[發(fā)明專利]一種BCU主板的功能測(cè)試方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111305336.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-11-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114089129A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-02-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐晶晶 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州市德智電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/12 | 分類號(hào): | G01R31/12;G01R31/28 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 bcu 主板 功能 測(cè)試 方法 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種BCU主板的功能測(cè)試方法,包括以下步驟,首先構(gòu)建基礎(chǔ)測(cè)試系統(tǒng),所述基礎(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)包括以工控機(jī)為主控部分并集成滿足各種功能測(cè)試的測(cè)試平臺(tái);設(shè)計(jì)和建立測(cè)試治具,建立可與測(cè)試平臺(tái)相配合并滿足BCU主板測(cè)試過(guò)程的測(cè)試治具;設(shè)計(jì)和建立測(cè)試軟件,設(shè)計(jì)滿足測(cè)試過(guò)程的測(cè)試軟件;將待測(cè)試的BCU主板放置在測(cè)試治具內(nèi)并對(duì)接測(cè)試平臺(tái),繼而實(shí)現(xiàn)BCU主板的測(cè)試過(guò)程;測(cè)試完成后,系統(tǒng)顯示測(cè)試結(jié)果、測(cè)試數(shù)據(jù)記錄并留存為檔案,并可同時(shí)將上傳至后臺(tái)系統(tǒng)。所述BCU主板的功能測(cè)試方法有效且快捷的實(shí)現(xiàn)了BCU主板的功能測(cè)試過(guò)程,而且測(cè)試效果好,效率高,實(shí)用性高。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種BCU主板的功能測(cè)試方法,涉及主板的測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
目前的BCU主板的功能測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜,需要耗費(fèi)較大的人力與物理制作成套的測(cè)試系統(tǒng),而且其測(cè)試方法較為復(fù)雜,測(cè)試效率不高,而且測(cè)試效果不好,測(cè)試過(guò)程中對(duì)各項(xiàng)功能的測(cè)試方法較為復(fù)雜,需要借助多種設(shè)備或平臺(tái)才能完成數(shù)據(jù)的采集和判斷過(guò)程,因而實(shí)用性不高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是:提供一種操作方便且能有效提高測(cè)試效率和效果的BCU主板的功能測(cè)試方法。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
一種BCU主板的功能測(cè)試方法,包括以下步驟,
步驟一,首先構(gòu)建基礎(chǔ)測(cè)試系統(tǒng),所述基礎(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)包括以工控機(jī)為主控部分并集成滿足各種功能測(cè)試的測(cè)試平臺(tái);
步驟二,設(shè)計(jì)和建立測(cè)試治具,建立可與測(cè)試平臺(tái)相配合并滿足BCU主板測(cè)試過(guò)程的測(cè)試治具;
步驟三,設(shè)計(jì)和建立測(cè)試軟件,設(shè)計(jì)滿足測(cè)試過(guò)程的測(cè)試軟件;
步驟四,將待測(cè)試的BCU主板放置在測(cè)試治具內(nèi)并對(duì)接測(cè)試平臺(tái),繼而實(shí)現(xiàn)BCU主板的測(cè)試過(guò)程;
步驟五,測(cè)試完成后,系統(tǒng)顯示測(cè)試結(jié)果、測(cè)試數(shù)據(jù)記錄并留存為檔案,并可同時(shí)將上傳至后臺(tái)系統(tǒng)。
作為優(yōu)選,所述步驟一種的測(cè)試平臺(tái)包括靜態(tài)電流測(cè)試模塊、工作電流測(cè)試模塊、電源電壓測(cè)試模塊 、CAN終端電阻通訊測(cè)試模塊、頻率信號(hào)采集功能測(cè)試模塊、 PWM OUT測(cè)試模塊,高壓測(cè)試模塊、電流采集功能測(cè)試模塊、溫度信號(hào)采樣測(cè)試模塊、繼電器負(fù)載測(cè)試模塊、絕緣檢測(cè)功能測(cè)試模塊、高、低有效數(shù)字輸入信號(hào)測(cè)試。
作為優(yōu)選,所述靜態(tài)電流、工作電流測(cè)試模塊中采用萬(wàn)用表μA 檔測(cè)試靜態(tài)電流,采用萬(wàn)用表mA檔測(cè)試工作電流;所述電源電壓測(cè)試模塊中采用萬(wàn)用表電壓檔配合繼電器矩陣切換到產(chǎn)品不同引腳,測(cè)試相應(yīng)引腳的電源電壓輸出,從而完成電源電壓的測(cè)試;所述CAN終端電阻通訊測(cè)試模塊中通過(guò)示波器采集CANH和CANL對(duì)地電壓,然后工控機(jī)通過(guò)集成在其上的CAN卡向被測(cè)板發(fā)送試幀信號(hào),通過(guò)反饋幀信號(hào)對(duì)比分析判斷CAN通信是否正確;所述頻率信號(hào)采集功能測(cè)試模塊中采用Rigol信號(hào)發(fā)生器輸出PWM信號(hào),通過(guò)BCU讀取檢測(cè)頻率、占空比反饋給工控機(jī)做分析判斷;所述PWM OUT測(cè)試模塊中采用通過(guò)示波器讀取產(chǎn)品輸出的頻率、幅值、占空比等,與工控機(jī)機(jī)讀取CAN上的參數(shù)進(jìn)行對(duì)比,從而得出測(cè)試結(jié)果。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
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