[發明專利]一種高速自動識別及剔除顆粒物中異色雜質的設備

在審

• 申請號: 202111405026.0
• 申請日: 2021-11-24
• 公開（公告）號: CN114047200A
• 公開（公告）日: 2022-02-15
• 發明（設計）人: 白羽;徐拓
• 申請（專利權）人: 北京中創科儀科技有限公司
• 主分類號: G01N21/892
• 分類號: G01N21/892;G01N21/88;B07C5/02;B07C5/10;B07C5/342;B07C5/36
• 代理公司: 北京盛凡佳華專利代理事務所(普通合伙) 11947
• 代理人: 李沖

本發明公開了一種高速自動識別及剔除顆粒物中異色雜質的設備，包括料斗、物料輸送裝置、線掃描相機、顆粒物、光源、背景板、異色雜質剔除裝置、主料箱、瑕疵料箱、中央處理器，所述料斗的出口位于物料輸送裝置正上方，所述物料輸送裝置下方設有兩組線掃描相機，兩組所述線掃描相機對稱設置，所述線掃描相機下方設有異色雜質剔除裝置，所述異色雜質剔除裝置下方設有主料箱及瑕疵料箱，所述線掃描相機輸出端連接中央處理器輸入端，所述中央處理器輸出端連接異色雜質剔除裝置輸入端。

技術領域

本發明涉及一種設備，具體是指一種高速自動識別及剔除顆粒物中異色雜質的設備。

背景技術

隨著下游廠家對原材料品質的要求越來越高，如化工行業對原料中雜質、污染物比例要求越來越苛刻，前期對這一指標都是通過人工方式進行檢驗計數，人工方式檢測具有耗時長、不同的人或同一人在不同時間對雜質計數的偏差較大，200微米以下雜質極其容易漏檢，后續有了面陣相機單面拍照檢測，提高了200微米以下小雜質的識別率，但是該面陣相機拍照檢測結構上配置單攝像機，粒子背面的雜質會漏檢。并且因目前技術瓶頸面陣攝像機拍照頻率不超過30hz，檢測速度慢。并且面陣相機拍攝的連續照片無法確保運動的被測物毫無遺漏或毫無重復的拍攝，也就無法保證檢測準確率。本發明通過一對對攝的線掃描攝像機拍攝自由下落的顆粒物，顆粒物起始下落點和被拍攝點不變的情況下，所有顆粒物會相同速度通過線掃描攝像機，線掃描相機掃描速度高達70MHz，通過計算顆粒物的下落速度匹配線掃描相機掃描頻率，可以實現不重復不遺漏的高速檢測。

發明內容

本發明要解決的技術問題是克服上述技術的缺陷，提供一種高速自動識別及剔除顆粒物中異色雜質的設備。

為解決上述技術問題，本發明提供的技術方案為一種高速自動識別及剔除顆粒物中異色雜質的設備，包括料斗、物料輸送裝置、線掃描相機、顆粒物、光源、背景板、異色雜質剔除裝置、主料箱、瑕疵料箱、中央處理器，所述料斗的出口位于物料輸送裝置正上方，所述物料輸送裝置下方設有兩組線掃描相機，兩組所述線掃描相機對稱設置，所述線掃描相機下方設有異色雜質剔除裝置，所述異色雜質剔除裝置下方設有主料箱及瑕疵料箱，所述線掃描相機輸出端連接中央處理器輸入端，所述中央處理器輸出端連接異色雜質剔除裝置輸入端。

作為改進，所述料斗用于儲放顆粒物。

作為改進，兩組所述線掃描相機分別設有光源及背景板。

作為改進，所述主料箱用于儲放正常顆粒物，所述瑕疵料箱用于儲放異色雜質。

作為改進，所述物料輸送裝置為振動式輸送裝置。

作為改進，所述異色雜質剔除裝置為噴氣式剔除裝置，所述異色雜質剔除裝置設有不少于三個噴氣口，所述噴氣口呈同一水平面設置，且噴氣口出氣方向朝向顆粒物下落通道。

作為改進，所述中央處理器包括IO模塊，所述IO模塊用于控制物料輸送裝置的輸送功率及光源的亮度。

本發明與現有技術相比的優點在于：本發明結構設計合理，采用對稱設置的兩組線掃描相機可以對粒子正反面同時檢測，確保整個粒子的表面都被檢測到，避免遺漏，并且每個粒子的圖片都是唯一的，不會有同一目標重復的圖片，從原理上避免了同一缺陷重復計數的可能，所述中央處理器對圖片中每個像素點R、G、B值進行分析并與預設的檢測方法中的R、G、B范圍進行比對，識別出缺陷邊界，并對缺陷的大小、形狀、顏色進行計算和分類，同時向異色雜質剔除裝置輸出指令，根據異色雜質坐標進行準確剔除，使得本發明能夠高效、準確的對顆粒狀物料中的雜質進行檢測，并能根據雜質的尺寸、顏色、形狀信息對雜質進行分類統計。

附圖說明

圖1是本發明一種高速自動識別及剔除顆粒物中異色雜質的設備的結構示意圖；

圖2是本發明一種高速自動識別及剔除顆粒物中異色雜質的設備的原理及流程示意圖。