[發明專利]老化電路、芯片老化測試方法及芯片有效
| 申請號： | 202111327774.1 | 申請日： | 2021-11-10 |
| 公開（公告）號： | CN114076883B | 公開（公告）日： | 2023-09-05 |
| 發明（設計）人： | 王輝;李建波;趙來钖 | 申請（專利權）人： | 北京中電華大電子設計有限責任公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京成創同維知識產權代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡純;張靖琳 |
| 地址： | 102209 北京市昌平區北七家鎮未*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 老化 電路 芯片 測試 方法 | ||
1.一種老化電路，其特征在于，包括：
隨機數發生模塊，在接收到有效狀態的模式信號之后，生成隨機數，并根據所述隨機數生成隨機的所述老化圖形；
使能模塊，至少根據所述模式信號和所述隨機數生成隨機的使能信號；
復位模塊，至少根據所述模式信號和所述隨機數生成隨機的復位信號；以及
掃描鏈模塊，至少根據所述模式信號將所述老化圖形發送至待測電路，其工作模式至少受控于所述使能信號和所述復位信號。
2.根據權利要求1所述的老化電路，其特征在于，所述使能信號和所述復位信號的電平狀態決定所述掃描鏈模塊的工作模式，
當所述復位信號為第一狀態時，所述掃描鏈模塊工作在復位模式；
當所述復位信號為第二狀態且所述使能信號為第二狀態時，所述掃描鏈模塊工作在串入串出模式；
當所述復位信號為第二狀態且所述使能信號為第一狀態時，所述掃描鏈模塊工作在測試模式。
3.根據權利要求2所述的老化電路，其特征在于，所述隨機數發生模塊還連接至所述復位模塊，以使所述復位模塊生成隨機的所述復位信號，從而使得所述掃描鏈模塊隨機工作于所述復位模式、所述串入串出模式和所述測試模式。
4.根據權利要求3所述的老化電路，其特征在于，隨機的所述使能信號的變化速率小于隨機的所述隨機數的變化速率；和/或隨機的所述復位信號的變化速率小于隨機的所述隨機數的變化速率。
5.根據權利要求2所述的老化電路，其特征在于，還包括：
時鐘模塊，根據所述模式信號生成時鐘信號；
其中，所述時鐘信號分別作為所述隨機數發生模塊、所述掃描鏈模塊、所述使能模塊和所述復位模塊的時鐘源。
6.根據權利要求1所述的老化電路，其特征在于，還包括：
觀測模塊，連接至所述掃描鏈模塊的輸出端，以接收并存儲所述老化圖形至少經由所述待測電路處理后的輸出信號，并利用所述輸出信號判斷所述待測電路是否合格。
7.根據權利要求6所述的老化電路，其特征在于，所述隨機數為真隨機數或偽隨機數，
當所述隨機數為真隨機數時，所述觀測模塊根據經由所述待測電路處理后的所述老化圖形與預期規律是否一致，以判斷所述待測電路是否合格，
當所述隨機數為偽隨機數時，所述觀測模塊根據所述老化圖形預測輸出圖形，并判斷經由所述待測電路處理后的所述老化圖形和所述輸出圖形是否一致，以判斷所述待測電路是否合格。
8.一種芯片老化測試方法，其特征在于，包括：
在接收到有效狀態的模式信號之后，生成隨機數，并根據所述隨機數生成隨機的老化圖形；
至少根據所述模式信號和所述隨機數生成隨機的使能信號；
至少根據所述模式信號和所述隨機數生成隨機的復位信號；以及
至少根據所述模式信號、隨機的所述使能信號和隨機的所述復位信號將所述老化圖形發送至待測電路。
9.根據權利要求8所述的芯片老化測試方法，其特征在于，利用掃描鏈模塊將所述老化圖形發送至所述待測電路，所述使能信號和所述復位信號的電平狀態決定所述掃描鏈模塊的工作模式，
當所述復位信號為第一狀態時，所述掃描鏈模塊工作在復位模式；
當所述復位信號為第二狀態且所述使能信號為第二狀態時，所述掃描鏈模塊工作在串入串出模式；
當所述復位信號為第二狀態且所述使能信號為第一狀態時，所述掃描鏈模塊工作在測試模式。
10.根據權利要求9所述的芯片老化測試方法，其特征在于，隨機的所述老化圖形還用于控制生成所述復位信號，以生成隨機的所述復位信號，從而使得所述掃描鏈模塊隨機工作于所述復位模式、所述串入串出模式和所述測試模式。
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