[發明專利]一種非接觸智能卡測試裝置及測試方法在審
| 申請號： | 202111149062.5 | 申請日： | 2021-09-29 |
| 公開（公告）號： | CN113759237A | 公開（公告）日： | 2021-12-07 |
| 發明（設計）人： | 王豐;劉麗麗 | 申請（專利權）人： | 北京中電華大電子設計有限責任公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 102209 北京市昌平區北七家鎮未*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 接觸 智能卡 測試 裝置 方法 | ||
1.一種非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，包括：嵌入式處理器(2)和非接觸讀卡器模塊(3)，其中，非接觸讀卡器模塊(3)與嵌入式處理器(2)相連；非接觸讀卡器模塊(3)內含接收靈敏度配置模塊(4)，嵌入式處理器(2)配置接收靈敏度配置模塊(4)實現對非接觸讀卡器模塊(3)的解調靈敏度的設置；嵌入式處理器(2)控制非接觸讀卡器模塊(3)向被測非接觸智能卡發送執行運算的命令，嵌入式處理器(2)控制非接觸讀卡器模塊(3)檢測13.56Mhz載波是否存在可以被非接觸讀卡器模塊(3)誤解調的異常調制。
2.如權利要求1所述的一種非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，所述非接觸讀卡器模塊(3)的解調靈敏度通過嵌入式處理器(2)配置非接觸讀卡器模塊(3)內的接收靈敏度配置模塊(4)完成，解調靈敏度可配置為由低到高15個級別的擋位。
3.如權利要求1所述的一種非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，所述嵌入式處理器(2)向非接觸讀卡器模塊(3)發送可啟動智能卡執行大功率運算操作的命令，非接觸讀卡器模塊(3)對該命令進行編碼調制發送給被測非接觸智能卡，啟動智能卡執行大功率運算的操作。
4.如權利要求1所述的一種非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，所述非接觸讀卡器模塊(3)可對被測非接觸智能卡執行大功率運算期間產生的13.56Mhz載波異常調制進行檢測。
5.如權利要求1所述的一種非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，所述嵌入式處理器(2)可接收非接觸讀卡器模塊(3)的檢測結果，并根據檢測結果判斷被測非接觸智能卡在大功率運算期間產生的13.56Mhz載波異常調制在所述配置接收解調靈敏度擋位下是否引起非接觸讀卡器模塊(3)的異常解調。
6.一種非接觸智能卡測試方法，應用權利要求1所述的一種非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，該測試方法為嵌入式處理器(2)配置接收靈敏度配置模塊(4)的解調靈敏度擋位，并向非接觸讀卡器模塊(3)發送啟動智能卡執行大功率運算操作命令，非接觸讀卡器模塊(3)對該命令進行編碼調制發送給被測非接觸智能卡，非接觸智能卡根據該命令啟動智能卡執行大功率運算操作，非接觸讀卡器模塊(3)對被測非接觸智能卡執行大功率運算期間產生的13.56Mhz載波異常調制進行檢測，嵌入式處理器(2)接收非接觸讀卡器模塊(3)返回的檢測結果，并根據該結果判斷被測非接觸智能卡在大功率運算期間產生的13.56Mhz載波異常調制在該配置接收解調靈敏度擋位下是否引起非接觸讀卡器模塊(3)的異常解調，從而判斷是否可以通過該接收靈敏度擋位條件下的非接觸智能卡產生的13.56Mhz載波異常擾動對讀卡器接收影響的測試。
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