[發(fā)明專利]一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法

在審

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• 申請日: 2021-09-29
• 公開（公告）號: CN113934806A
• 公開（公告）日: 2022-01-14
• 發(fā)明（設計）人: 吳國東
• 申請（專利權）人: 核工業(yè)北京地質(zhì)研究院
• 主分類號: G06F16/29
• 分類號: G06F16/29;G06F16/56
• 代理公司: 核工業(yè)專利中心 11007
• 代理人: 高安娜

1.一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法，其特征在于，包括如下步驟：

1)將工作區(qū)劃分為不同的地貌景觀區(qū)，并生成地貌空間分布矢量文件；

2)將工作區(qū)劃分為不同的地質(zhì)單元，并生成地質(zhì)單元矢量文件；

3)地貌空間分布矢量文件和地質(zhì)單元矢量文件進行相交處理，得到同時包含地貌和地質(zhì)信息的多個子區(qū)；

4)針對每個子區(qū)，采用含量與面積分形模型來確定子區(qū)的土壤地球化學異常下限值；

5)根據(jù)每個子區(qū)的土壤地球化學異常下限值，得到整個工作區(qū)的各個實測點的土壤地球化學數(shù)據(jù)參照值；

6)將工作區(qū)的某實測點的實測土壤地球化學數(shù)據(jù)減去步驟5)中得到的相應的該點的土壤地球化學數(shù)據(jù)參照值，差值大于零的所有實測點所圍成的區(qū)域即為地球化學異常分布區(qū)域。

2.如權利要求1所述的一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法，其特征在于：所述步驟1)中，工作區(qū)為相山火山巖型鈾礦區(qū)時，不同的地貌景觀區(qū)包括村莊、農(nóng)田、園地、巖石出露區(qū)、濕地、沖積地。

3.如權利要求1所述的一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法，其特征在于：所述步驟1)中，生成地貌空間分布矢量文件采用ArcGIS軟件的Shapefile文件。

4.如權利要求1所述的一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法，其特征在于：所述步驟2)中，工作區(qū)為相山火山巖型鈾礦區(qū)時，不同的地質(zhì)單元包括第四系、碎斑流紋巖、流紋英安巖、花崗斑巖、石英砂巖、基底變質(zhì)巖。

5.如權利要求1所述的一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法，其特征在于：所述步驟2)中，生成地質(zhì)單元矢量文件采用ArcGIS軟件的Shapefile文件。

6.如權利要求1所述的一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法，其特征在于：所述的步驟3)中的包含地貌和地質(zhì)信息的多個子區(qū)是指：矢量文件作了相交處理之后，會形成很多小區(qū)，每個小區(qū)都會同時包含地貌和地質(zhì)信息。

7.如權利要求1所述的一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法，其特征在于：所述的步驟4)中的采用含量與面積分形模型是指，在土壤地球化學數(shù)據(jù)r的極大值與極小值之間均勻確定n個不同的閾值C_n，統(tǒng)計土壤地球化學數(shù)據(jù)r大于C_n的所有測點所包圍的面積A_n，在logA_n和logC_n的雙對數(shù)坐標圖上擬合出兩段直線，將直線交叉點所對應的土壤地球化學數(shù)據(jù)作為該子區(qū)的土壤地球化學異常下限值。

8.如權利要求7所述的一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法，其特征在于：在logA_n和logC_n的雙對數(shù)坐標圖上擬合出兩段直線，利用最小二乘法。

9.如權利要求1所述的一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法，其特征在于：所述的步驟5)對整個工作區(qū)范圍內(nèi)的子區(qū)異常下限值進行空間插值，與每個土壤地球化學實測點距離最近的插值點對應的插值數(shù)據(jù)即為該實測點土壤地球化學數(shù)據(jù)對應的參照值，從而得到整個工作區(qū)的各個實測點的土壤地球化學數(shù)據(jù)參照值。

10.如權利要求9所述的一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法，其特征在于：所述的空間插值的相鄰要素個數(shù)介于6～12，插值的縱橫空間距離均不大于土壤地球化學實測點距。

11.如權利要求9所述的一種土壤地球化學測量數(shù)據(jù)精細化處理方法，其特征在于：采用反距離權重法或反距離加權法(IDW)對整個工作區(qū)范圍內(nèi)的子區(qū)異常下限值進行空間插值。