[發(fā)明專利]對向靶磁控濺射無損傷薄膜沉積系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202111157623.6 | 申請日: | 2021-09-30 |
| 公開(公告)號: | CN113913775A | 公開(公告)日: | 2022-01-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃仕華;李林華;郝亞非 | 申請(專利權(quán))人: | 浙江師范大學(xué) |
| 主分類號: | C23C14/56 | 分類號: | C23C14/56;C23C14/35;C23C14/08 |
| 代理公司: | 杭州之江專利事務(wù)所(普通合伙) 33216 | 代理人: | 朱楓 |
| 地址: | 321004 *** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 磁控濺射 損傷 薄膜 沉積 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明公開了一種對向靶磁控濺射無損傷薄膜沉積系統(tǒng),包括襯底和兩個對向靶,兩個對向靶對稱布置于襯底前方,并分別與襯底形成正、負(fù)250~300的夾角,在對向靶與襯底之間插入了一個網(wǎng)孔狀金屬板作為陽極,襯底兩側(cè)設(shè)置有磁場。本發(fā)明可以在室溫下采用磁控濺射方法在有機(jī)薄膜上進(jìn)行無損傷沉積TCO。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于透明導(dǎo)電氧化物薄膜領(lǐng)域,涉及一種對向靶磁控濺射無損傷薄膜沉積系統(tǒng)。
背景技術(shù)
在有機(jī)光電子器件中,如有機(jī)發(fā)光二極管、有機(jī)太陽能電池等,通常需要透明電極。很薄的金屬可以用作電極,電阻率很低,但存在光透過率低、金屬容易氧化、經(jīng)常銅線短路等問題。透明導(dǎo)電氧化物(TCO)薄膜具有光透過率高、導(dǎo)電性能優(yōu)良等特點(diǎn),因此TCO是作為有機(jī)光電子器件中透明電極的最佳選擇。
采用溶液法工藝制備TCO普遍存在穩(wěn)定性低、電阻率高、重復(fù)性差等問題,產(chǎn)業(yè)化推廣的可能性很小。基于真空工藝制備的TCO薄膜,具有穩(wěn)定性高、電阻率低、重復(fù)性好等特點(diǎn)。直流磁控濺射沉積是目前制備TCO成熟度最高的產(chǎn)業(yè)化技術(shù),然而在有機(jī)薄膜上沉積TCO,來自等離子體的加速高能荷電粒子(如二次電子和氧負(fù)離子等)直接對有機(jī)物襯底轟擊,容易導(dǎo)致底層有機(jī)-無機(jī)雜化層的嚴(yán)重?fù)p壞,同時也會引起襯底溫度升高,從而進(jìn)一步影響有機(jī)光電器件的性能與壽命。采用原子層沉積(ALD)技術(shù)預(yù)先在有機(jī)薄膜上沉積一層TCO,阻擋后續(xù)磁控濺射過程中等離子體對有機(jī)薄膜的損傷,然而由于ALD技術(shù)的局限性(耗時、高溫、有害氣體處理、高成本等),ALD生長的緩沖層并不適合商業(yè)化推廣。
目前也有一些方案來實(shí)現(xiàn)在有機(jī)襯底上采用磁控濺射進(jìn)行低損傷的TCO沉積,主要分別為兩類:通過降低濺射功率,減少等離子體中荷電粒子的能量,減少等離子體對襯底材料的轟擊;另一類是通過對磁控濺射系統(tǒng)的優(yōu)化設(shè)計,比如是對向靶磁控濺射技術(shù),屏蔽掉部分荷電粒子。一般情況下,濺射功率低會導(dǎo)致濺射產(chǎn)額較低,從而降低了沉積速率,延長沉積時間。在對向靶磁控濺射系統(tǒng)中,由于磁場不能全部垂直于兩靶形成閉合磁場,磁場的強(qiáng)度和結(jié)構(gòu)受磁體的性質(zhì)和排列方式的限制,使襯底暴露在部分磁力線中,使得部分等離子體中的荷電粒子(如二次電子、氧負(fù)離子等)將沿著磁力線移動,從等離子體區(qū)逃逸,轟擊襯底,造成對有機(jī)薄膜的損傷。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種對向靶磁控濺射無損傷薄膜沉積系統(tǒng),從而可以在室溫下采用磁控濺射方法在有機(jī)薄膜上進(jìn)行無損傷沉積TCO。
為此,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是這樣的:對向靶磁控濺射無損傷薄膜沉積系統(tǒng),包括襯底和兩個對向靶,其特征在于:兩個對向靶對稱布置于襯底前方,并分別與襯底形成正、負(fù)250~300的夾角,在對向靶與襯底之間插入了一個網(wǎng)孔狀金屬板作為陽極。
進(jìn)一步地,襯底兩側(cè)設(shè)置有磁場。
兩個對向靶之間還具有一實(shí)心金屬板作為陽極,與所述的網(wǎng)孔狀金屬板平行,設(shè)置在網(wǎng)孔狀金屬板相對于襯底的另一側(cè)。
本發(fā)明的技術(shù)效果在于:首先,采用對向靶磁控濺射技術(shù),為了提高從靶材被濺射出來的中性原子抵達(dá)襯底表面的密度,兩個對向靶與襯底之間不是平行的,而是有一個夾角;其次,在對向靶與襯底之間插入了一個網(wǎng)孔狀金屬板,阻擋二次電子、氧負(fù)離子等高能粒子,避免對襯底材料的轟擊;第三,在襯底兩側(cè)增加磁場,使得沒有被金屬網(wǎng)孔阻擋的二次電子、氧負(fù)離子在新增磁場的洛侖磁力作用下做螺旋式的拉莫爾進(jìn)動,進(jìn)一步減少襯底的直接轟擊;第四,在對向靶之間設(shè)置了兩個陽極,增加了兩靶之間氣體的等離子化強(qiáng)度,使更多的已電離荷電粒子轟擊靶材,從而提高靶材的濺射產(chǎn)額。
附圖說明
圖1是本發(fā)明設(shè)計的對向靶磁控濺射無損傷薄膜沉積系統(tǒng)示意圖。
具體實(shí)施方式
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