[發明專利]一種半導體插接件檢測設備及其使用方法

有效

• 申請號: 202111176045.0
• 申請日: 2021-10-09
• 公開（公告）號: CN113675107B
• 公開（公告）日: 2022-01-04
• 發明（設計）人: 鄭劍華;蘇建國;張元元;孫彬;朱建
• 申請（專利權）人: 南通華隆微電子股份有限公司
• 主分類號: H01L21/66
• 分類號: H01L21/66;H01L21/67;H01L21/677;H01L21/48
• 代理公司: 南通國鑫智匯知識產權代理事務所(普通合伙) 32606
• 代理人: 王薇薇

1.一種半導體插接件檢測設備，其特征在于，包括：

機架（100），所述機架（100）上安裝有能夠移動的檢測機構（300）；

送料部（200），所述送料部（200）設置在所述機架（100）上，所述送料部（200）用于輸送帶若干引腳（000）的物料，所述送料部（200）具有一檢測缺口（210）；

所述檢測機構（300）包括能夠朝向所述檢測缺口（210）滑動的檢測板（310）和滑動連接在所述檢測板（310）上的檢測滑塊（320），所述檢測滑塊（320）上開設有與各引腳（000）一一對應的若干檢測盲孔（321），所述檢測滑塊（320）內設置有與所述檢測盲孔（321）一一對應的限位部（400），所述檢測板（310）上可伸縮地設置有若干切槽刀具（500），且各所述切槽刀具（500）與各所述限位部（400）一一對應，所述切槽刀具（500）卡入與其對應的所述限位部（400），以使所述檢測板（310）被頂緊，

所述檢測滑塊（320）的底部開設有一第一限位孔（322）；所述限位部（400）包括可滑動設置在所述第一限位孔（322）內的第一限位柱（410）；所述第一限位孔（322）與所述檢測盲孔（321）連通，所述第一限位柱（410）、所述第一限位孔（322）、所述切槽刀具（500）的橫截面相同；

引腳（000）插入所述檢測盲孔（321）時能夠頂推與其對應的所述限位部（400），以使所述切槽刀具（500）從與其對應的所述限位部（400）脫出；其中

當所有所述檢測盲孔（321）被各引腳（000）插入時，所述檢測滑塊（320）能夠相對所述檢測板（310）滑動至各切槽刀具（500）露出，以使所述切槽刀具（500）回彈至與對應引腳（000）相抵并對引腳（000）進行加工；

當至少一個所述檢測盲孔（321）未插入引腳（000）時，所述切槽刀具（500）保持頂緊所述檢測滑塊（320），以使所述檢測滑塊（320）跟隨所述檢測板（310）滑動至折彎引腳（000）。

2.如權利要求1所述的一種半導體插接件檢測設備，其特征在于，

所述第一限位孔（322）與所述檢測盲孔（321）連通，其中

當引腳（000）未插入所述檢測盲孔（321）時，所述第一限位柱（410）的伸入所述檢測盲孔（321），所述切槽刀具（500）伸入第一限位孔（322），所述切槽刀具（500）頂緊所述檢測滑塊（320）；

當所有所述檢測盲孔（321）被各引腳（000）插入時，各所述第一限位柱（410）的底部與所述檢測滑塊（320）的底部齊平，各所述切槽刀具（500）縮回所述檢測板（310），各所述切槽刀具（500）松開所述檢測滑塊（320），以使所述檢測滑塊（320）相對所述檢測板（310）滑動至各切槽刀具（500）露出，所述切槽刀具（500）能夠回彈至與對應引腳（000）相抵；

當至少一個所述檢測盲孔（321）未插入引腳（000）時，至少一個所述第一限位柱（410）伸入與其對應的所述檢測盲孔（321），至少一個所述切槽刀具（500）將滑入其對應的所述第一限位孔（322），所述切槽刀具（500）保持頂緊所述檢測滑塊（320），以使所述檢測滑塊（320）跟隨所述檢測板（310）滑動至折彎引腳（000）。

3.如權利要求2所述的一種半導體插接件檢測設備，其特征在于，

所述第一限位孔（322）的側壁開設有兩個限位室（3221），

所述限位部（400）還包括設置在所述限位室（3221）的底部的第一限位彈簧（420）和于所述第一限位柱（410）的側壁一體設置的兩個限位塊（411），所述限位塊（411）的底部與所述第一限位彈簧（420）固定連接；其中

當引腳（000）未插入所述檢測盲孔（321）時，所述第一限位柱（410）始終伸入所述檢測盲孔（321）。

4.如權利要求3所述的一種半導體插接件檢測設備，其特征在于，

所述檢測板（310）的頂部開設有豎直的貫穿槽（311），所述貫穿槽（311）內滑動設置有頂推塊（312），所述頂推塊（312）頂部開設有第二限位孔（313），所述切槽刀具（500）設置在所述第二限位孔（313）內，所述切槽刀具（500）的底部與所述第二限位孔（313）的孔底通過第二限位彈簧（430）連接。