[發明專利]一種ADC采樣方法、系統、終端設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202111416464.7
• 申請日: 2021-11-25
• 公開（公告）號: CN114095023A
• 公開（公告）日: 2022-02-25
• 發明（設計）人: 楊穎
• 申請（專利權）人: 上海矽翊微電子有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10;H03M1/12
• 代理公司: 上海碩力知識產權代理事務所(普通合伙) 31251
• 代理人: 王法男

本發明提供了一種ADC采樣方法、系統、終端設備和存儲介質，其系統包括：ADC采樣模塊，用于啟動ADC采樣并輸出對應的采樣結果；超時監控模塊，用于監測所述ADC采樣模塊的采樣時長，根據所述ADC采樣時長判斷所述ADC采樣模塊是否處于異常狀態；處理模塊，用于根據判斷結果控制所述ADC采樣模塊的采樣狀態。本發明避免ADC采樣進入異常狀態，能夠達到防呆采樣的效果，提升ADC采樣的可靠性。

技術領域

本發明涉及數據處理技術領域，尤指一種ADC采樣方法、系統、終端設備和存儲介質。

背景技術

隨著人們生活水平的提高和現代化生產、辦公自動化的發展，家用電器、工業機器人等設備都越來越趨向于高效率化、小型化。直流無刷電機等作為元器件的重要組成部分，也往普遍化和低成本的方向發展。

現有的MCU或者MPU通常是采用ADC來進行信號采樣，但是，現有的ADC是一個單純的模擬轉數字電路，并未從整體系統上考慮防呆，防止自身誤操作導致的系統無法及時相應的問題，而且現有的ADC沒有自我監控功能，就算ADC采樣異常或出錯，系統也無法快速識別出錯的范圍。

發明內容

本發明的目的是提供一種ADC采樣方法、系統、終端設備和存儲介質，解決了的技術問題。

本發明提供的技術方案如下：

本發明提供一種ADC采樣系統，包括：

ADC采樣模塊，用于啟動ADC采樣并輸出對應的采樣結果；

超時監控模塊，用于監測所述ADC采樣模塊的采樣時長，根據所述ADC采樣時長判斷所述ADC采樣模塊是否處于異常狀態；

處理模塊，用于根據判斷結果控制所述ADC采樣模塊的采樣狀態。

進一步的，所述ADC采樣模塊包括：

系統時鐘電路，用于提供采樣時鐘信號；

ADC采樣電路，用于根據所述采樣時鐘信號，對待測回路進行ADC采樣并輸出采樣結果。

進一步的，所述超時監控模塊包括：

監控參數配置電路，用于獲取所述ADC采樣模塊和所述處理模塊分別輸入的同步配置信息；

獨立時鐘電路，用于在所述ADC采樣模塊啟動ADC采樣的同時，進行計時得到所述采樣時長。

進一步的，所述處理模塊包括：

處理器，用于判斷所述采樣時長是否超過預設時長，在所述采樣時長超過預設時長時，生成并發送控制信號至所述中斷處理電路；

中斷處理電路，用于根據所述控制信號控制所述ADC采樣電路重新進行采樣。

本發明還提供一種ADC采樣防呆實現方法，包括：

啟動ADC采樣并輸出對應的采樣結果；

監測采樣時長；

根據所述ADC采樣時長判斷所述ADC采樣模塊是否處于異常狀態；

根據判斷結果控制所述ADC采樣模塊的采樣狀態。

進一步的，所述啟動ADC采樣并輸出對應的采樣結果包括：

發出采樣時鐘信號；

根據所述采樣時鐘信號，對待測回路進行ADC采樣并輸出采樣結果。

進一步的，所述監測采樣時長包括：

獲取同步配置信息；

在啟動ADC采樣的同時，進行計時得到所述采樣時長。