[發明專利]TCON芯片測試方法、裝置和存儲介質

在審

• 申請號: 202111387948.3
• 申請日: 2021-11-22
• 公開（公告）號: CN114089162A
• 公開（公告）日: 2022-02-25
• 發明（設計）人: 湯旺;楊蕭;賈國強;李建偉
• 申請（專利權）人: 惠州視維新技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 莫勝鈞

1.一種TCON芯片測試方法，其特征在于，所述方法包括：

在接收到待測試芯片的接入信號的情況下，根據所述接入信號確定對應的芯片信息，其中，所述芯片信息包括所述待測試芯片的芯片標簽；

確定與所述芯片標簽對應的目標測試模式；

按照所述目標測試模式對所述待測試芯片進行測試，得到測試結果。

2.根據權利要求1所述的TCON芯片測試方法，其特征在于，所述目標測試模式包括所述待測試芯片的各個接口對應的測試方案，所述按照所述目標測試模式對所述待測試芯片進行測試，得到測試結果，包括：

按照所述待測試芯片的各個接口對應的測試方案，對所述待測試芯片的各個接口進行測試，得到所述待測試芯片的各個接口的測試結果。

3.根據權利要求2所述的TCON芯片測試方法，其特征在于，所述按照所述待測試芯片的各個接口對應的測試方案，對所述待測試芯片的各個接口進行測試，得到所述待測試芯片的各個接口的測試結果，包括：

在目標接口對應的測試方案為第一方案的情況下，檢測所述目標接口的輸出電壓，得到所述目標接口的驅動電壓，其中，所述目標接口為所述待測試芯片的多個接口中的任意一個接口，所述測試結果包括所述目標接口的驅動電壓。

4.根據權利要求2或3所述的TCON芯片測試方法，其特征在于，所述按照所述待測試芯片的各個接口對應的測試方案，對所述待測試芯片的各個接口進行測試，得到所述待測試芯片的各個接口的測試結果，包括：

在所述目標接口對應的測試方案為第二方案的情況下，檢測所述目標接口的輸出波形，得到所述目標接口輸出的時序信號，其中，所述測試結果包括所述目標接口輸出的時序信號。

5.根據權利要求4所述的TCON芯片測試方法，其特征在于，所述按照所述待測試芯片的各個接口對應的測試方案，對所述待測試芯片的各個接口進行測試，得到所述待測試芯片的各個接口的測試結果，包括：

在所述目標接口對應的測試方案為第三方案的情況下，停止檢測所述目標接口。

6.根據權利要求1所述的TCON芯片測試方法，其特征在于，所述得到測試結果之后，所述方法還包括：

發送所述測試結果至顯示設備，其中，所述顯示設備用于展示所述測試結果。

7.一種TCON芯片測試裝置，其特征在于，所述TCON芯片測試裝置包括：

控制模塊，用于在接收到待測試芯片的接入信號的情況下，根據所述接入信號確定對應的芯片信息，其中，所述芯片信息包括所述待測試芯片的芯片標簽；確定與所述芯片標簽對應的目標測試模式；

測試模塊，用于按照所述目標測試模式對所述待測試芯片進行測試，得到測試結果。

8.根據權利要求7所述的TCON芯片測試裝置，其特征在于，所述測試模塊包括：

電壓測試模塊，用于在目標接口對應的測試方案為第一方案的情況下，檢測所述目標接口的輸出電壓，得到所述目標接口的驅動電壓，其中，所述目標接口為所述待測試芯片的多個接口中的任意一個接口，所述測試結果包括所述目標接口的驅動電壓；

時序測試模塊，用于在所述目標接口對應的測試方案為第二方案的情況下，檢測所述目標接口的輸出波形，得到所述目標接口輸出的時序信號，其中，所述測試結果包括所述目標接口輸出的時序信號。

9.根據權利要求7或8所述的TCON芯片測試裝置，其特征在于，所述TCON芯片測試裝置還包括：

顯示模塊，用于接收并展示所述測試結果。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執行時實現權利要求1-6任一項所述方法的步驟。