[發(fā)明專利]一種高速自動識別及剔除顆粒物中異色雜質(zhì)的設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111405026.0 | 申請日: | 2021-11-24 |
| 公開(公告)號: | CN114047200A | 公開(公告)日: | 2022-02-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 白羽;徐拓 | 申請(專利權(quán))人: | 北京中創(chuàng)科儀科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/892 | 分類號: | G01N21/892;G01N21/88;B07C5/02;B07C5/10;B07C5/342;B07C5/36 |
| 代理公司: | 北京盛凡佳華專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11947 | 代理人: | 李沖 |
| 地址: | 102209 北京市昌平區(qū)北七*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 高速 自動識別 剔除 顆粒 物中異色 雜質(zhì) 設(shè)備 | ||
1.一種高速自動識別及剔除顆粒物中異色雜質(zhì)的設(shè)備,其特征在于,包括料斗(1)、物料輸送裝置(2)、線掃描相機(jī)(3)、顆粒物(4)、光源(5)、背景板(6)、異色雜質(zhì)剔除裝置(7)、主料箱(8)、瑕疵料箱(9)、中央處理器,所述料斗(1)的出口位于物料輸送裝置(2)正上方,所述物料輸送裝置(2)下方設(shè)有兩組線掃描相機(jī)(3),兩組所述線掃描相機(jī)(3)對稱設(shè)置,所述線掃描相機(jī)(3)下方設(shè)有異色雜質(zhì)剔除裝置(7),所述異色雜質(zhì)剔除裝置(7)下方設(shè)有主料箱(8)及瑕疵料箱(9),所述線掃描相機(jī)(3)輸出端連接中央處理器輸入端,所述中央處理器輸出端連接異色雜質(zhì)剔除裝置(7)輸入端。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高速自動識別及剔除顆粒物中異色雜質(zhì)的設(shè)備,其特征在于,所述料斗(1)用于儲放顆粒物(4)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高速自動識別及剔除顆粒物中異色雜質(zhì)的設(shè)備,其特征在于,兩組所述線掃描相機(jī)(3)分別設(shè)有光源(5)及背景板(6)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高速自動識別及剔除顆粒物中異色雜質(zhì)的設(shè)備,其特征在于,所述主料箱(8)用于儲放正常顆粒物,所述瑕疵料箱(9)用于儲放異色雜質(zhì)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高速自動識別及剔除顆粒物中異色雜質(zhì)的設(shè)備,其特征在于,所述物料輸送裝置(2)為振動式輸送裝置。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高速自動識別及剔除顆粒物中異色雜質(zhì)的設(shè)備,其特征在于,所述異色雜質(zhì)剔除裝置(7)為噴氣式剔除裝置,所述異色雜質(zhì)剔除裝置(7)設(shè)有不少于三個噴氣口,所述噴氣口呈同一水平面設(shè)置,且噴氣口出氣方向朝向顆粒物(4)下落通道。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高速自動識別及剔除顆粒物中異色雜質(zhì)的設(shè)備,其特征在于,所述中央處理器包括IO模塊,所述IO模塊用于控制物料輸送裝置(2)的輸送功率及光源(5)的亮度。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





