[發明專利]一種基于TFET的主從觸發器在審
| 申請號: | 202111307187.6 | 申請日: | 2021-11-05 |
| 公開(公告)號: | CN114050807A | 公開(公告)日: | 2022-02-15 |
| 發明(設計)人: | 盧文娟;趙宇昕;彭春雨;朱志國;吳秀龍;藺智挺;陳軍寧 | 申請(專利權)人: | 安徽大學;合肥市微電子研究院有限公司 |
| 主分類號: | H03K3/3562 | 分類號: | H03K3/3562 |
| 代理公司: | 北京凱特來知識產權代理有限公司 11260 | 代理人: | 鄭立明;李闖 |
| 地址: | 230601 安徽*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 tfet 主從觸發器 | ||
本發明公開了一種基于TFET的主從觸發器,包括主觸發器和從觸發器;主觸發器包括五個NTFET晶體管和五個PTFET晶體管,這五個NTFET晶體管依次記為N1~N5,這五個PTFET晶體管依次記為P1~P5;該主從觸發器的觸發器信號輸入端D作為主觸發器信號輸入;從觸發器包括五個NTFET晶體管和五個PTFET晶體管,這五個NTFET晶體管依次記為N6~N10,這五個PTFET晶體管依次記為P6~P10;主觸發器信號輸出端Q1作為從觸發器信號輸入;從觸發器信號輸出為該主從觸發器的觸發器信號輸出端Q。本發明可以提高數據傳輸的穩定性,解決了TFET應用在傳統傳輸門觸發器的數據傳輸穩定性問題。
技術領域
本發明涉及觸發器技術領域,尤其涉及一種基于TFET(Tunneling Field-EffectTransistor,隧穿場效應晶體管)的主從觸發器。
背景技術
隨著移動電子產品的發展,人們對集成電路低功耗的需求變得越來越迫切。近年來,MOSFET(金屬-氧化物半導體場效應晶體管)已成為數字集成電路和模擬集成電路的重要組成部分。然而隨著集成電路技術節點的發展,MOSFET在超低功耗電路中的一些缺點使其難以獲得滿意的結果。在MOSFET中,持續降低的電源電壓導致觸發器的延遲呈指數增加;降低MOSFET器件的閾值電壓(VT),在低電源電壓下保持合理的驅動電流,必然導致漏電急劇增加,從而導致靜態功耗的增加。此外,MOSFET在室溫下的亞閾值擺幅理論上難以小于60mv/decade。降低電路設計中的電源電壓是當今半導體工業面臨的最大挑戰之一,傳統的MOSFET技術在超低功耗應用中幾乎達到了其物理極限,但是由于MOSFET的上述缺點,在亞閾值工作電壓下進一步降低觸發器靜態功耗仍然是十分有限的。
相比于MOSFET,TFET由于具有更低的亞閾值擺幅、更高的開關電流比以及較小的漏電流,使得TFET替代MOSFET具有廣闊的前景。但是由于TFET不對稱的源漏設計和傳輸機制導致的單向傳導(unidirectional conduction)特性,嚴重影響了TFET在觸發器中的應用,尤其是其作為觸發器的傳輸門結構(如圖1所示)時,因為傳輸門結構雙向導通。單向傳導特性即給TFET施加正向偏置電壓和反向偏置電壓時,電流傳輸特性不一樣。當給TFET施加正向偏置電壓時,其總會出現不受柵極電壓控制的正偏漏電流,這使得TFET做觸發器傳輸門時,在保持狀態下傳輸門可能會出現正偏漏電流,從而影響數據傳輸穩定性。
有鑒于此,特提出本發明。
發明內容
本發明的目的是提供了一種基于TFET的主從觸發器,以解決現有技術中存在的上述技術問題。本發明可以提高數據傳輸的穩定性,解決了TFET應用在傳統傳輸門觸發器的數據傳輸穩定性問題。
本發明的目的是通過以下技術方案實現的:
一種基于TFET的主從觸發器,包括主觸發器和從觸發器;
所述主觸發器包括五個NTFET晶體管和五個PTFET晶體管,這五個NTFET晶體管依次記為N1~N5,這五個PTFET晶體管依次記為P1~P5;
該主從觸發器的觸發器信號輸入端D作為主觸發器信號輸入,與PTFET晶體管P1的柵極、NTFET晶體管N2的柵極電連接;
PTFET晶體管P1的源極與電源VDD電連接,而PTFET晶體管P1的漏極與PTFET晶體管P2的源極電連接;
PTFET晶體管P2的柵極為時鐘信號輸入端,接入時鐘信號CLK,而PTFET晶體管P2的漏極與NTFET晶體管N1的漏極、PTFET晶體管P3的柵極、NTFET晶體管N3的柵極、PTFET晶體管P5的漏極、NTFET晶體管N4的漏極電連接;
NTFET晶體管N1的柵極為反相時鐘信號輸入端,接入反相時鐘信號CLKB,而NTFET晶體管N1的源極與NTFET晶體管N2的漏極電連接;
NTFET晶體管N2的源極接地;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于安徽大學;合肥市微電子研究院有限公司,未經安徽大學;合肥市微電子研究院有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202111307187.6/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





