[發(fā)明專利]基于體積分布系數(shù)的絕緣子上下表面不均勻積污分析方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111195114.2 | 申請日: | 2021-10-12 |
| 公開(公告)號: | CN113947040A | 公開(公告)日: | 2022-01-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張志勁;王繼來;蔣興良;王強(qiáng);喬新涵;李景坤;胡建林;林志海;胡琴 | 申請(專利權(quán))人: | 中鐵第一勘察設(shè)計院集團(tuán)有限公司;重慶大學(xué) |
| 主分類號: | G06F30/28 | 分類號: | G06F30/28;G06F113/08;G06F119/14 |
| 代理公司: | 北京海虹嘉誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11129 | 代理人: | 胡博文 |
| 地址: | 710043*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 體積 分布 系數(shù) 絕緣子 上下 表面 不均勻 分析 方法 | ||
本發(fā)明提供的一種基于體積分布系數(shù)的絕緣子上下表面不均勻積污分析方法,包括:S1.采集目標(biāo)輸電線路的絕緣子的積污參數(shù)并對積污參數(shù)進(jìn)行預(yù)處理;S2.將預(yù)處理后的積污參數(shù)輸入到流體力學(xué)計算軟件中,確定出目標(biāo)輸電線路的絕緣子的上表面污穢顆粒分布體積分?jǐn)?shù)vus和下表面污穢顆粒分布體積分?jǐn)?shù)vls;S3.根據(jù)絕緣子的上表面污穢顆粒分布體積分?jǐn)?shù)vus和下表面污穢顆粒分布體積分?jǐn)?shù)vls確定出目標(biāo)絕緣子的上表面和下表面在第i個時刻的不均勻度ki;S4.根據(jù)第i個時刻的不均勻度ki確定出目標(biāo)絕緣子在設(shè)定積污期的污穢不均度k,能夠準(zhǔn)確確定出絕緣子表面的污穢不均度狀態(tài)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種電力設(shè)備分析方法,尤其涉及一種基于體積分布系數(shù)的絕緣子上下表面不均勻積污分析方法。
背景技術(shù)
隨著城鄉(xiāng)經(jīng)濟(jì)的快速增長,我國大氣環(huán)境污染日趨嚴(yán)重。重污染工廠由城市中心遷往郊區(qū)及以燃煤為主要能源的鄉(xiāng)鎮(zhèn)企業(yè)大量出現(xiàn),工廠煙筒增高,均使工業(yè)污染波及面積迅速擴(kuò)大;公路建設(shè)發(fā)展迅速,交通流量的大幅增加以及公路網(wǎng)的密集均導(dǎo)致機(jī)動車尾氣排放污染的加劇。
絕緣子是電力網(wǎng)絡(luò)中極為重要的設(shè)備之一,其表面由于上述原因其積污也日益嚴(yán)重,絕緣子由于積污經(jīng)常發(fā)生閃絡(luò)事故,污穢有關(guān)的閃絡(luò)事故不僅和污穢度有關(guān),也與絕緣子的不均勻積污有關(guān),但現(xiàn)場測量絕緣上下表面不均勻積累污穢難度大,需要耗費大量的人力物力。
因此,為了解決上述技術(shù)問題,亟需提出一種新的技術(shù)手段。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明的目的是提供一種基于體積分布系數(shù)的絕緣子上下表面不均勻積污分析方法,充分考慮了目標(biāo)輸電線路所處區(qū)域的積污環(huán)境參數(shù),能夠準(zhǔn)確確定出絕緣子表面的污穢不均度狀態(tài),從而利于對絕緣子的積污狀態(tài)進(jìn)行準(zhǔn)確評估,準(zhǔn)確做出相應(yīng)的處理措施。
本發(fā)明提供的一種基于體積分布系數(shù)的絕緣子上下表面不均勻積污分析方法,包括以下步驟:
S1.采集目標(biāo)輸電線路的絕緣子的積污參數(shù)并對積污參數(shù)進(jìn)行預(yù)處理,積污參數(shù)包括污穢顆粒濃度、顆粒粒徑以及風(fēng)速;
S2.將預(yù)處理后的積污參數(shù)輸入到流體力學(xué)計算軟件中,確定出目標(biāo)輸電線路的絕緣子的上表面污穢顆粒分布體積分?jǐn)?shù)vus和下表面污穢顆粒分布體積分?jǐn)?shù)vls;
S3.根據(jù)絕緣子的上表面污穢顆粒分布體積分?jǐn)?shù)vus和下表面污穢顆粒分布體積分?jǐn)?shù)vls確定出目標(biāo)絕緣子的上表面和下表面在第i個時刻的不均勻度ki;
S4.根據(jù)第i個時刻的不均勻度ki確定出目標(biāo)絕緣子在設(shè)定積污期的污穢不均度k。
進(jìn)一步,步驟S3中,根據(jù)如下方法確定第i個時刻的不均勻度ki:
其中,vusi為第i個時刻的絕緣子上表面污穢顆粒分布體積分?jǐn)?shù);vlsi為第i個時刻的絕緣子下表面污穢顆粒分布體積分?jǐn)?shù)。
進(jìn)一步,步驟S4中,通過如下方法確定目標(biāo)絕緣子在設(shè)定積污期的污穢不均度k:
其中,s1為目標(biāo)絕緣子上表面積,s2為目標(biāo)絕緣子下表面積,n為設(shè)定積污期劃分的n個時刻。
進(jìn)一步,步驟S1中,通過如下方法對積污參數(shù)進(jìn)行預(yù)處理:
找出同一類別積污參數(shù)的最大值和最小值,并求出該類別積污參數(shù)極差;
將極差輸入到Excel的ROUNDUP函數(shù)中得出同一類別積污參數(shù)的分組情況;
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