[發明專利]一種測試中消耗品的壽命預估方法、裝置、設備及介質

在審

• 申請號: 202111290452.4
• 申請日: 2021-11-02
• 公開（公告）號: CN114169219A
• 公開（公告）日: 2022-03-11
• 發明（設計）人: 李創鋒
• 申請（專利權）人: 深圳市金泰克半導體有限公司
• 主分類號: G06F30/27
• 分類號: G06F30/27;G06N3/04;G06N3/08;G06F119/02
• 代理公司: 深圳智匯遠見知識產權代理有限公司 44481
• 代理人: 蔣學超

1.一種測試中消耗品的壽命預估方法，其特征在于，包括：

對消耗品進行測試，得到所述消耗品的測試結果；

若所述消耗品的測試結果為異常結果，判定所述消耗品為異常消耗品；

獲取多個所述異常消耗品的使用時間值以及獲取多個異常消耗品之間的相關性模型；

根據所述多個異常消耗品之間的相關性模型和多個所述異常消耗品的使用時間值，預估所述消耗品的壽命閾值。

2.根據權利要求1所述的測試中消耗品的壽命預估方法，其特征在于，所述獲取多個所述異常消耗品的使用時間值以及獲取多個異常消耗品之間的相關性模型之后，還包括：

若所述異常消耗品的使用時間值小于預設的時間閾值，則將所述異常消耗品的使用時間值在所述多個所述異常消耗品的使用時間值中刪除。

3.根據權利要求1所述的測試中消耗品的壽命預估方法，其特征在于，所述對消耗品進行測試，得到所述消耗品的測試結果之前，還包括：

獲取內存條的測試結果；

若所述內存條的測試結果為異常結果，判定所述內存條為異常內存條；

獲取所述異常內存條對應的消耗品。

4.根據權利要求1所述的測試中消耗品的壽命預估方法，其特征在于，所述獲取多個異常消耗品之間的相關性模型，包括：

獲取多個異常消耗品的原始屬性信息；

根據所述原始屬性信息，建立所述多個異常消耗品之間的相關性權重關聯關系；

根據所述相關性權重關聯關系建立所述多個異常消耗品之間的相關性模型。

5.根據權利要求4所述的測試中消耗品的壽命預估方法，其特征在于，所述多個異常消耗品之間的相關性權重關聯關系包括所述多個異常消耗品之間的相關性數值，所述根據所述相關性權重關聯關系建立所述多個異常消耗品之間的相關性模型，包括：

以所述多個異常消耗品作為神經元，并以所述多個異常消耗品之間的相關性數值作為神經元的連接權重，建立神經網絡，將所述神經網絡作為所述相關性模型。

6.根據權利要求1所述的測試中消耗品的壽命預估方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據新增的所述異常消耗品對所述相關性模型進行校正。

7.根據權利要求1所述的測試中消耗品的壽命預估方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據所述消耗品的壽命閾值設置報警時間閾值，所述報警時間閾值比所述消耗品的壽命閾值小；

判斷所述消耗品的使用時間值是否大于所述報警時間閾值；

若是，發送報警提示。

8.一種測試中消耗品的壽命預估裝置，其特征在于，包括用于執行如權利要求1-7任一項所述方法的單元。

9.一種處理器，其特征在于，包括處理器、通信接口、存儲器和通信總線，其中，處理器，通信接口，存儲器通過通信總線完成相互間的通信；

存儲器，用于存放計算機程序；

處理器，用于執行存儲器上所存放的程序時，實現權利要求1-7任一項所述的方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1-7任一項所述的方法的步驟。