[發(fā)明專利]一種非接觸智能卡測試裝置及測試方法

在審

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• 申請日: 2021-09-29
• 公開（公告）號: CN113759237A
• 公開（公告）日: 2021-12-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王豐;劉麗麗
• 申請（專利權(quán)）人: 北京中電華大電子設(shè)計(jì)有限責(zé)任公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明涉及測試驗(yàn)證領(lǐng)域，針對實(shí)際應(yīng)用中非接觸智能卡與非接觸讀卡器通信過程中，智能卡功耗波動(dòng)對13.56Mhz載波的異常擾動(dòng)，導(dǎo)致讀卡器接收數(shù)據(jù)異常、通信失敗的現(xiàn)象，提出了一種非接觸智能卡測試裝置及測試方法，該非接觸智能卡測試裝置包括：嵌入式處理器，可配置接收靈敏度的讀卡器模塊，測試方法包括讀卡器向智能卡發(fā)送命令啟動(dòng)智能卡執(zhí)行大功率運(yùn)算，通過配置不同的讀卡器接收靈敏度，在智能卡執(zhí)行運(yùn)算期間檢測智能卡引起的13.56Mhz載波擾動(dòng)對讀卡器接收的影響。在目前對于非接觸智能卡性能要求越來越嚴(yán)苛的背景下，提高了非接觸智能卡性能測試全面性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及測試驗(yàn)證領(lǐng)域，提供了一種非接觸智能卡測試裝置及測試方法。

背景技術(shù)

隨著非接觸智能卡應(yīng)用的普及，發(fā)卡量不斷增長，對非接觸智能卡的性能及可靠性要求越來越高，特別是非接觸智能卡與非接觸讀卡器的實(shí)際通信過程中，由于非接觸技術(shù)本身的原因，非接觸讀卡器接收易受到異常調(diào)制干擾導(dǎo)致讀卡器不能有效接收智能卡返回的有效數(shù)據(jù)，造成通信失敗。因此，對非接觸智能卡的測試也提出了更高要求。

現(xiàn)有的非接觸智能卡測試讀卡器并不能有效的進(jìn)行對非接觸智能卡產(chǎn)生的載波信號異常調(diào)制對讀卡器解調(diào)異常的檢測，達(dá)不到非接觸智能卡全面性的測試要求。

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有的非接觸智能卡測試的不足及實(shí)際測試需求，本發(fā)明提出了一種非接觸智能卡測試裝置及測試方法，能夠模擬實(shí)際應(yīng)用中的非接觸智能卡執(zhí)行大功率運(yùn)算期間產(chǎn)生的13.56Mhz載波異常調(diào)制對讀卡器解調(diào)的影響進(jìn)行測試，提高了測試覆蓋率，避免非接觸智能卡由于測試不足導(dǎo)致的產(chǎn)品質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。

本發(fā)明提出了一種非接觸智能卡測試裝置，包括：嵌入式處理器和非接觸讀卡器模塊，非接觸讀卡器模塊內(nèi)含接收靈敏度配置模塊。

非接觸讀卡器模塊與嵌入式處理器相連；非接觸讀卡器模塊的解調(diào)靈敏度通過嵌入式處理器配置接收靈敏度配置模塊；嵌入式處理器控制非接觸讀卡器模塊被測非接觸智能卡發(fā)送執(zhí)行大功耗運(yùn)算命令，嵌入式處理器控制非接觸讀卡器模塊監(jiān)13.56Mhz載波是否存在可以被非接觸讀卡器模塊誤解調(diào)的異常調(diào)制。

非接觸讀卡器模塊的解調(diào)靈敏度通過嵌入式處理器配置接收靈敏度配置模塊完成，解調(diào)靈敏度可配置為由低到高15個(gè)級別的擋位。

嵌入式處理器可向非接觸讀卡器模塊發(fā)送啟動(dòng)智能卡執(zhí)行大功率運(yùn)算操作的特定命令，非接觸讀卡器模塊對該特定命令進(jìn)行編碼調(diào)制發(fā)送給被測非接觸智能卡，啟動(dòng)智能卡執(zhí)行大功率運(yùn)算操作。

非接觸讀卡器模塊可對被測非接觸智能卡執(zhí)行大功率運(yùn)算期間對13.56Mhz載波異常調(diào)制進(jìn)行檢測。

嵌入式處理器可接收非接觸讀卡器模塊的檢測結(jié)果，并根據(jù)檢測結(jié)果判斷被測非接觸智能卡在大功率運(yùn)算期間對13.56Mhz載波的異常調(diào)制在所配置接收解調(diào)靈敏度擋位下是否引起非接觸讀卡器模塊的異常解調(diào)。

應(yīng)用非接觸智能卡測試裝置的測試方法為嵌入式處理器配置接收靈敏度配置模塊的解調(diào)靈敏度擋位，并向非接觸讀卡器模塊發(fā)送啟動(dòng)智能卡執(zhí)行大功率運(yùn)算操作的特定命令，非接觸讀卡器模塊對該特定命令進(jìn)行編碼調(diào)制發(fā)送給被測非接觸智能卡，非接觸智能卡根據(jù)該特定命令啟動(dòng)智能卡執(zhí)行大功率運(yùn)算操作，非接觸讀卡器模塊對被測非接觸智能卡執(zhí)行大功率運(yùn)算期間對13.56Mhz載波異常調(diào)制進(jìn)行檢測，嵌入式處理器接收非接觸讀卡器模塊的檢測結(jié)果，并根據(jù)該結(jié)果判斷被測非接觸智能卡在大功率運(yùn)算期間對13.56Mhz載波的異常調(diào)制在該配置接收解調(diào)靈敏度擋位下是否引起非接觸讀卡器模塊的異常解調(diào)，從而判斷是否可以通過該接收靈敏度擋位條件的非接觸智能卡對13.56Mhz載波擾動(dòng)對讀卡器接收影響的測試。

附圖說明

圖1表示本發(fā)明的實(shí)施例結(jié)構(gòu)框圖。

圖2表示本發(fā)明的一種實(shí)施例測試流程圖。

具體實(shí)施方式