[發(fā)明專利]芯片功耗調(diào)整、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練方法、裝置以及芯片系統(tǒng)

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202111157365.1
• 申請(qǐng)日: 2021-09-30
• 公開（公告）號(hào): CN113885691A
• 公開（公告）日: 2022-01-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王勇;丁雨
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海商湯阡誓科技有限公司
• 主分類號(hào): G06F1/3206
• 分類號(hào): G06F1/3206
• 代理公司: 北京中知恒瑞知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11889
• 代理人: 吳迪

1.一種芯片功耗調(diào)整方法，其特征在于，應(yīng)用于包含至少一個(gè)芯片的芯片系統(tǒng)，每個(gè)芯片包含至少一個(gè)處理核，包括：

獲取所述芯片系統(tǒng)的芯片測試信息；所述芯片測試信息用于指示每個(gè)芯片中所包含的每個(gè)處理核的運(yùn)行狀態(tài)；

在基于所述芯片測試信息確定所述芯片系統(tǒng)存在冗余元件的情況下，確定所述芯片系統(tǒng)針對(duì)所述冗余元件的待分配功耗；所述冗余元件包含：冗余芯片和/或冗余處理核；

基于所述待分配功耗調(diào)整所述芯片系統(tǒng)中目標(biāo)元件的工作參數(shù)，以調(diào)整所述目標(biāo)元件的功耗；所述目標(biāo)元件為所述芯片系統(tǒng)中除冗余元件之外的部分或者全部元件。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取所述芯片系統(tǒng)的芯片測試信息，包括以下至少之一：

在檢測到所述芯片系統(tǒng)每次執(zhí)行上電操作的過程中，在所述芯片系統(tǒng)的存儲(chǔ)器中讀取所述芯片測試信息；

在檢測到當(dāng)前時(shí)刻達(dá)到所述芯片系統(tǒng)的預(yù)設(shè)檢測時(shí)刻的情況下，在所述芯片系統(tǒng)的存儲(chǔ)器中讀取所述芯片測試信息；

在檢測到針對(duì)所述芯片系統(tǒng)的存儲(chǔ)器的修改操作的情況下，在所述芯片系統(tǒng)的存儲(chǔ)器中讀取所述芯片測試信息。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述待分配功耗調(diào)整所述芯片系統(tǒng)中目標(biāo)元件的工作參數(shù)，包括：

獲取所述芯片系統(tǒng)中第一剩余元件的元件優(yōu)先級(jí)；所述第一剩余元件為所述芯片系統(tǒng)中除所述冗余元件之外的剩余芯片和/或剩余處理核；

基于所述元件優(yōu)先級(jí)，在所述第一剩余元件中確定所述目標(biāo)元件，并基于所述待分配功耗調(diào)整所述目標(biāo)元件的工作參數(shù)，其中，所述工作參數(shù)包含：工作電壓和/或工作頻率。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述待分配功耗調(diào)整所述芯片系統(tǒng)中目標(biāo)元件的工作參數(shù)，包括：

獲取所述目標(biāo)元件的功耗約束信息；

基于所述功耗約束信息和所述待分配功耗，調(diào)整所述目標(biāo)元件的工作參數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述功耗約束信息和所述待分配功耗，調(diào)整所述目標(biāo)元件的工作參數(shù)，包括：

獲取所述芯片系統(tǒng)中預(yù)先設(shè)定的所述目標(biāo)元件的工作參數(shù)的調(diào)整范圍；所述調(diào)整范圍用于指示所述芯片系統(tǒng)中各個(gè)芯片和各個(gè)處理核處于正常工作狀態(tài)下的工作參數(shù)的調(diào)整范圍；

在所述調(diào)整范圍內(nèi)，基于所述功耗約束信息調(diào)整所述目標(biāo)元件的工作參數(shù)，以在所述待分配功耗中為所述目標(biāo)元件分配相應(yīng)的功耗。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述調(diào)整范圍為基于第一范圍和第二范圍確定的，所述第一范圍為基于所述目標(biāo)元件的標(biāo)準(zhǔn)工作參數(shù)確定的所述目標(biāo)元件處于正常運(yùn)行狀態(tài)下的工作參數(shù)的參數(shù)范圍，所述第二范圍為基于所述目標(biāo)元件的調(diào)整工作參數(shù)確定的所述目標(biāo)元件處于正常運(yùn)行狀態(tài)下的工作參數(shù)的參數(shù)范圍，所述調(diào)整工作參數(shù)為基于預(yù)設(shè)調(diào)整數(shù)值對(duì)工作參數(shù)進(jìn)行調(diào)整之后的參數(shù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在基于所述芯片測試信息確定所述芯片系統(tǒng)存在冗余元件的情況下，生成時(shí)鐘關(guān)閉指令，以通過所述時(shí)鐘關(guān)閉指令關(guān)閉所述芯片系統(tǒng)中與所述冗余元件相對(duì)應(yīng)的時(shí)鐘電路。

8.根據(jù)權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在所述芯片系統(tǒng)的工作過程中，按照預(yù)設(shè)檢查周期檢查所述芯片系統(tǒng)中處于異常工作元件，其中，所述異常工作元件包含處于異常工作狀態(tài)的芯片和/或處理核；

在檢查到所述異常工作元件的情況下，更新所述芯片測試信息，并調(diào)整所述芯片系統(tǒng)中除所述冗余元件和所述異常工作元件之外的第二剩余元件的工作參數(shù)。

9.一種神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練方法，其特征在于，包括：

獲取針對(duì)待訓(xùn)練神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的目標(biāo)訓(xùn)練任務(wù)；

在芯片系統(tǒng)中除冗余元件之外的剩余元件中，為所述目標(biāo)訓(xùn)練任務(wù)確定訓(xùn)練元件，以通過所述訓(xùn)練元件執(zhí)行所述目標(biāo)訓(xùn)練任務(wù)；其中，所述剩余元件為通過上述權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的芯片功耗調(diào)整方法進(jìn)行功耗調(diào)整之后的元件。