[發明專利]一種紅外測溫方法、系統、設備及計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202111435962.6
• 申請日: 2021-11-29
• 公開（公告）號: CN114136461B
• 公開（公告）日: 2023-07-14
• 發明（設計）人: 邱浩楠;王祥輝;齊亞魯
• 申請（專利權）人: 煙臺艾睿光電科技有限公司
• 主分類號: G01J5/53
• 分類號: G01J5/53
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張鳳偉

1.一種紅外測溫方法，其特征在于，包括：

確定目標測溫距離，并對所述目標測溫距離進行等距離標定，獲得各標定點以及對應的標定點距離；

當所述目標測溫距離超出黑體標定距離時，在所述黑體標定距離內的各標定點處對各目標黑體進行溫度測量，獲得所述黑體標定距離內的實際溫度；

根據各所述實際溫度和各所述目標黑體的標定溫度計算獲得所述黑體標定距離內的第一距離衰減系數；

對各所述第一距離衰減系數與對應的各標定點距離進行函數擬合，獲得所述目標測溫距離內的第二距離衰減系數；

根據各所述第二距離衰減系數計算獲得所述目標測溫距離內的擬合溫度；

將各所述擬合溫度與對應的各所述目標黑體的標定溫度進行函數擬合，獲得距離補償參數；

利用所述距離補償參數對所述目標測溫距離內的測量溫度進行精度校正，獲得實際測量溫度。

2.根據權利要求1所述的紅外測溫方法，其特征在于，所述根據各所述實際溫度和各所述目標黑體的標定溫度計算獲得所述黑體標定距離內的第一距離衰減系數，包括：

利用第一公式計算獲得所述第一距離衰減系數，所述第一公式為：

其中，

其中，V'表示所述第一距離衰減系數；L_b表示普朗克黑體輻射定律；λ表示波長；T_b表示背景溫度；T₀表示所述目標黑體的標定溫度；T₁表示所述實際溫度；c和c₂為常量。

3.根據權利要求2所述的紅外測溫方法，其特征在于，所述根據各所述第二距離衰減系數計算獲得所述目標測溫距離內的擬合溫度，包括：

利用所述第一公式的反函數對各所述第二距離衰減系數進行計算，獲得各所述擬合溫度。

4.根據權利要求1所述的紅外測溫方法，其特征在于，所述將各所述擬合溫度與對應的各所述目標黑體的標定溫度進行函數擬合，獲得距離補償參數，包括：

將各所述擬合溫度與對應各所述目標黑體的標定溫度進行函數擬合，獲得各擬合函數參數；

將各所述擬合函數參數與對應的標定點距離進行函數擬合，獲得所述距離補償參數。

5.根據權利要求1所述的紅外測溫方法，其特征在于，所述利用所述距離補償參數對所述目標測溫距離內的測量溫度進行精度校正，獲得實際測量溫度，包括：

根據所述距離補償參數確定溫度校準公式；

利用所述溫度校準公式對所述目標測溫距離內的測量溫度進行計算，獲得所述實際測量溫度。

6.根據權利要求1所述的紅外測溫方法，其特征在于，還包括：

當所述目標測溫距離未超出黑體標定距離時，利用所述目標黑體的標定溫度對所述目標測溫距離內的測量溫度進行精度校正，獲得實際測量溫度。

7.一種紅外測溫系統，其特征在于，包括：

等距離標定模塊，用于確定目標測溫距離，并對所述目標測溫距離進行等距離標定，獲得各標定點以及對應的標定點距離；

近距離溫度測量模塊，用于當所述目標測溫距離超出黑體標定距離時，在所述黑體標定距離內的各標定點處對各目標黑體進行溫度測量，獲得所述黑體標定距離內的實際溫度；

第一系數計算模塊，用于根據各所述實際溫度和各所述目標黑體的標定溫度計算獲得所述黑體標定距離內的第一距離衰減系數；

第二系數擬合模塊，用于對各所述第一距離衰減系數與對應的各標定點距離進行函數擬合，獲得所述目標測溫距離內的第二距離衰減系數；

遠距離溫度計算模塊，用于根據各所述第二距離衰減系數計算獲得所述目標測溫距離內的擬合溫度；

參數計算模塊，用于將各所述擬合溫度與對應的各所述目標黑體的標定溫度進行函數擬合，獲得距離補償參數；

精度校準模塊，用于利用所述距離補償參數對所述目標測溫距離內的測量溫度進行精度校正，獲得實際測量溫度。