[發(fā)明專利]電磁場近場測試方法、系統(tǒng)、可讀存儲介質(zhì)及計(jì)算機(jī)設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111161940.5
• 申請日: 2021-09-30
• 公開（公告）號: CN113917239B
• 公開（公告）日: 2022-07-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蘇棟才;東君偉
• 申請（專利權(quán)）人: 中山香山微波科技有限公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08
• 代理公司: 深圳瑞天謹(jǐn)誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44340
• 代理人: 溫青玲

1.一種電磁場近場測試系統(tǒng)，其特征在于，包括計(jì)算機(jī)設(shè)備和分別與計(jì)算機(jī)設(shè)備連接的用于產(chǎn)生測試信號的信號源、信號接收機(jī)、運(yùn)動裝置和至少一探頭，其中信號源、信號接收機(jī)、探頭和待測物DUT形成測試信號的閉合鏈路；

所述運(yùn)動裝置用于接受所述計(jì)算機(jī)設(shè)備的控制，使DUT和探頭發(fā)生隨機(jī)相對運(yùn)動，產(chǎn)生多個(gè)隨機(jī)測量點(diǎn)；

當(dāng)所述探頭與所述信號接收機(jī)連接時(shí)，所述信號源與DUT連接，當(dāng)所述探頭與所述信號源連接時(shí)，所述信號接收機(jī)與DUT連接，所述探頭用于采集多個(gè)隨機(jī)測量點(diǎn)的電磁場信號測量值，并直接傳輸給所述信號接收機(jī)或者傳輸給DUT后再由DUT傳輸給所述信號接收機(jī)；

所述信號接收機(jī)用于對所述探頭采集的電磁場信號測量值進(jìn)行分析處理后提供給計(jì)算機(jī)設(shè)備；

所述計(jì)算機(jī)設(shè)備用于選擇任意一個(gè)坐標(biāo)系，使得待求的DUT的電磁場系數(shù)呈現(xiàn)出稀疏特征；在選擇的坐標(biāo)系下，控制運(yùn)動裝置使DUT和探頭發(fā)生隨機(jī)相對運(yùn)動，產(chǎn)生多個(gè)隨機(jī)測量點(diǎn)，并確定探頭的一個(gè)或多個(gè)姿態(tài)，得出分別與探頭的姿態(tài)對應(yīng)的電磁場系數(shù)；獲取經(jīng)所述信號接收機(jī)分析處理后所有探頭采集到的電磁場信號測量值，得到測量值集合；根據(jù)測量值集合和分別與探頭的姿態(tài)對應(yīng)的電磁場系數(shù)，根據(jù)電磁學(xué)中的洛倫茨互易定律，并通過凸優(yōu)化算法求解出DUT的電磁場系數(shù)，并根據(jù)所述DUT的電磁場系數(shù)得到DUT的遠(yuǎn)場方向圖或者DUT以外任意一點(diǎn)的電場和/或磁場。

2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述運(yùn)動裝置與DUT連接，以控制DUT運(yùn)動；或者，所述運(yùn)動裝置與探頭連接，以控制探頭運(yùn)動；或者，所述運(yùn)動裝置同時(shí)與DUT和探頭連接，以控制DUT和探頭運(yùn)動。

3.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述信號源是獨(dú)立的外部信號發(fā)射裝置或者是射頻器件中自帶的信號發(fā)射裝置；所述信號接收機(jī)是獨(dú)立的外部信號接收裝置或者是射頻器件中自帶的信號接收裝置；

或者，所述信號源和信號接收機(jī)是一體的。

4.一種電磁場近場測試方法，其特征在于，所述方法包括：

S101、選擇任意一個(gè)坐標(biāo)系，使得待求的DUT的電磁場系數(shù)呈現(xiàn)出稀疏特征；

S102、在選擇的坐標(biāo)系下，控制運(yùn)動裝置使DUT和探頭發(fā)生隨機(jī)相對運(yùn)動，產(chǎn)生多個(gè)隨機(jī)測量點(diǎn)，并確定探頭的一個(gè)或多個(gè)姿態(tài)，得出分別與探頭的姿態(tài)對應(yīng)的電磁場系數(shù)；

S103、獲取所有探頭采集到的電磁場信號測量值，得到測量值集合；

S104、根據(jù)測量值集合、隨機(jī)測量點(diǎn)的位置和分別與探頭的姿態(tài)對應(yīng)的電磁場系數(shù)，根據(jù)電磁學(xué)中的洛倫茨互易定律，通過凸優(yōu)化算法求解出DUT的電磁場系數(shù)；

S105、根據(jù)所述DUT的電磁場系數(shù)得到DUT的遠(yuǎn)場方向圖或者DUT以外任意一點(diǎn)的電場和/或磁場。

5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述S102具體為：

在選擇的坐標(biāo)系下，定義隨機(jī)分布的測量點(diǎn)，在DUT以外的空間區(qū)域Ω^c隨機(jī)生成N個(gè)測量點(diǎn)p_i，1≤i≤N，N是大于1的自然數(shù)；

以探頭中心點(diǎn)為原點(diǎn)，確定探頭在選擇的坐標(biāo)系下對應(yīng)的K個(gè)姿態(tài)，K是大于或等于1的自然數(shù)；

根據(jù)探頭的規(guī)格以及探頭的K個(gè)姿態(tài)，得出分別與探頭的K個(gè)姿態(tài)對應(yīng)的K個(gè)電磁場系數(shù)。

6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述S103具體為：

獲取所有探頭采集到的電磁場信號測量值，得到測量值集合其中表示探頭位于j姿態(tài)，位于測量點(diǎn)p_i時(shí)，對DUT的測量值。