[發(fā)明專利]一種SMR硬盤的性能測試方法和系統(tǒng)

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• 申請日: 2021-12-09
• 公開（公告）號: CN114281621A
• 公開（公告）日: 2022-04-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 徐曉倩
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/34;G11C29/56
• 代理公司: 濟南誠智商標專利事務(wù)所有限公司 37105
• 代理人: 李偉偉

1.一種SMR硬盤的性能測試方法，其特征在于，包括：

查詢SMR硬盤的邏輯區(qū)塊地址和數(shù)據(jù)塊信息；

將寫指針重置到所述邏輯區(qū)塊地址的起始位置；

使用libzbc庫包含的測試工具，控制所述寫指針從所述起始位置對所述SMR硬盤的特定數(shù)據(jù)塊信息進行寫操作性能測試；

根據(jù)所述寫操作性能測試的測試結(jié)果，生成測試日志。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的性能測試方法，其特征在于，所述查詢SMR硬盤的邏輯區(qū)塊地址和數(shù)據(jù)塊信息的步驟，包括：

查詢所述SMR硬盤的邏輯區(qū)塊地址的起始位置和大小；以及，

查詢所述數(shù)據(jù)塊信息所包含所有數(shù)據(jù)塊的數(shù)量和位置。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的性能測試方法，其特征在于，所述控制寫指針從所述起始位置對所述SMR硬盤的特定數(shù)據(jù)塊信息進行寫操作性能測試的步驟，包括：

根據(jù)所述起始位置，計算所述寫指針到SMR硬盤中特定數(shù)據(jù)塊信息的偏移量；

使用所述libzbc庫包含的測試工具，控制所述寫指針跳過所述SMR硬盤的C-Zone數(shù)據(jù)塊信息；

根據(jù)所述偏移量，控制所述寫指針從所述起始位置開始依次對所述SMR硬盤的特定數(shù)據(jù)塊信息進行寫操作。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的性能測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述寫操作性能測試的測試結(jié)果，生成測試日志的步驟，包括：

使用所述libzbc庫包含的測試工具，獲取每個所述特定數(shù)據(jù)塊信息的寫操作測試結(jié)果；

將所述寫操作測試結(jié)果生成測試日志并按預(yù)定格式存儲至數(shù)據(jù)庫中。

5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的性能測試方法，其特征在于，還包括：

當獲取特定數(shù)據(jù)塊信息的寫操作測試結(jié)果后，將所述寫指針重置到所述邏輯區(qū)塊地址的起始位置；

根據(jù)下一數(shù)據(jù)塊的大小，重新計算所述寫指針的偏移量；

按照所述偏移量，控制所述寫指針對所述下一數(shù)據(jù)塊進行寫操作；

依次執(zhí)行上述步驟，直至獲取到所述SMR磁盤中每個所述特定數(shù)據(jù)塊信息的寫操作測試結(jié)果。

6.一種SMR硬盤的性能測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：

查詢模塊，用于查詢SMR硬盤的邏輯區(qū)塊地址和數(shù)據(jù)塊信息；

第一重置模塊，用于將寫指針重置到所述邏輯區(qū)塊地址的起始位置；

測試模塊，用于使用libzbc庫包含的測試工具，控制所述寫指針從所述起始位置對所述SMR硬盤的特定數(shù)據(jù)塊信息進行寫操作性能測試；

生成模塊，用于根據(jù)所述寫操作性能測試的測試結(jié)果，生成測試日志。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的性能測試系統(tǒng)，其特征在于，所述查詢模塊，包括：

邏輯區(qū)塊地址查詢子模塊，用于查詢所述SMR硬盤的邏輯區(qū)塊地址的起始位置和大小；以及，

數(shù)據(jù)塊查詢子模塊，用于查詢所述數(shù)據(jù)塊信息所包含所有數(shù)據(jù)塊的數(shù)量和位置。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的性能測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試模塊，包括：

偏移量計算子模塊，用于根據(jù)所述起始位置，計算所述寫指針到SMR硬盤中特定數(shù)據(jù)塊信息的偏移量；

寫指針控制子模塊，用于使用所述libzbc庫包含的測試工具，控制所述寫指針跳過所述SMR硬盤的C-Zone數(shù)據(jù)塊信息；

寫操作執(zhí)行子模塊，用于根據(jù)所述偏移量，控制所述寫指針從所述起始位置開始依次對所述SMR硬盤的特定數(shù)據(jù)塊信息進行寫操作。

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的性能測試系統(tǒng)，其特征在于，所述生成模塊，包括：

結(jié)果獲取子模塊，用于使用所述libzbc庫包含的測試工具，獲取每個所述特定數(shù)據(jù)塊信息的寫操作測試結(jié)果；

日志存儲子模塊，用于將所述寫操作測試結(jié)果生成測試日志并按預(yù)定格式存儲至數(shù)據(jù)庫中。

10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的性能測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括：

第二重置模塊，用于當獲取特定數(shù)據(jù)塊信息的寫操作測試結(jié)果后，將所述寫指針重置到所述邏輯區(qū)塊地址的起始位置；

計算模塊，用于根據(jù)下一數(shù)據(jù)塊的大小，重新計算所述寫指針的偏移量；

寫操作模塊，用于按照所述偏移量，控制所述寫指針對所述下一數(shù)據(jù)塊進行寫操作，依次執(zhí)行上述步驟，直至獲取到所述SMR磁盤中每個所述特定數(shù)據(jù)塊信息的寫操作測試結(jié)果。