[發明專利]一種ZMD31050芯片的調試方法和批量調試系統

有效

• 申請號: 202111488861.5
• 申請日: 2021-12-07
• 公開（公告）號: CN114265376B
• 公開（公告）日: 2023-09-01
• 發明（設計）人: 金玉軒;何宇;劉松;謝鋒;陸運章
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十八研究所
• 主分類號: G05B19/418
• 分類號: G05B19/418
• 代理公司: 湖南兆弘專利事務所(普通合伙) 43008
• 代理人: 廖元寶

本發明公開了一種ZMD31050芯片的調試方法和批量調試系統，此方法包括步驟：首先使得ZMD31050芯片進入CM工作模式，采集ZMD31050芯片的端口2#在不同溫度環境下的數字自動零補償值；將上述不同溫度環境下的數字自動零補償值與不同點壓力信號采集值系數作為動態鏈接庫函數的輸入，得到用于計算校準公式的系數；根據上述用于計算校準公式的系數與相關指令，得到當前被調試芯片的校驗位；將用于計算校準公式的系數、校驗位與相關發送指令來更新ZMD31050芯片的RAM中配置，使得ZMD31050芯片在NOM模式下的電壓輸出值發生改變，從而對ZMD31050芯片進行調試。本發明具有自動化程度高、批量調試且調試效率和精度高等優點。

技術領域

本發明主要涉及芯片調試技術領域，具體涉及一種ZMD31050芯片的調試方法和批量調試系統。

背景技術

近年來，隨著電子技術和信息技術的飛速發展，各類傳感器已經深入到科研和工程技術的各個領域中。因此選擇高性能、具有數字接口的信號調理器，將傳感器信號轉化為數字信號進行傳輸顯示，解決工控現場干擾的影響，顯得尤為關鍵。而ZMD31050是一款高集成、高精度橋式傳感器信號處理控制電路，能夠將傳感器信號轉變為數字信號進行輸出，且外圍電路簡單，具有能耗低，安全可靠等特點。ZMD31050芯片常用于高性能數字傳感器產品開發，包括汽車傳感器、工業用傳感器和普通傳感器等，該芯片是高精度放大和傳感校準特性的橋式傳感和溫度傳感信號的控制電路。特別適合用于壓力、扭矩、轉矩、加速度、角度、位移和旋轉傳感器中，已廣泛設計用于工業、醫療和民用消費領域。

ZMD31050芯片想要輸出精確的信號則需要對其進行精確調試，當前的調試方法是利用ZMD公司自帶的ZMD31050調試軟件人工完成調試。這個調試方法的缺點是：

1、調試結果不精確：ZMD31050芯片的人工調試過程中需要人為計算，而精確的計算過程相對于人工極其復雜，因此人工調試只是根據人為經驗進行粗略的計算過程。這導致ZMD31050芯片調試的結果往往只在正常范圍的邊緣，甚至當芯片性能較差時會出現調試結果不在正常范圍的情況；

2、無法完成大批量調試：人工調試過程繁瑣復雜，并且在調試過程中需要一對一的人為計算，導致人工進行大批量芯片調試十分困難；

3、調試過程效率低：調試過程需要大量的人工參與，導致ZMD31050芯片調試過程只能在工作時間內執行，不能實現無人操作且24小時都能進行調試。

造成上述缺點的原因是沒有越過ZMD公司提供的調試軟件，使用上位機軟件直接對ZMD31050芯片進行調試。而ZMD31050芯片的通信協議復雜并且調試過程中涉及的計算算法也很復雜，這導致使用上位機軟件直接與ZMD31050芯片進行調試的方法很難實現。故只有設計出上位機軟件直接對ZMD31050芯片進行調試的方法，才能根據上述方法設計出ZMD31050芯片自動調試系統，實現ZMD31050芯片自動化、大批量和更加精確的調試。

發明內容

本發明要解決的技術問題就在于：針對現有技術存在的技術問題，本發明提供一種調試效率高、調試精確的ZMD31050芯片的調試方法和批量調試系統。

為解決上述技術問題，本發明提出的技術方案為：

一種ZMD31050芯片的調試方法，包括步驟：

首先使得ZMD31050芯片進入CM工作模式，采集ZMD31050芯片的端口2#在不同溫度環境下的數字自動零補償值；

將上述不同溫度環境下的數字自動零補償值與不同點壓力信號采集值系數作為動態鏈接庫函數的輸入，得到用于計算校準公式的系數；

根據上述用于計算校準公式的系數與相關指令，得到當前被調試芯片的校驗位；