[發(fā)明專利]一種基于雜峰扣除提高SERS信號(hào)有效信息率的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111440604.4 | 申請(qǐng)日: | 2021-11-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114354566A | 公開(公告)日: | 2022-04-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊良保;李偉;林東岳;董榮錄 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 安徽中科賽飛爾科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/65 | 分類號(hào): | G01N21/65;G06K9/00 |
| 代理公司: | 合肥金律專利代理事務(wù)所(普通合伙) 34184 | 代理人: | 黃樂(lè)瑜 |
| 地址: | 230000 安徽省合肥市高新區(qū)習(xí)友路2666號(hào)中科*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 扣除 提高 sers 信號(hào) 有效 信息率 方法 | ||
1.一種基于雜峰扣除提高SERS信號(hào)有效信息率的方法,其特征在于,包括:
S1:獲取增強(qiáng)基底中預(yù)設(shè)點(diǎn)的SERS信號(hào)f1;
S2:獲取加入待檢測(cè)物提取液后所述增強(qiáng)基底中所述預(yù)設(shè)點(diǎn)的SERS信號(hào)f2;
S3:對(duì)SERS信號(hào)f1、SERS信號(hào)f2進(jìn)行預(yù)處理;
S4:基于偏導(dǎo)型小波變換-求導(dǎo)校位法求解SERS信號(hào)f1和SERS信號(hào)f2的相同峰位;
S5:基于小波變換型HQI算法計(jì)算SERS信號(hào)f1和SERS信號(hào)f2的相同峰位的波形相似度,判斷SERS信號(hào)f1和SERS信號(hào)f2的相同峰位是否為同一特征峰;
S6:基于共軛梯度型高斯法去除SERS信號(hào)f2中與SERS信號(hào)f1相同峰位是同一特征峰的峰后獲得待檢測(cè)物的SERS信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雜峰扣除提高SERS信號(hào)有效信息率的方法,其特征在于,所述增強(qiáng)基底為金納米棒的增強(qiáng)基底。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雜峰扣除提高SERS信號(hào)有效信息率的方法,其特征在于,所述步驟S3中預(yù)處理具體包括濾噪處理和基線校正處理。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雜峰扣除提高SERS信號(hào)有效信息率的方法,其特征在于,所述步驟S4所述偏導(dǎo)型小波變換-求導(dǎo)校位法具體為:
若|X1-X2|≤4,則認(rèn)定為相同峰位;
其中,f1為SERS信號(hào)f1,f2為SERS信號(hào)f2;參數(shù)α與τ分別為尺度函數(shù)與橫軸滑動(dòng)距離。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雜峰扣除提高SERS信號(hào)有效信息率的方法,其特征在于,所述步驟S5具體包括:
S501:基于小波變換型HQI算法計(jì)算SERS信號(hào)f1和SERS信號(hào)f2的相同峰位的波形相似度R:
其中,n=min{T2(f1),T2(f2)}-min{T1(f1),T1(f2)};
其中,參數(shù)α與τ分別為尺度函數(shù)與橫軸滑動(dòng)距離;
S502:若R大于預(yù)設(shè)閾值,則判斷為SERS信號(hào)f1和SERS信號(hào)f2的相同峰位是同一特征峰;若R小于預(yù)設(shè)閾值,則判斷為SERS信號(hào)f1和SERS信號(hào)f2的相同峰位不是同一特征峰。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雜峰扣除提高SERS信號(hào)有效信息率的方法,其特征在于,所述步驟S6具體包括:
S601:基于共軛梯度型高斯法將SERS信號(hào)f2中的重疊峰進(jìn)行微失真分離;
S602:去除分離峰中與SERS信號(hào)f1相同峰位處是同一特征峰的鋒;
S603:將剩余的分離峰進(jìn)行合并獲得待檢測(cè)物的SERS信號(hào)。
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G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
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