[發明專利]一種槍瞄設備十字分劃校準方法及相關裝置

在審

• 申請號: 202111492910.2
• 申請日: 2021-12-08
• 公開（公告）號: CN114166065A
• 公開（公告）日: 2022-03-11
• 發明（設計）人: 趙同林
• 申請（專利權）人: 合肥英睿系統技術有限公司
• 主分類號: F41G1/16
• 分類號: F41G1/16;F41G1/54
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 郎彥澤

1.一種槍瞄設備十字分劃校準方法，其特征在于，包括：

獲取原始圖像；

根據所述原始圖像的尺寸生成一測試圖像；所述測試圖像中設置有測量點，所述測量點在所述測試圖像中的位置，與所述原始圖像中十字分劃標志點的位置相對應；

對所述原始圖像進行放大處理，并對所述測試圖像進行同樣的放大處理；

根據放大后所述測試圖像中多個測量點確定實際測量點；

將所述實際測量點的位置與放大后所述原始圖像中十字分劃標志點的位置做對比，確定偏移量；

根據所述偏移量對放大后所述原始圖像中十字分劃的位置進行校準。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述原始圖像進行放大處理，并對所述測試圖像進行同樣的放大處理包括：

基于插值法對所述原始圖像進行放大處理，并基于插值法對所述測試圖像進行同樣的放大處理。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在放大前，所述測試圖像中測量點位置的灰度值為第一灰度值，所述測試圖像中非測量點位置的灰度值為第二灰度值。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一灰度值為255，所述第二灰度值為0。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據放大后所述測試圖像中多個測量點確定實際測量點包括：

從放大后所述測試圖像中的多個測量點，選取灰度值等于所述第一灰度值的測量點作為實際測量點。

6.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據放大后所述測試圖像中多個測量點確定實際測量點包括：

計算放大后所述測試圖像中的多個測量點位置的中值點，作為實際測量點。

7.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述插值法為雙線性插值、雙三次插值或樣條插值。

8.一種槍瞄設備十字分劃校準裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取原始圖像；

生成模塊，用于根據所述原始圖像的尺寸生成一測試圖像；所述測試圖像中設置有測量點，所述測量點在所述測試圖像中的位置，與所述原始圖像中十字分劃標志點的位置相對應；

放大模塊，用于對所述原始圖像進行放大處理，并對所述測試圖像進行同樣的放大處理；

確定模塊，用于根據放大后所述測試圖像中多個測量點確定實際測量點；

偏移量模塊，用于將所述實際測量點的位置與放大后所述原始圖像中十字分劃標志點的位置做對比，確定偏移量；

校準模塊，用于根據所述偏移量對放大后所述原始圖像中十字分劃的位置進行校準。

9.一種槍瞄設備十字分劃校準設備，其特征在于，包括：

存儲器，用于存儲計算機程序；

處理器，用于執行所述計算機程序以實現如權利要求1至7任意一項所述槍瞄設備十字分劃校準方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質中存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行以實現如權利要求1至7任意一項所述槍瞄設備十字分劃校準方法的步驟。