[發(fā)明專利]一種集成化參數(shù)測(cè)量裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202111348727.5
• 申請(qǐng)日: 2021-11-15
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113777463A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-12-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 寇文超;楊勇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 偉恩測(cè)試技術(shù)（武漢）有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/26
• 分類號(hào): G01R31/26
• 代理公司: 武漢智權(quán)專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 42225
• 代理人: 張凱

1.一種集成化參數(shù)測(cè)量裝置，其特征在于，所述裝置包括：

參數(shù)測(cè)量單元，所述參數(shù)測(cè)量單元包括：

環(huán)路控制子單元，其用于基于FVMI或FIMV模式向待測(cè)器件輸出恒定電流或恒定電壓；

電壓測(cè)量子單元，其用于測(cè)量所述待測(cè)器件的電壓；

電流測(cè)量子單元，其用于測(cè)量所述待測(cè)器件的電流；

第一控制器，其用于控制所述參數(shù)測(cè)量單元，還用于接收所述電壓測(cè)量子單元和所述電流測(cè)量子單元的采樣數(shù)據(jù)。

2.如權(quán)利要求1所述的集成化參數(shù)測(cè)量裝置，其特征在于，所述環(huán)路控制子單元包括：

用于與所述第一控制器連接的串行電路接口；

用于進(jìn)行數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的寄存器；

多個(gè)用于輸出恒定電流或恒定電壓的環(huán)路控制電路。

3.如權(quán)利要求2所述的集成化參數(shù)測(cè)量裝置，其特征在于：

所述第一控制器還用于向所述環(huán)路控制子單元發(fā)送工作模式指令或工作參數(shù)指令；

所述第一控制器還用于讀取所述環(huán)路控制子單元的所述寄存器，判斷所述工作模式指令或所述工作參數(shù)指令是否接收成功，待判斷接收成功后，向所述環(huán)路控制子單元發(fā)送輸出指令。

4.如權(quán)利要求1所述的集成化參數(shù)測(cè)量裝置，其特征在于：

所述環(huán)路控制子單元還配置有功率放大電路。

5.如權(quán)利要求1所述的集成化參數(shù)測(cè)量裝置，其特征在于，所述第一控制器包括：

通信控制模塊，其用于與上位機(jī)進(jìn)行連接，接收所述上位機(jī)傳輸?shù)目刂浦噶睿?/p>

數(shù)據(jù)處理模塊，其用于對(duì)所述采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行處理；

主控制器模塊，其用于控制所述環(huán)路控制子單元；

測(cè)量電路控制模塊，其用于控制所述電壓測(cè)量子單元與所述電流測(cè)量子單元；

采樣控制模塊，其用于獲取所述采樣數(shù)據(jù)。

6.如權(quán)利要求5所述的集成化參數(shù)測(cè)量裝置，其特征在于，所述第一控制器還包括：

SOC/SOPC，其用于輔助所述數(shù)據(jù)處理模塊、所述主控制器模塊進(jìn)行控制和數(shù)據(jù)處理。

7.如權(quán)利要求1所述的集成化參數(shù)測(cè)量裝置，其特征在于，所述電壓測(cè)量子單元配置一電壓測(cè)量計(jì)算公式；

所述電壓測(cè)量計(jì)算公式為：

T_電壓=V0*C/（G_電壓*2^N）；其中，

G_電壓為設(shè)定所述電壓測(cè)量子單元的電壓反饋調(diào)理電路增益，V0為所述電壓測(cè)量子單元內(nèi)部配置的ADC的輸入量程，N為所述ADC的分辨率，C為所述ADC采集得到的碼值，T_電壓為電壓測(cè)量值。

8.如權(quán)利要求1所述的集成化參數(shù)測(cè)量裝置，其特征在于，所述電流測(cè)量子單元配置一電流測(cè)量計(jì)算公式；

所述電流測(cè)量計(jì)算公式為：

T_電流=（V0*C）/（G_電流*R*2^N）；其中，

G_電流為設(shè)定所述電流測(cè)量子單元的電流反饋調(diào)理電路增益，V0為所述電流測(cè)量子單元內(nèi)部配置的ADC的輸入量程，N為所述ADC的分辨率，C為所述ADC采集得到的碼值，R為所述電流測(cè)量子單元內(nèi)部配置的電阻的電阻值，T_電流為電壓測(cè)量值。

9.如權(quán)利要求2所述的集成化參數(shù)測(cè)量裝置，其特征在于，環(huán)路控制電路包括：

DAC、比較器、誤差放大器、電流反饋開(kāi)關(guān)和電壓反饋開(kāi)關(guān)。

10.如權(quán)利要求9所述的集成化參數(shù)測(cè)量裝置，其特征在于，環(huán)路控制電路包括：

當(dāng)所述環(huán)路控制子單元接收到工作模式設(shè)置指令時(shí)，選擇電壓反饋開(kāi)關(guān)或電流反饋開(kāi)關(guān)；

當(dāng)所述環(huán)路控制子單元接收到輸出參數(shù)設(shè)置指令時(shí)，根據(jù)所述輸出參數(shù)設(shè)置指令中的設(shè)置DAC寄存器地址位選擇DAC寄存器，并更新DAC寄存器內(nèi)容；

當(dāng)所述環(huán)路控制子單元接收到狀態(tài)讀取設(shè)置指令時(shí)，根據(jù)所述狀態(tài)讀取設(shè)置指令中的待讀取DAC寄存器地址位選擇DAC寄存器，將DAC寄存器數(shù)據(jù)讀取到對(duì)應(yīng)的DAC數(shù)據(jù)位。