[發明專利]基于ATE設備芯片測試的加速方法、裝置及測試機系統

有效

• 申請號: 202111471138.6
• 申請日: 2021-12-03
• 公開（公告）號: CN114356820B
• 公開（公告）日: 2023-07-14
• 發明（設計）人: 鄔剛;凌云
• 申請（專利權）人: 杭州加速科技有限公司
• 主分類號: G06F13/40
• 分類號: G06F13/40;G01R31/28
• 代理公司: 深圳智趣知識產權代理事務所(普通合伙) 44486
• 代理人: 李興生

本發明提出了一種基于ATE設備芯片測試的加速方法、裝置及測試機系統。加速方法包括：選定引腳電路芯片并進行配置；引腳電路芯片采集待測芯片反饋的測試數據；在預設時間間隔，每塊業務板上的FPGA并行讀取該業務板上所有引腳電路芯片中的測試數據，并將讀取的測試數據存儲在FPGA中；測試程序通過讀取每塊業務板上FPGA中存儲的數據，獲取該業務板上所有引腳電路芯片的測試數據；測試程序分析測試數據，完成對待測試芯片的測試。本發明提出的方案通過減少ATE設備在芯片測試過程中測試程序對引腳電路芯片的訪問次數，進而減少對芯片的配置時間和讀取時間，縮短芯片測試時間，提高芯片測試效率，且無須做硬件上的調整，只需對業務板上的FPGA進行進行設計升級。

技術領域

本發明涉及集成電路測試領域，特別涉及一種基于ATE設備芯片測試的加速方法、裝置及測試機系統。

背景技術

ATE(Automatic?Test?Equipment)是自動測試設備，它是一種由高性能計算機控制的測試儀器的集合體，是由測試儀和計算機組合而成的測試系統，計算機通過運行測試程序的指令來控制測試硬件。半導體芯片測試機用于檢測集成電路的功能和性能的完整性，是集成電路生產制造流程中確保集成電路品質的重要設備。測試系統最基本的要求是自身保證測試功能的快速性、可靠性和穩定性。其中快速性尤為重要，如何提升芯片的測試速度是半導體測試機行業的共同課題。

現有技術中，ATE系統在芯片測試過程中，芯片測試程序會使用多塊業務板協同工作，通過頻繁訪問業務板中多個PE(Pin?Electronics)芯片上的寄存器，并讀取相關數據，獲取相關的測試數據，通過分析對比相關測試數據判斷芯片是否測試通過。重復上述過程進行下一顆芯片的測試。傳統的芯片測試方案，測試時間長，測試效率低，需要花費大量的時間成本。

由此，需要有一種更好的方案來提升芯片的測試速度。

發明內容

有鑒于此，本發明提出了一種基于ATE設備芯片測試的加速方法、裝置及測試機系統，具體方案如下：

一種基于ATE設備芯片測試的加速方法，應用于ATE設備中，所述ATE設備包括主控板、背板和業務板，所述主控板通過所述背板與多個所述業務板建立通信連接，所述主控板上配置有測試程序，每個所述業務板上配置有FPGA和多個引腳電路芯片；

所述加速方法包括如下：

選定每塊業務板上待配置的引腳電路芯片，所述FPGA根據所述測試程序的指令同時對多個所述引腳電路芯片進行配置；

所述引腳電路芯片采集待測芯片反饋的測試數據；

在預設時間間隔，每塊業務板上的FPGA并行讀取該業務板上所有引腳電路芯片中的測試數據，并將讀取的測試數據存儲在所述FPGA中；

所述測試程序通過讀取每塊業務板上FPGA中存儲的數據，獲取該業務板上所有引腳電路芯片的測試數據；

所述測試程序分析所述測試數據，完成對待測試芯片的測試。

在一個具體實施例中，“選定每塊業務板上待配置的引腳電路芯片，所述FPGA根據所述測試程序的指令同時對多個所述引腳電路芯片進行配置”具體包括：

每塊業務板上的FPGA設置有PE選擇寄存器、PE配置寄存器和PE接口；

所述測試程序通過每塊業務板上的PE選擇寄存器選擇該業務板上待配置的引腳電路芯片；

通過每塊業務板上的PE配置寄存器，對該業務板上被PE選擇寄存器所選擇的引腳電路芯片進行配置；

每塊業務板上的PE接口負責接收所述測試程序發送的關于配置PE芯片的指令，使所述PE配置寄存器并行完成相應引腳電路芯片的配置。