫，導致測試出來的SMR硬盤數據不準確。

發明內容

本發明提供了一種SMR硬盤的性能測試方法和系統，旨在解決現有技術中SMR硬盤寫數據不準確的問題。

根據本發明的第一方面，本發明提供了一種SMR硬盤的性能測試方法，包括：

查詢SMR硬盤的邏輯區塊地址和數據塊信息；

將寫指針重置到邏輯區塊地址的起始位置；

使用libzbc庫包含的測試工具，控制寫指針從起始位置對SMR硬盤的特定數據塊信息進行寫操作性能測試；

根據寫操作性能測試的測試結果，生成測試日志。

優選地，上述查詢SMR硬盤的邏輯區塊地址和數據塊信息的步驟，包括：

查詢SMR硬盤的邏輯區塊地址的起始位置和大小；以及，

查詢數據塊信息所包含所有數據塊的數量和位置。

優選地，上述控制寫指針從起始位置對SMR硬盤的特定數據塊信息進行寫操作性能測試的步驟，包括：

根據起始位置，計算寫指針到SMR硬盤中特定數據塊信息的偏移量；

使用libzbc庫包含的測試工具，控制寫指針跳過SMR硬盤的C-Zone數據塊信息；

根據偏移量，控制寫指針從起始位置開始依次對SMR硬盤的特定數據塊信息進行寫操作。

優選地，上述根據寫操作性能測試的測試結果，生成測試日志的步驟，包括：

使用libzbc庫包含的測試工具，獲取每個特定數據塊信息的寫操作測試結果；

將寫操作測試結果生成測試日志并按預定格式存儲至數據庫中。

優選地，上述性能測試方法，還包括：

當獲取特定數據塊信息的寫操作測試結果后，將寫指針重置到邏輯區塊地址的起始位置；

根據下一數據塊的大小，重新計算寫指針的偏移量；