[發明專利]一種用于檢測物體表面缺陷的光路結構

在審

• 申請號: 202111219934.0
• 申請日: 2021-10-20
• 公開（公告）號: CN113702394A
• 公開（公告）日: 2021-11-26
• 發明（設計）人: 郭躍武;盧永斌
• 申請（專利權）人: 沂普光電（天津）有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G02B17/06
• 代理公司: 北京沁優知識產權代理有限公司 11684
• 代理人: 郭衍飛

本發明公開了一種用于檢測物體表面缺陷的光路結構，包括：發射裝置、第一極化鏡、第一反射鏡、第二反射鏡、第三反射鏡、半透半反鏡、第二極化鏡、平面鏡和接收裝置；發射裝置發射多個不同波長的光線至第一極化鏡上，形成一路平行光，經過第一反射鏡，平行光方向偏轉，反射到半透半反鏡上，平行光透過半透半反鏡入射到第二反射鏡上，經過第二反射鏡反射光線，從而照射到被測量物體的表面；被測量物體表面的光線反射至第二反射鏡上，通過第二反射鏡，再反射到半透半反鏡上，半透半反鏡反射光線至第三反射鏡上，從而將光線發射至平面鏡上，通過平面鏡反射到第二極化鏡上，使接收裝置接收光線。本發明可以檢測被測量物體表面的缺損情況。

技術領域

本發明涉及缺陷檢測技術領域，尤其是一種用于檢測物體表面缺陷的光路結構。

背景技術

探傷檢測是利用物質的聲、光、磁和電等特性，在不損害或不影響被檢測對象使用性能的前提下，檢測被檢對象中是否存在缺陷或不均勻性，給出缺陷大小、位置、性質和數量等信息。

在現有技術中，對管材進行探傷時，自動化程度不高，嚴重影響工作效率。例如，對核工業中使用的鋯合金管等管材進行探傷時，由于要求較高，基于現有的探傷設備，需要人工將每根鋯管送到探傷探頭處，整個探傷過程中可能需要多個人員進行配合，才能順利完成探傷操作，工作效率低下。

基于此，如何設計一種用于檢測物體表面缺陷的光路結構，是本領域技術人員亟待解決的問題。

發明內容

本發明提供了一種用于檢測物體表面缺陷的光路結構，實現了全自動檢測，不僅減少工作人員的勞動力，還提高了檢測效率。

本發明解決其技術問題是采取以下技術方案實現的：

本發明提供了一種用于檢測物體表面缺陷的光路結構，包括：發射裝置、第一極化鏡、第一反射鏡、第二反射鏡、第三反射鏡、半透半反鏡、第二極化鏡、平面鏡和接收裝置；

所述發射裝置發射多個不同波長的光線至所述第一極化鏡上，形成一路平行光，經過所述第一反射鏡，所述平行光方向偏轉，反射到所述半透半反鏡上，所述平行光透過所述半透半反鏡入射到所述第二反射鏡上，經過第二反射鏡反射光線，從而照射到被測量物體的表面；

所述被測量物體表面的光線反射至所述第二反射鏡上，通過所述第二反射鏡，再反射到所述半透半反鏡上，所述半透半反鏡反射光線至所述第三反射鏡上，從而將光線發射至所述平面鏡上，通過所述平面鏡反射到所述第二極化鏡上，使所述接收裝置接收光線。

可選地，在本發明中，所述發射裝置包括第一組發射器和第二組發射器；

所述第一組發射器和所述第二組發射器分別用于發射不同波長的光線；

所述第一組發射器和所述第二組發射器分別設在所述第一極化鏡的兩個不同受光面；

所述接收裝置包括第一組接收器和第二組接收器；

所述第一組接收器用于接收所述第一組發射器所發射出的光線，所述第二組接收器用于接收所述第二組發射器所發射出的光線；

所述第一組接收器和所述第二組接收器分別設在所述第二極化鏡的兩個不同受光面。

可選地，在本發明中，所述第一組發射器和所述第二組發射器垂直設置；

所述第一組接收器和所述第二組接收器垂直設置。

可選地，在本發明中，所述第一組發射器包括第一發射器以及與所述第一發射器平行設置的第二發射器，所述第二組發射器包括第三發射器以及與所述第三發射器平行設置的第四發射器；

所述第一組接收器包括第一接收器以及與所述第一接收器平行設置的第二接收器，所述第二組接收器包括第三接收器以及與所述第三接收器平行設置的第四接收器。

可選地，在本發明中，所述第一發射器的波段為110-170GHz；

所述第二發射器的波段為140-220GHz；

所述第三發射器的波段為220-330GHz；