[發(fā)明專利]一種變形監(jiān)測方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111171014.6 | 申請日: | 2021-10-08 |
| 公開(公告)號: | CN113819863B | 公開(公告)日: | 2022-08-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 韓軍強;涂銳;盧曉春;何楊;張睿;范麗紅;張鵬飛;洪菊 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院國家授時中心 |
| 主分類號: | G01B15/06 | 分類號: | G01B15/06;G01S19/43 |
| 代理公司: | 北京高沃律師事務(wù)所 11569 | 代理人: | 韓雪梅 |
| 地址: | 710600 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 變形 監(jiān)測 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明提供了一種變形監(jiān)測方法及系統(tǒng),方法包括獲取待測物的監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù);監(jiān)測站設(shè)置于待測物上;監(jiān)測站數(shù)量為1;對監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù)進行預(yù)處理,得到預(yù)處理后的監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù);基于預(yù)處理后的監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù)建立法方程,利用最小二乘方法對法方程進行求解,得到待測物的形變量;根據(jù)待測物的形變量,確定待測物是否發(fā)生形變。本發(fā)明最小二乘方法對基于單個監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù)建立的法方程進行求解,進而確定待測物是否形變,在減少了監(jiān)測站數(shù)量的同時提高了監(jiān)測的精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及變形監(jiān)測技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種變形監(jiān)測方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
大壩、橋梁、尾礦等變形危害嚴(yán)重,體表變形是其形變大小的關(guān)鍵判斷因素之一。目前可用于變形監(jiān)測的傳統(tǒng)傳感器包括裂縫計、位移計和傾斜儀等。其中,拉繩式位移計施工難度大,建造成本高;傾斜儀僅能感知傾斜變形;隨著全球衛(wèi)星導(dǎo)航技術(shù)以及激光雷達(dá)技術(shù)等新興感知技術(shù)的興起,采用新興感知技術(shù)的變形監(jiān)測方法也逐步得到研究和應(yīng)用。而激光雷達(dá)由于實施難度大、監(jiān)測成本高,目前應(yīng)用較少。全球衛(wèi)星導(dǎo)航技術(shù)有著全天候、全天時、精度高等特點。目前,可用于變形監(jiān)測的衛(wèi)星技術(shù)主要有實時差分定位(RTK)。實時差分定位監(jiān)測技術(shù)主要原理是基準(zhǔn)站與監(jiān)測站同時觀測相同的衛(wèi)星,通過星間差分后再站間差分的方式消除觀測值中存在的衛(wèi)星鐘、接收機鐘、電離層和對流層等主要誤差,再利用干凈的觀測值估計監(jiān)測點的形變量,但該技術(shù)的缺點是必須依賴多個高性能的基準(zhǔn)站,帶來額外的監(jiān)測成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種變形監(jiān)測方法及系統(tǒng),能夠基于獨立監(jiān)測站監(jiān)測被測建筑物的形變量,同時保證監(jiān)測的精度。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了如下方案:
一種變形監(jiān)測方法,包括:
獲取待測物的監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù);所述監(jiān)測站設(shè)置于所述待測物上;所述監(jiān)測站數(shù)量為1;
對所述監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù)進行預(yù)處理,得到預(yù)處理后的監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù);
基于所述預(yù)處理后的監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù)建立法方程,利用最小二乘方法對所述法方程進行求解,得到待測物的形變量;
根據(jù)所述待測物的形變量,確定所述待測物是否發(fā)生形變。
可選的,所述對所述監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù)進行預(yù)處理,得到預(yù)處理后的監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù),具體包括:
對所述監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù)進行解碼,得到解碼后的監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù);
對所述解碼后的監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù)進行插值處理,得到插值處理后的監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù);
判斷所述插值處理后的監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù)中是否存在異常數(shù)據(jù),并對異常數(shù)據(jù)進行剔除處理,得到剔除處理后的監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù);
對所述剔除處理后的監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù)進行誤差修正處理,得到所述預(yù)處理后的待測物的監(jiān)測站觀測數(shù)據(jù)。
可選的,
所述法方程為:
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