[發(fā)明專利]一種盆式絕緣子表面狀態(tài)的檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111439485.0 | 申請(qǐng)日: | 2021-11-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114234896A | 公開(公告)日: | 2022-03-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 高超;周福升;楊蕓;黃若棟;熊佳明;王國(guó)利;姚聰偉;龐小峰;宋坤宇;王增彬;趙曉鳳 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南方電網(wǎng)科學(xué)研究院有限責(zé)任公司;廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院 |
| 主分類號(hào): | G01B21/30 | 分類號(hào): | G01B21/30;G01D21/02;G01N21/94 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 麥小嬋 |
| 地址: | 510000 廣東省廣州市蘿崗區(qū)科*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 絕緣子 表面 狀態(tài) 檢測(cè) 裝置 方法 | ||
1.一種盆式絕緣子表面狀態(tài)的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述裝置包括第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)、第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)、第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)和檢測(cè)單元;
所述第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)動(dòng)連接,所述第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)滑動(dòng)連接,所述第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述檢測(cè)單元滑動(dòng)連接;
所述第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)用于控制所述檢測(cè)單元在待檢測(cè)的盆式絕緣子上周向運(yùn)動(dòng);
所述第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)用于控制所述檢測(cè)單元在所述盆式絕緣子上徑向運(yùn)動(dòng);
所述第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)用于控制所述檢測(cè)單元在所述盆式絕緣子上軸向運(yùn)動(dòng);
所述檢測(cè)單元用于檢測(cè)所述盆式絕緣子的表面狀態(tài)。
2.如權(quán)利要求1所述的盆式絕緣子表面狀態(tài)的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述檢測(cè)單元包括輔助電機(jī)和檢測(cè)探頭;
所述輔助電機(jī)用于控制所述檢測(cè)探頭的傾角,以控制所述檢測(cè)探頭與所述盆式絕緣子的接觸角度,其中,所述檢測(cè)探頭包括表面粗糙度檢測(cè)探頭和潔凈度檢測(cè)探頭。
3.如權(quán)利要求1所述的盆式絕緣子表面狀態(tài)的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)包括第一電機(jī)和旋轉(zhuǎn)軸;
所述第一電機(jī)固定在所述檢測(cè)裝置的底座支架上,所述第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述旋轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)連接;
所述第一電機(jī)控制所述旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn),以使所述第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)繞所述旋轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)。
4.如權(quán)利要求1所述的盆式絕緣子表面狀態(tài)的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)包括第二支架、第二絲桿和第二電機(jī);
所述第二支架的第一端與所述第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)連接,所述第二電機(jī)安裝在所述第二支架的第二端,所述第二絲桿安裝在所述第二支架的第一端到第二端之間,所述第二絲桿的絲桿螺母與所述第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)連接;
所述第二電機(jī)通過(guò)控制所述第二絲桿旋轉(zhuǎn),以使所述第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)沿所述第二絲桿方向滑動(dòng)。
5.如權(quán)利要求1所述的盆式絕緣子表面狀態(tài)的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)包括L型支架、第三支架、第三絲桿和第三電機(jī);
所述L型支架的第一條邊與所述第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的第二絲桿的絲桿螺母固定連接,所述L型支架的第二條邊與所述第三支架的第一端連接;
所述第三電機(jī)安裝在所述第三支架的第一端;
所述第三絲桿安裝在所述第三支架的第一端和第二端之間,所述檢測(cè)單元安裝在所述第三絲桿的絲桿螺母上;
所述第三絲桿所在直線的方向與所述第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)軸所在直線的方向相同;
所述第三電機(jī)通過(guò)控制所述第三絲桿旋轉(zhuǎn),以使所述探頭沿所述第三絲桿方向滑動(dòng)。
6.一種盆式絕緣子表面狀態(tài)的檢測(cè)方法,適用于如權(quán)利要求1~5中任一所述的盆式絕緣子表面狀態(tài)的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述方法包括:
將待檢測(cè)的盆式絕緣子固定在所述檢測(cè)裝置的預(yù)設(shè)位置,獲取所述盆式絕緣子的結(jié)構(gòu)參數(shù)以及所述盆式絕緣子與所述檢測(cè)單元的相對(duì)位置;
根據(jù)所述結(jié)構(gòu)參數(shù)建立檢測(cè)結(jié)構(gòu)模型,并通過(guò)網(wǎng)格剖分法在所述檢測(cè)結(jié)構(gòu)模型上確定所有待檢測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo);
根據(jù)所述相對(duì)位置、所有待檢測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)、和三個(gè)傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的參數(shù)計(jì)算遍歷所有待檢測(cè)點(diǎn)的運(yùn)動(dòng)軌跡程序;
根據(jù)計(jì)算的運(yùn)動(dòng)軌跡程序控制三個(gè)傳動(dòng)機(jī)構(gòu)運(yùn)動(dòng),以使所述檢測(cè)單元依次運(yùn)動(dòng)到每一個(gè)待檢測(cè)點(diǎn)的位置,控制所述檢測(cè)單元依次獲取每一待檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
7.如權(quán)利要求6所述的一種盆式絕緣子表面狀態(tài)的檢測(cè)方法,其特征在于,所述方法還包括:
依次將獲取的每一待檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)庫(kù)中的閾值數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比,獲得每一待檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)結(jié)果;
根據(jù)獲得的檢測(cè)結(jié)果將所有的待檢測(cè)點(diǎn)分為合格點(diǎn)集和不合格點(diǎn)集;
建立所述盆式絕緣子的結(jié)構(gòu)云圖,并在所述結(jié)構(gòu)云圖中分別標(biāo)注合格點(diǎn)集合中的合格點(diǎn),和不合格點(diǎn)集中的不合格點(diǎn)。
8.如權(quán)利要求7所述的一種盆式絕緣子表面狀態(tài)的檢測(cè)方法,其特征在于,所述檢測(cè)數(shù)據(jù)包括粗糙度數(shù)據(jù)和潔凈度數(shù)據(jù)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于南方電網(wǎng)科學(xué)研究院有限責(zé)任公司;廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院,未經(jīng)南方電網(wǎng)科學(xué)研究院有限責(zé)任公司;廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202111439485.0/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
- 狀態(tài)檢測(cè)裝置及狀態(tài)檢測(cè)方法
- 狀態(tài)估計(jì)裝置以及狀態(tài)估計(jì)方法
- 經(jīng)由次級(jí)狀態(tài)推斷管理狀態(tài)
- 狀態(tài)估計(jì)裝置及狀態(tài)估計(jì)方法
- 狀態(tài)估計(jì)裝置、狀態(tài)估計(jì)方法
- 狀態(tài)預(yù)測(cè)裝置以及狀態(tài)預(yù)測(cè)方法
- 狀態(tài)推定裝置、狀態(tài)推定方法和狀態(tài)推定程序
- 狀態(tài)檢測(cè)系統(tǒng)及狀態(tài)檢測(cè)方法
- 狀態(tài)判定裝置、狀態(tài)判定方法以及狀態(tài)判定程序
- 狀態(tài)判斷裝置以及狀態(tài)判斷方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





