[發明專利]一種元器件缺陷檢測的方法及裝置

在審

• 申請號: 202111314595.4
• 申請日: 2021-11-08
• 公開（公告）號: CN114155197A
• 公開（公告）日: 2022-03-08
• 發明（設計）人: 張海明;唐章東;李璇;王征;范曉明;辛奇;王雪生;王賀;劉敏;范壯壯;高華興
• 申請（專利權）人: 中國空間技術研究院
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/10;G06T7/194;G06T7/73;G01N23/04;G06V10/74;G06T5/00;G06T5/10
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 胡健男

1.一種元器件缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取目標元器件的X射線圖像，并對所述X射線圖像進行降噪處理，得到第一圖像；

消除所述第一圖像的非均勻光照背景，得到第二圖像；

基于模板匹配定位所述第二圖像中待檢測的目標元器件圖像；

通過預設圖像分割算法，將目標元器件圖像從所述第二圖像中分割出來；

基于局部信息熵結合區域生長算法，對所述X射線圖像中的多余物進行檢測，以檢測到所述目標元器件的缺陷。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取目標元器件的X射線圖像，并對所述X射線圖像進行降噪處理，得到第一圖像的步驟，包括：

獲取目標元器件的X射線圖像；

基于小波閾值算法，對所述X射線圖像進行降噪處理，得到第一圖像。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，消除所述第一圖像的非均勻光照背景，得到第二圖像的步驟，包括：

基于二維伽馬函數的自適應亮度校正方法，對所述第一圖像進行處理，得到消除非均勻光照背景的第二圖像。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，基于模板匹配定位所述第二圖像中待檢測的目標元器件圖像的步驟，包括：

采用歸一化相關系數匹配法，將模板與所述第二圖像進行比對，定位到第二圖像中的目標元器件圖像。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述預設圖像分割算法為Grabcut算法。

6.一種元器件缺陷檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

降噪模塊，用于獲取目標元器件的X射線圖像，并對所述X射線圖像進行降噪處理，得到第一圖像；

消除模塊，用于消除所述第一圖像的非均勻光照背景，得到第二圖像；

定位模塊，用于基于模板匹配定位所述第二圖像中待檢測的目標元器件圖像；

分割模塊，用于通過預設圖像分割算法，將目標元器件圖像從所述第二圖像中分割出來；

異物檢測模塊，用于基于局部信息熵結合區域生長算法，對所述X射線圖像中的多余物進行檢測，以檢測到所述目標元器件的缺陷。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述降噪模塊包括：

第一子模塊，用于獲取目標元器件的X射線圖像；

第二子模塊，用于基于小波閾值算法，對所述X射線圖像進行降噪處理，得到第一圖像。

8.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述消除模塊具體用于：

基于二維伽馬函數的自適應亮度校正方法，對所述第一圖像進行處理，得到消除非均勻光照背景的第二圖像。

9.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述定位模塊具體用于：

采用歸一化相關系數匹配法，將模板與所述第二圖像進行比對，定位到第二圖像中的目標元器件圖像。

10.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述預設圖像分割算法為Grabcut算法。