[發(fā)明專利]一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法

在審

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• 申請日: 2021-09-29
• 公開（公告）號: CN113934806A
• 公開（公告）日: 2022-01-14
• 發(fā)明（設計）人: 吳國東
• 申請（專利權）人: 核工業(yè)北京地質研究院
• 主分類號: G06F16/29
• 分類號: G06F16/29;G06F16/56
• 代理公司: 核工業(yè)專利中心 11007
• 代理人: 高安娜

本發(fā)明屬于礦產(chǎn)資源勘查技術領域，具體涉及一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法。將工作區(qū)劃分，生成地貌空間分布矢量文件和地質單元矢量文件，進行相交處理，得到同時包含地貌和地質信息的多個子區(qū)，確定子區(qū)的土壤地球化學異常下限值，得到整個工作區(qū)的各個實測點的土壤地球化學數(shù)據(jù)參照值，將工作區(qū)的某實測點的實測土壤地球化學數(shù)據(jù)減去該點的土壤地球化學數(shù)據(jù)參照值，差值大于零的所有實測點所圍成的區(qū)域即為地球化學異常分布區(qū)域。能夠有效地從土壤地球化學低背景場中提取出異常信息，從而準確圈定工作區(qū)土壤地球化學異常分布區(qū)域。

技術領域

本發(fā)明屬于礦產(chǎn)資源勘查技術領域，具體涉及一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法。

背景技術

土壤地球化學測量作為一種經(jīng)典的化探方法，在我國礦產(chǎn)資源勘查中得到廣泛應用。由于土壤地球化學測量結果受到較多因素的影響，如土壤覆蓋層厚度、地形地貌、地層巖性等，以往整個工作區(qū)采用一個異常下限值無法滿足大面積勘查工作的需要，也不符合工作區(qū)的實際地質情況。在實際工作中，工作區(qū)的地質情況往往比較復雜，常分布多種不同的巖性或地層，其具有不同的地球化學背景值。如果整個工作區(qū)采用同一數(shù)值作為異常下限，不但難以反映局部地段之間的地球化學場差異，而且容易遺失對地質找礦工作具有重要意義的異常信息。

因此，亟需開發(fā)一種符合工作區(qū)實際地質情況且能夠有效處理大面積土壤地球化學測量數(shù)據(jù)的精細化方法，從而準確地識別出與礦化有關的異常信息，為礦產(chǎn)資源勘查提供依據(jù)。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的是提供一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法，能處理土壤地球化學測量數(shù)據(jù)，有效識別與礦化有關的地球化學異常信息。

本發(fā)明的技術方案如下：

一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法，包括如下步驟：

1)將工作區(qū)劃分為不同的地貌景觀區(qū)，并生成地貌空間分布矢量文件；

2)將工作區(qū)劃分為不同的地質單元，并生成地質單元矢量文件；

3)地貌空間分布矢量文件和地質單元矢量文件進行相交處理，得到同時包含地貌和地質信息的多個子區(qū)；

4)針對每個子區(qū)，采用含量與面積分形模型來確定子區(qū)的土壤地球化學異常下限值；

5)根據(jù)每個子區(qū)的土壤地球化學異常下限值，得到整個工作區(qū)的各個實測點的土壤地球化學數(shù)據(jù)參照值；

6)將工作區(qū)的某實測點的實測土壤地球化學數(shù)據(jù)減去步驟5)中得到的相應的該點的土壤地球化學數(shù)據(jù)參照值，差值大于零的所有實測點所圍成的區(qū)域即為地球化學異常分布區(qū)域。

所述步驟1)中，工作區(qū)為相山火山巖型鈾礦區(qū)時，不同的地貌景觀區(qū)包括村莊、農(nóng)田、園地、巖石出露區(qū)、濕地、沖積地。

所述步驟1)中，生成地貌空間分布矢量文件采用ArcGIS軟件的Shapefile文件。

所述步驟2)中，工作區(qū)為相山火山巖型鈾礦區(qū)時，不同的地質單元包括第四系、碎斑流紋巖、流紋英安巖、花崗斑巖、石英砂巖、基底變質巖。

所述步驟2)中，生成地質單元矢量文件采用ArcGIS軟件的Shapefile文件。

所述的步驟3)中的包含地貌和地質信息的多個子區(qū)是指：矢量文件作了相交處理之后，會形成很多小區(qū)，每個小區(qū)都會同時包含地貌和地質信息。