[發明專利]一種紅外測溫方法、系統、設備及計算機可讀存儲介質有效
| 申請號: | 202111435962.6 | 申請日: | 2021-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN114136461B | 公開(公告)日: | 2023-07-14 |
| 發明(設計)人: | 邱浩楠;王祥輝;齊亞魯 | 申請(專利權)人: | 煙臺艾睿光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G01J5/53 | 分類號: | G01J5/53 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 張鳳偉 |
| 地址: | 264006 山東*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 紅外 測溫 方法 系統 設備 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
本申請公開了一種紅外測溫方法,該紅外測溫方法將數據采集處理過程中的目標測溫距離劃分為兩部分,第一部分為近距離,即可以直接采集到目標黑體的標定數據的距離區間,第二部分為遠距離,即超出能夠直接采集目標黑體的標定數據但仍有測溫需求的距離,進而采用兩段式距離補償標定方法,實現了使用常規黑體源進行距離補償標定,對應得到的距離補償參數適用于遠大于實際標定距離的遠距離大目標的紅外測溫距離補償,該種實現方式對紅外測溫產品的工業應用場景實用性具有極大提高,大大擴展了紅外測溫產品的使用范圍,降低了工業場景使用時的環境要求。本申請還公開了一種紅外測溫系統、設備及計算機可讀存儲介質,均具有上述有益效果。
技術領域
本申請涉及溫度測量技術領域,特別涉及一種紅外測溫方法,還涉及一種紅外測溫系統、設備以及計算機可讀存儲介質。
背景技術
在現有工業紅外成像測溫產品生產過程中,標定溫度使用的黑體大多直徑小于200mm,在進行遠距離距離補償標定時,若黑體距離紅外成像測溫產品超過20m,那么視場中的黑體面往往小于1像元點,基本無法正常成像,更無法準確顯示溫度以進行測溫,因此,工業應用場景中常見遠距離(20米以上)大目標的測溫場景,此距離尺度下無法使用黑體采集距離補償標定所需的溫度數據。
因此,如何實現中遠距離的紅外測溫精度校正,以有效擴展紅外測溫產品的使用范圍,降低工業場景使用時的環境需求是本領域技術人員亟待解決的問題。
發明內容
本申請的目的是提供一種紅外測溫方法,該紅外測溫方法可以實現中遠距離的紅外測溫精度校正,有效地擴展了紅外測溫產品的使用范圍,降低了工業場景使用時的環境需求;本申請的另一目的是提供一種紅外測溫系統、設備以及計算機可讀存儲介質,均具有上述有益效果。
第一方面,本申請提供了一種紅外測溫方法,包括:
確定目標測溫距離,并對所述目標測溫距離進行等距離標定,獲得各標定點以及對應的標定點距離;
當所述目標測溫距離超出黑體標定距離時,在所述黑體標定距離內的各標定點處對各目標黑體進行溫度測量,獲得所述黑體標定距離內的實際溫度;
根據各所述實際溫度和各所述目標黑體的標定溫度計算獲得所述黑體標定距離內的第一距離衰減系數;
對各所述第一距離衰減系數與對應的各標定點距離進行函數擬合,獲得所述目標測溫距離內的第二距離衰減系數;
根據各所述第二距離衰減系數計算獲得所述目標測溫距離內的擬合溫度;
將各所述擬合溫度與對應的各所述目標黑體的標定溫度進行函數擬合,獲得距離補償參數;
利用所述距離補償參數對所述目標測溫距離內的測量溫度進行精度校正,獲得實際測量溫度。
優選的,所述根據各所述實際溫度和各所述目標黑體的標定溫度計算獲得所述黑體標定距離內的第一距離衰減系數,包括:
利用第一公式計算獲得所述第一距離衰減系數,所述第一公式為:
其中,
其中,V'表示所述第一距離衰減系數;Lb表示普朗克黑體輻射定律;λ表示波長;Tb表示背景溫度;T0表示所述目標黑體的標定溫度;T1表示所述實際溫度;c和c2為常量。
優選的,所述根據各所述第二距離衰減系數計算獲得所述目標測溫距離內的擬合溫度,包括:
利用所述第一公式的反函數對各所述第二距離衰減系數進行計算,獲得各所述擬合溫度。
優選的,所述將各所述擬合溫度與對應的各所述目標黑體的標定溫度進行函數擬合,獲得各距離補償參數,包括:
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