[發(fā)明專利]電磁場(chǎng)近場(chǎng)測(cè)試方法、系統(tǒng)、可讀存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111161940.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-09-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113917239B | 公開(公告)日: | 2022-07-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蘇棟才;東君偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中山香山微波科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R29/08 | 分類號(hào): | G01R29/08 |
| 代理公司: | 深圳瑞天謹(jǐn)誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44340 | 代理人: | 溫青玲 |
| 地址: | 528437 廣東省中山市火*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電磁場(chǎng) 近場(chǎng) 測(cè)試 方法 系統(tǒng) 可讀 存儲(chǔ) 介質(zhì) 計(jì)算機(jī) 設(shè)備 | ||
本申請(qǐng)適用于測(cè)試領(lǐng)域,提供了一種電磁場(chǎng)近場(chǎng)測(cè)試方法、系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)設(shè)備。所述方法包括:在選擇的坐標(biāo)系下,控制運(yùn)動(dòng)裝置使DUT和探頭發(fā)生隨機(jī)相對(duì)運(yùn)動(dòng),產(chǎn)生多個(gè)隨機(jī)測(cè)量點(diǎn),并確定探頭的一個(gè)或多個(gè)姿態(tài),得出分別與探頭的姿態(tài)對(duì)應(yīng)的電磁場(chǎng)系數(shù);獲取所有探頭采集到的電磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量值,得到測(cè)量值集合;根據(jù)測(cè)量值集合和分別與探頭的姿態(tài)對(duì)應(yīng)的電磁場(chǎng)系數(shù),根據(jù)電磁學(xué)中的洛倫茨互易定律,并通過(guò)凸優(yōu)化算法求解出DUT的電磁場(chǎng)系數(shù);根據(jù)所述DUT的電磁場(chǎng)系數(shù)得到DUT的遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖或者DUT以外任意一點(diǎn)的電場(chǎng)和/或磁場(chǎng)。本申請(qǐng)需要的測(cè)量點(diǎn)比傳統(tǒng)算法少得多,極大提高了測(cè)試效率,且對(duì)DUT電磁場(chǎng)的計(jì)算范圍要比傳統(tǒng)方法的要廣。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)屬于測(cè)試領(lǐng)域,尤其涉及一種電磁場(chǎng)近場(chǎng)測(cè)試方法、系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)設(shè)備。
背景技術(shù)
傳統(tǒng)的電磁場(chǎng)近場(chǎng)測(cè)試方法包括:平面近場(chǎng)測(cè)試方法、柱面近場(chǎng)測(cè)試方法以及球面近場(chǎng)測(cè)試方法。這些近場(chǎng)測(cè)試方法分別是在平面坐標(biāo)系、柱面坐標(biāo)系以及球面坐標(biāo)系下對(duì)物理方程中的洛倫茨互易定理進(jìn)行離散,使得待求變量(例如DUT(Device Under Test,待測(cè)物)的平面波系數(shù)、柱面波系數(shù)或球面波系數(shù))與探頭采集到的測(cè)量值呈傅里葉變換關(guān)系,這種關(guān)系使得探頭的測(cè)量點(diǎn)是在采樣平面、采樣柱面或采樣球面上固定的網(wǎng)格點(diǎn),網(wǎng)格點(diǎn)的間隔滿足Nyquist采樣定律,即網(wǎng)格點(diǎn)的間隔為半波長(zhǎng)。當(dāng)DUT的工作頻率增加時(shí),所需要的測(cè)量點(diǎn)總數(shù)會(huì)急劇增多。例如在給定一個(gè)正方形測(cè)量區(qū)域內(nèi),傳統(tǒng)的平面近場(chǎng)測(cè)試方法需要至少(2/λ)2個(gè)在正方形測(cè)量區(qū)域內(nèi)的測(cè)量點(diǎn)才能求解出DUT的遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖,λ表示波長(zhǎng),與工作頻率成反比。因此當(dāng)DUT的工作頻率增加時(shí),傳統(tǒng)的電磁場(chǎng)近場(chǎng)測(cè)試方法所需的測(cè)量點(diǎn)總數(shù)就隨著工作頻率的平方成正比的增長(zhǎng),測(cè)試效率也就隨工作頻率的平方成正比的下降,從而極大限制了其在高頻率場(chǎng)景(如5G,6G的DUT)的測(cè)試效率。
發(fā)明內(nèi)容
本申請(qǐng)的目的在于提供一種電磁場(chǎng)近場(chǎng)測(cè)試方法、系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)設(shè)備,旨在解決當(dāng)DUT的工作頻率增加時(shí),傳統(tǒng)的電磁場(chǎng)近場(chǎng)測(cè)試方法所需的測(cè)量點(diǎn)總數(shù)就隨著工作頻率的平方成正比的增長(zhǎng),測(cè)試效率也就隨工作頻率的平方成正比的下降,從而極大限制了其在高頻率場(chǎng)景的測(cè)試效率的問(wèn)題。
第一方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N電磁場(chǎng)近場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng),包括計(jì)算機(jī)設(shè)備和分別與計(jì)算機(jī)設(shè)備連接的用于產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)的信號(hào)源、信號(hào)接收機(jī)、運(yùn)動(dòng)裝置和至少一探頭,
其中信號(hào)源、信號(hào)接收機(jī)、探頭和待測(cè)物DUT形成測(cè)試信號(hào)的閉合鏈路;
所述運(yùn)動(dòng)裝置用于接受所述計(jì)算機(jī)設(shè)備的控制,使DUT和探頭發(fā)生隨機(jī)相對(duì)運(yùn)動(dòng),產(chǎn)生多個(gè)隨機(jī)測(cè)量點(diǎn);
當(dāng)所述探頭與所述信號(hào)接收機(jī)連接時(shí),所述信號(hào)源與DUT連接,當(dāng)所述探頭與所述信號(hào)源連接時(shí),所述信號(hào)接收機(jī)與DUT連接,所述探頭用于采集多個(gè)隨機(jī)測(cè)量點(diǎn)的電磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量值,并直接傳輸給所述信號(hào)接收機(jī)或者傳輸給DUT后再由DUT傳輸給所述信號(hào)接收機(jī);
所述信號(hào)接收機(jī)用于對(duì)所述探頭采集的電磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量值進(jìn)行分析處理后提供給計(jì)算機(jī)設(shè)備;
所述計(jì)算機(jī)設(shè)備用于選擇任意一個(gè)坐標(biāo)系,使得待求的DUT的電磁場(chǎng)系數(shù)呈現(xiàn)出稀疏特征;在選擇的坐標(biāo)系下,控制運(yùn)動(dòng)裝置使DUT和探頭發(fā)生隨機(jī)相對(duì)運(yùn)動(dòng),產(chǎn)生多個(gè)隨機(jī)測(cè)量點(diǎn),并確定探頭的一個(gè)或多個(gè)姿態(tài),得出分別與探頭的姿態(tài)對(duì)應(yīng)的電磁場(chǎng)系數(shù);獲取經(jīng)信號(hào)接收機(jī)分析處理后的所有探頭采集到的電磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量值,得到測(cè)量值集合;根據(jù)測(cè)量值集合和分別與探頭的姿態(tài)對(duì)應(yīng)的電磁場(chǎng)系數(shù),根據(jù)電磁學(xué)中的洛倫茨互易定律,并通過(guò)凸優(yōu)化算法求解出DUT的電磁場(chǎng)系數(shù),并根據(jù)所述DUT的電磁場(chǎng)系數(shù)得到DUT的遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖或者DUT以外任意一點(diǎn)的電場(chǎng)和/或磁場(chǎng)。
第二方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N電磁場(chǎng)近場(chǎng)測(cè)試方法,所述方法包括:
選擇任意一個(gè)坐標(biāo)系,使得待求的DUT的電磁場(chǎng)系數(shù)呈現(xiàn)出稀疏特征;
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R29-00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各組中的電量的測(cè)量或指示裝置
G01R29-02 .單個(gè)脈沖特性的測(cè)量,如脈沖平度的偏差、上升時(shí)間、持續(xù)時(shí)間
G01R29-04 .形狀因數(shù)的測(cè)量,即瞬時(shí)值的均方根值和算術(shù)平均值的商;峰值因數(shù)的測(cè)量,即最大值和均方根值的商
G01R29-06 .調(diào)制深度的測(cè)量
G01R29-08 .電磁場(chǎng)特性的測(cè)量
G01R29-12 .靜電場(chǎng)的測(cè)量
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