[發(fā)明專利]芯片功耗調整、神經網絡訓練方法、裝置以及芯片系統

在審

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• 申請日: 2021-09-30
• 公開（公告）號: CN113885691A
• 公開（公告）日: 2022-01-04
• 發(fā)明（設計）人: 王勇;丁雨
• 申請（專利權）人: 上海商湯阡誓科技有限公司
• 主分類號: G06F1/3206
• 分類號: G06F1/3206
• 代理公司: 北京中知恒瑞知識產權代理事務所(普通合伙) 11889
• 代理人: 吳迪

本公開提供了一種芯片功耗調整、神經網絡訓練方法、裝置以及芯片系統，其中，該方法包括：獲取所述芯片系統的芯片測試信息；所述芯片測試信息用于指示每個芯片中所包含的每個處理核的運行狀態(tài)；在基于所述芯片測試信息確定所述芯片系統存在冗余元件的情況下，確定所述芯片系統針對所述冗余元件的待分配功耗；所述冗余元件包含：冗余芯片和/或冗余處理核；基于所述待分配功耗調整所述芯片系統中目標元件的工作參數，以調整所述目標元件的功耗；所述目標元件為所述芯片系統中除冗余元件之外的部分或者全部元件。

技術領域

本公開涉及芯片技術領域，具體而言，涉及一種芯片功耗調整、神經網絡訓練方法、裝置以及芯片系統。

背景技術

在芯片設計領域，為了提高芯片的合格率，可以設置芯片的合格規(guī)則，該合格規(guī)則可以指示被認定為合格的芯片中所包含不能正常工作的處理核的上限值。但是，該方法在提高了芯片合格率的同時，降低了芯片系統的性能。比如，不能正常工作的處理核的上限值為一個，那么現有技術雖然可以提高芯片的合格率，但是該芯片僅能通過剩余的處理核對應性能來工作。特別是對芯片的工作頻率要求較高的芯片，例如，AI(ArtificialIntelligence，人工智能)訓練芯片。由于對AI訓練芯片的高算力要求，促使芯片系統的設計面積更大，線寬更小，進而提高了芯片系統設計的成本，還影響芯片系統的合格率。在采用上述合格規(guī)則提高芯片合格率的同時，會造成功耗的損失，從而影響AI訓練芯片的性能，進而影響AI訓練芯片的工作效率。

發(fā)明內容

本公開實施例至少提供一種芯片功耗調整、神經網絡訓練方法、裝置以及芯片系統。

第一方面，本公開實施例提供了一種芯片功耗調整方法，該方法應用于包含至少一個芯片的芯片系統，每個芯片包含至少一個處理核，包括：獲取所述芯片系統的芯片測試信息；所述芯片測試信息用于指示每個芯片中所包含的每個處理核的運行狀態(tài)；在基于所述芯片測試信息確定所述芯片系統存在冗余元件的情況下，確定所述芯片系統針對所述冗余元件的待分配功耗；所述冗余元件包含：冗余芯片和/或冗余處理核；基于所述待分配功耗調整所述芯片系統中目標元件的工作參數，以調整所述目標元件的功耗；所述目標元件為所述芯片系統中除冗余元件之外的部分或者全部元件。

通過上述描述可知，本公開實施例，通過獲取芯片系統的芯片測試信息，可以確定芯片系統中所包含的冗余元件，同時還可以確定該芯片系統中針對該冗余元件的待分配功耗，進而利用待分配功耗調整芯片系統中除了冗余元件之外的部分或者全部元件(也即，目標元件)的工作參數，從而實現芯片系統中目標元件功耗的調整。通過針對冗余元件的待分配功耗調整目標元件的工作參數，可以提高芯片系統中功耗的利用率，從而減少了芯片系統中功耗的損失，同時還可以提高芯片系統的性能。

一種可選的實施方式中，所述獲取所述芯片系統的芯片測試信息，包括以下至少之一：在檢測到所述芯片系統每次執(zhí)行上電操作的過程中，在所述芯片系統的存儲器中讀取所述芯片測試信息；在檢測到當前時刻達到所述芯片系統的預設檢測時刻的情況下，在所述芯片系統的存儲器中讀取所述芯片測試信息；在檢測到針對所述芯片系統的存儲器的修改操作的情況下，在所述芯片系統的存儲器中讀取所述芯片測試信息。

在本公開實施例中，通過設置上述獲取芯片測試信息的觸發(fā)條件，可以并通過定期讀取芯片測試信息來實時的檢測芯片系統內元件工作狀態(tài)的變化，從而及時的發(fā)現故障的元件，進而可以及時調整芯片系統中各芯片的處理核的功耗及任務的分配，使芯片系統不斷保持高效運行。

一種可選的實施方式中，所述基于所述待分配功耗調整所述芯片系統中目標元件的工作參數，包括：獲取所述芯片系統中第一剩余元件的元件優(yōu)先級；所述第一剩余元件為所述芯片系統中除所述冗余元件之外的剩余芯片和/或剩余處理核；基于所述元件優(yōu)先級，在所述第一剩余元件中確定所述目標元件，并基于所述待分配功耗調整所述目標元件的工作參數，其中，所述工作參數包含：工作電壓和/或工作頻率。