[發明專利]一種測試中消耗品的壽命預估方法、裝置、設備及介質

在審

• 申請號: 202111290452.4
• 申請日: 2021-11-02
• 公開（公告）號: CN114169219A
• 公開（公告）日: 2022-03-11
• 發明（設計）人: 李創鋒
• 申請（專利權）人: 深圳市金泰克半導體有限公司
• 主分類號: G06F30/27
• 分類號: G06F30/27;G06N3/04;G06N3/08;G06F119/02
• 代理公司: 深圳智匯遠見知識產權代理有限公司 44481
• 代理人: 蔣學超

本發明涉及一種測試中消耗品的壽命預估方法、裝置、設備及介質，涉及內存條生產測試量產領域，所述方法包括：對消耗品進行測試，得到所述消耗品的測試結果；若所述消耗品的測試結果為異常結果，判定所述消耗品為異常消耗品；獲取多個所述異常消耗品的使用時間值以及獲取多個異常消耗品之間的相關性模型；根據所述多個異常消耗品之間的相關性模型和多個所述異常消耗品的使用時間值，預估所述消耗品的壽命閾值。通過根據所述多個異常消耗品之間的相關性模型和多個所述異常消耗品的使用時間值，得出消耗品的壽命閾值，能在消耗品達到壽命閾值前對消耗品進行提前更換，避免了在消耗品損壞的情況下再去更換而使得內存條測試效率降低的問題的發生。

技術領域

本發明涉及內存條生產測試量產領域，尤其涉及一種測試中消耗品的壽命預估方法、裝置、設備及介質。

背景技術

內存條生產測試過程中，用于測試的主板和轉接板等其它消耗品會有壽命的限制，當測試報警儀器進行報警時不能判斷導致報警的原因是由于插內存條的主板和轉接板等其它消耗品有問題還是內存條本身質量問題，由于無法知道主板和轉接板等其它消耗品的壽命，只能在測試報警儀器進行報警時對主板和轉接板等其它消耗品進行檢測，從而查看是否是主板和轉接板等其它消耗品損壞的原因，導致出現了在主板和轉接板等其它消耗品損壞的情況下再去更換主板和轉接板等其它消耗品，會使得內存條測試效率降低的問題。

發明內容

本發明提供了一種測試中消耗品的壽命預估方法、裝置、設備及介質，以解決現有技術中在主板和轉接板等其它消耗品損壞的情況下再去更換主板和轉接板等其它消耗品，會使得內存條測試效率降低的問題。

為了解決上述問題，本發明采用以下技術方案：包括：

第一方面，本發明提供了一種測試中消耗品的壽命預估方法，包括：

對消耗品進行測試，得到所述消耗品的測試結果；

若所述消耗品的測試結果為異常結果，判定所述消耗品為異常消耗品；

獲取多個所述異常消耗品的使用時間值以及獲取多個異常消耗品之間的相關性模型；

根據所述多個異常消耗品之間的相關性模型和多個所述異常消耗品的使用時間值，預估所述消耗品的壽命閾值。

其進一步的技術方案為，所述獲取多個所述異常消耗品的使用時間值以及獲取多個異常消耗品之間的相關性模型之后，還包括：

若所述異常消耗品的使用時間值小于預設的時間閾值，則將所述異常消耗品的使用時間值在所述多個所述異常消耗品的使用時間值中刪除。

其進一步的技術方案為，所述對消耗品進行測試，得到所述消耗品的測試結果之前，還包括：

獲取內存條的測試結果；

若所述內存條的測試結果為異常結果，判定所述內存條為異常內存條；

獲取所述異常內存條對應的消耗品。

其進一步的技術方案為，所述獲取多個異常消耗品之間的相關性模型，包括：

獲取多個異常消耗品的原始屬性信息；

根據所述原始屬性信息，建立所述多個異常消耗品之間的相關性權重關聯關系；

根據所述相關性權重關聯關系建立所述多個異常消耗品之間的相關性模型。

其進一步的技術方案為，所述多個異常消耗品之間的相關性權重關聯關系包括所述多個異常消耗品之間的相關性數值，所述根據所述相關性權重關聯關系建立所述多個異常消耗品之間的相關性模型，包括：

以所述多個異常消耗品作為神經元，并以所述多個異常消耗品之間的相關性數值作為神經元的連接權重，建立神經網絡，將所述神經網絡作為所述相關性模型。