[發(fā)明專利]去除載板的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111145749.1 | 申請(qǐng)日: | 2021-09-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113948405A | 公開(公告)日: | 2022-01-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李志成;宋家濠;何政霖;黃禮智 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 日月光半導(dǎo)體制造股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/56 | 分類號(hào): | H01L21/56;H01L21/683 |
| 代理公司: | 北京植德律師事務(wù)所 11780 | 代理人: | 唐華東 |
| 地址: | 中國臺(tái)灣高雄*** | 國省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 去除 方法 | ||
1.一種去除載板的方法,包括:
準(zhǔn)備載板、基板和至少一個(gè)半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),所述載板設(shè)置有至少兩個(gè)貫孔,所述貫孔內(nèi)容納有可上下活動(dòng)的頂針,所述載板表面設(shè)置有粘合層,所述粘合層覆蓋各所述貫孔;
將所述基板設(shè)置于所述粘合層遠(yuǎn)離所述載板的表面,并使用真空裝置粘合所述基板、所述粘合層和所述載板;
將所述至少一個(gè)半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)鍵合至所述基板遠(yuǎn)離所述粘合層的表面;
通過外力驅(qū)動(dòng)所述貫孔內(nèi)容納的頂針朝向所述粘合層移動(dòng),以使所述基板與所述粘合層分離。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述粘合層為硅膠層。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述外力為手指施力、機(jī)械力或氣壓作用下所形成的。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)包括至少一個(gè)芯片。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述將所述至少一個(gè)半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)鍵合至所述基板遠(yuǎn)離所述粘合層的表面,包括:
采用鍵合方法將所述至少一個(gè)半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)鍵合至所述基板遠(yuǎn)離所述粘合層的表面;
執(zhí)行回焊制程。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述使用真空裝置粘合所述基板、所述粘合層和所述載板,包括:
將所述基板、所述粘合層和所述載板放置在空氣泵浦的腔體內(nèi),在關(guān)閉所述腔體的同時(shí)對(duì)所述腔體抽真空,以實(shí)現(xiàn)將所述基板通過所述粘合層粘合至所述載板。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,在所述將所述基板設(shè)置于所述粘合層遠(yuǎn)離所述載板的表面之前,所述方法還包括:
通過外力驅(qū)動(dòng)所述貫孔內(nèi)容納的頂針朝遠(yuǎn)離所述粘合層的方向移動(dòng),以使所述頂針不接觸所述粘合層。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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