[發明專利]一種槍瞄設備十字分劃校準方法及相關裝置

在審

• 申請號: 202111492910.2
• 申請日: 2021-12-08
• 公開（公告）號: CN114166065A
• 公開（公告）日: 2022-03-11
• 發明（設計）人: 趙同林
• 申請（專利權）人: 合肥英睿系統技術有限公司
• 主分類號: F41G1/16
• 分類號: F41G1/16;F41G1/54
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 郎彥澤

本發明公開了一種槍瞄設備十字分劃校準方法，包括：獲取原始圖像；根據原始圖像的尺寸生成一測試圖像；測試圖像中設置有測量點，測量點在測試圖像中的位置，與原始圖像中十字分劃標志點的位置相對應；對原始圖像進行放大處理，并對測試圖像進行同樣的放大處理；根據放大后測試圖像中多個測量點確定實際測量點；將實際測量點的位置與放大后原始圖像中十字分劃標志點的位置做對比，確定偏移量；根據偏移量對放大后原始圖像中十字分劃的位置進行校準。通過設置單獨的測試圖像，采用兩路放大的方式實時的比較放大過程中十字分劃的偏移量，從而可以實現自動對十字分劃進行校準。本發明還提供了一種裝置、設備及存儲介質，同樣具有上述有益效果。

技術領域

本發明涉及槍瞄類設備技術領域，特別是涉及一種槍瞄設備十字分劃校準方法、一種槍瞄設備十字分劃校準裝置、一種槍瞄設備十字分劃校準設備以及一種計算機可讀存儲介質。

背景技術

目前使用的槍瞄類設備存在十字分劃，用于確定設計的目標，但是在使用的過程中為了能夠更好的觀察目標需要采取變倍，而變倍采取的大多是電子變倍，這樣不僅可以滿足效果，同時成本比較低廉，但是采取電子變倍也帶來了一個嚴重的問題，那就是電子變倍采取的是像素之間的插值，是根據鄰近的像素確定放大后的像素值，這時候本來十字分劃對準的目標經過放大后出現了偏移，導致在射擊過程中需要重新校準，操作麻煩不利于用戶使用。所以如何提供一種對十字分劃進行校準的技術方案是本領域技術人員急需解決的問題。

發明內容

本發明的目的是提供一種槍瞄設備十字分劃校準方法，可以對十字分劃進行校準；本發明的另一目的在于提供一種槍瞄設備十字分劃校準裝置、一種槍瞄設備十字分劃校準設備以及一種計算機可讀存儲介質，可以對十字分劃進行校準。

為解決上述技術問題，本發明提供一種槍瞄設備十字分劃校準方法，包括：

獲取原始圖像；

根據所述原始圖像的尺寸生成一測試圖像；所述測試圖像中設置有測量點，所述測量點在所述測試圖像中的位置，與所述原始圖像中十字分劃標志點的位置相對應；

對所述原始圖像進行放大處理，并對所述測試圖像進行同樣的放大處理；

根據放大后所述測試圖像中多個測量點確定實際測量點；

將所述實際測量點的位置與放大后所述原始圖像中十字分劃標志點的位置做對比，確定偏移量；

根據所述偏移量對放大后所述原始圖像中十字分劃的位置進行校準。

可選的，所述對所述原始圖像進行放大處理，并對所述測試圖像進行同樣的放大處理包括：

基于插值法對所述原始圖像進行放大處理，并基于插值法對所述測試圖像進行同樣的放大處理。

可選的，在放大前，所述測試圖像中測量點位置的灰度值為第一灰度值，所述測試圖像中非測量點位置的灰度值為第二灰度值。

可選的，所述第一灰度值為255，所述第二灰度值為0。

可選的，所述根據放大后所述測試圖像中多個測量點確定實際測量點包括：

從放大后所述測試圖像中的多個測量點，選取灰度值等于所述第一灰度值的測量點作為實際測量點。

可選的，所述根據放大后所述測試圖像中多個測量點確定實際測量點包括：

計算放大后所述測試圖像中的多個測量點位置的中值點，作為實際測量點。

可選的，所述插值法為雙線性插值、或雙三次插值、或樣條插值。

本發明還提供了一種槍瞄設備十字分劃校準裝置，包括：

獲取模塊，用于獲取原始圖像；