[發(fā)明專利]一種基于混維Sn-CdS/碲化鉬異質(zhì)結(jié)的光電探測(cè)器及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111493107.0 | 申請(qǐng)日: | 2021-12-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114497248A | 公開(公告)日: | 2022-05-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張黎;韓曉寧;張?jiān)姾?/a>;李京波 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華南師范大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L31/0336 | 分類號(hào): | H01L31/0336;H01L31/0352;H01L31/102;H01L31/18 |
| 代理公司: | 廣東廣信君達(dá)律師事務(wù)所 44329 | 代理人: | 彭玉婷 |
| 地址: | 510630 廣東省*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 sn cds 碲化鉬異質(zhì)結(jié) 光電 探測(cè)器 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明屬于電子器件技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種基于混維Sn?CdS/碲化鉬異質(zhì)結(jié)的光電探測(cè)器及其制備方法。所述光電探測(cè)器的結(jié)構(gòu)為電極/Sn?CdS/MoTe2異質(zhì)結(jié)/電極;所述Sn?CdS/MoTe2異質(zhì)結(jié)中Sn?CdS為Sn摻雜CdS納米線,MoTe2為納米片;Sn?CdS/MoTe2異質(zhì)結(jié)不與電極接觸。該基于混維Sn?CdS/MoTe2異質(zhì)結(jié)的光電探測(cè)器具有優(yōu)越的吸光能力與載流子傳輸能力。該光電探測(cè)器在325~808nm波長(zhǎng)內(nèi)具有較高的響應(yīng)率(400~600mA/W)和探測(cè)率(1012~1013Jones)。本發(fā)明的工藝簡(jiǎn)單易操作,為基于混維半導(dǎo)體材料異質(zhì)結(jié)的高性能光電探測(cè)器的研究提供了思路。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于電子器件技術(shù)領(lǐng)域,更具體地,涉及一種基于混維Sn-CdS/碲化鉬(MoTe2)異質(zhì)結(jié)的光電探測(cè)器及其制備方法。
背景技術(shù)
自2004年石墨烯被機(jī)械剝離出來以來,研究者已經(jīng)發(fā)現(xiàn)和研究了許多二維材料,如黑磷、h-BN和過渡金屬二硫?qū)僭鼗?TMD)。其中,碲化鉬(MoTe2)具有獨(dú)特的特性,如高外量子產(chǎn)率(10-15%)、高載流子遷移率(30-40cm2/Vs)和自旋軌道耦合較大,使其成為下一代光電子學(xué)應(yīng)用的候選者。然而,仍存在一些固有的材料問題,基于單個(gè)MoTe2的光電探測(cè)器的性能總是不盡如人意。一方面,由于其納米級(jí)(10-100nm)的厚度,2D MoTe2表現(xiàn)出較差的光吸收(光吸收系數(shù)4-5×104cm-1)。此外,帶電雜質(zhì)的散射、來自相鄰電介質(zhì)的界面庫(kù)侖雜質(zhì)和表面極性聲子散射都會(huì)影響光生載流子的傳輸。另一方面,由于缺乏有效的光電導(dǎo)增益,在激發(fā)一個(gè)入射光子時(shí)不能產(chǎn)生多個(gè)電荷載流子。因此,單個(gè)基于MoTe2的光電探測(cè)器件的響應(yīng)度通常非常低。
構(gòu)建由二維材料和其他低維材料組成的異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器已被證明是提高器件性能的有效方法之一。特別是,由于二維材料的無懸空鍵表面,可以在不考慮晶格匹配的情況下輕松構(gòu)建范德華異質(zhì)結(jié)(vdWs)。在這方面,硫化鎘(CdS)作為吸引人的光電子學(xué)光敏材料而備受關(guān)注。CdS具有獨(dú)特的特性,包括室溫下2.4eV的直接帶隙、較強(qiáng)的光與物質(zhì)相互作用、以及出色的熱和化學(xué)穩(wěn)定性。此外,CdS還表現(xiàn)出出色的載流子傳輸能力,使光生載流子能夠快速有效地移動(dòng)。因此,結(jié)合各組分的優(yōu)點(diǎn)構(gòu)建由二維MoTe2和CdS納米結(jié)構(gòu)組成的混合結(jié)構(gòu)是高性能光電探測(cè)器的潛在解決方案。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決以上半金屬基的光電探測(cè)器面臨的問題,本發(fā)明的首要目的在于提供一種基于混維Sn-CdS/MoTe2異質(zhì)結(jié)的光電探測(cè)器。采用Sn摻雜CdS納米線與二維MoTe2構(gòu)建的混維異質(zhì)結(jié),以解決單一材料存在的偏壓下較大的暗電流(10-7~10-6A)、光吸收較差和光電導(dǎo)增益較小等問題,實(shí)現(xiàn)了高響應(yīng)度(400~600mA/W),高探測(cè)率(1012~1013Jones)、寬譜快速(8~15ms)的光響應(yīng)。
本發(fā)明的另一目的在于提供上述基于混維Sn-CdS/MoTe2異質(zhì)結(jié)的光電探測(cè)器的制備方法。
本發(fā)明的再一目的在于提供上述基于混維Sn-CdS/MoTe2異質(zhì)結(jié)的光電探測(cè)器的應(yīng)用。
本發(fā)明的目的通過下述技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn):
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
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