[發明專利]一種霍爾電流傳感器的原邊大電流測試工裝在審
| 申請號: | 202111278473.4 | 申請日: | 2021-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN113899933A | 公開(公告)日: | 2022-01-07 |
| 發明(設計)人: | 和波;王道秋 | 申請(專利權)人: | 天津芯森電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R15/20 | 分類號: | G01R15/20;G01R35/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 300000 天津市寶坻區西環北路*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 霍爾 電流傳感器 原邊大 電流 測試 工裝 | ||
本發明創造提供了一種霍爾電流傳感器的原邊大電流測試工裝,包括底座和上蓋,所述底座的上表面設有用于霍爾電流傳感器的放置位;所述上蓋在測試時設置于底座上方,所述上蓋上設有貫穿上蓋的上部仿形電流排和上部測試針,所述上部仿形電流排和上部測試針均為導體,所述上部仿形電流排的底部與霍爾電流傳感器的原邊針腳相對應,用于向原邊針腳輸入大電流,所述上部測試針的底部與霍爾電流傳感器的信號針腳的上表面抵接。本發明創造所述的霍爾電流傳感器的原邊大電流測試工裝,能夠保證產品長時間、大電流工作,從而提高產品的測試精度,并且有效提高了測試效率,也減少了針腳損壞,測試后還能繼續使用。
技術領域
本發明創造屬于霍爾電流傳感器測試技術領域,尤其是涉及一種霍爾電流傳感器的原邊大電流測試工裝。
背景技術
當前所有的集成封裝的霍爾電流傳感器,由于原邊引腳很小,在測試時無法長時間給額定電流,在安裝的PCB板上的時候由于焊接到一起,電阻較小,能夠長時間給額定電流。
以SO8霍爾芯片為例闡述現有霍爾芯片原邊測試的兩種方法:
1.在產品開發驗證階
在產品開發階段,為了保證芯片原邊電流的穩定性,通常均會采用焊接到PCB板的方法進行測試。霍爾芯片原邊焊接到PCB板后,能夠完全保證霍爾芯片管腳與導體有效接通,并且電阻很小,能夠完全保證被測電流穩定,測試數據更可靠。但該方案中,由于原邊需要焊接,焊接后產品拆下時會造成一定的損傷,并且拆下后產品管腳會沾錫,造成產品無法進行銷售,故該方案不適用于量產產品。
2.在生產階段
生產階段,一般采用芯片座進行測試。芯片座內部每個副邊有一根彈簧針,該能夠保證與芯片管腳有效接觸,但這種接觸面積很小,長時間大電流時,發熱嚴重,容易燒毀芯片,因此一般是采用專用設備給瞬時脈沖電流。采用此方案時,施加瞬時脈沖電流設備比較昂貴,同時需要配合相應的采集設備一起使用,整個系統設備多、電路結構復雜,引入測量干擾大。因此,該方案仍不屬于最優方案,更不適用于產品長期老練試驗。
發明創造內容
有鑒于此,為克服上述缺陷,本發明創造旨在提出一種霍爾電流傳感器的原邊大電流測試工裝。
為達到上述目的,本發明創造的技術方案是這樣實現的:
一種霍爾電流傳感器的原邊大電流測試工裝,包括底座和上蓋,所述底座的上表面設有用于霍爾電流傳感器的放置位;
所述上蓋在測試時設置于底座上方,所述上蓋上設有貫穿上蓋的上部仿形電流排和上部測試針,所述上部仿形電流排和上部測試針均為導體,所述上部仿形電流排的底部與霍爾電流傳感器的原邊針腳相對應,用于向原邊針腳輸入大電流,所述上部測試針的底部與霍爾電流傳感器的信號針腳的上表面抵接。
進一步的,所述上蓋與底座一端鉸接;
上蓋與底座之間還設有鎖緊組件,通過鎖緊組件實現上蓋與底座折疊后的固定。
進一步的,所述鎖緊組件包括設置于上蓋兩側的鎖緊板,上蓋的兩側開有與鎖緊板對應的豎向的條形槽,所述鎖緊板設置于條形槽內,所述上蓋的頂部向上延伸形成多個凸塊,每個鎖緊板對應設有兩個凸塊,同一側的兩個凸塊之間設有連接軸,所述鎖緊板上設有與連接軸對應的連接部,所述連接部上開有與連接軸對應的軸孔;
所述鎖緊板通過連接軸與上蓋鉸接,所述連接軸上還設有與鎖緊板對應的扭簧;
所述底座上也開有與鎖緊板對應的條形槽,所述底座上設有與鎖緊板對應的卡槽,所述鎖緊板上設有與卡槽對應的卡塊。
進一步的,所述上部測試針與上蓋固定連接;
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