[發(fā)明專利]DSP工藝精細管控-定盤、拋布形狀測量裝置及其方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111134810.2
• 申請日: 2021-09-27
• 公開（公告）號: CN113882132B
• 公開（公告）日: 2022-08-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 趙家
• 申請（專利權(quán)）人: 杭州中欣晶圓半導(dǎo)體股份有限公司
• 主分類號: D06H3/10
• 分類號: D06H3/10;D06H7/00;D06G1/00;G01B21/20
• 代理公司: 杭州融方專利代理事務(wù)所(普通合伙) 33266
• 代理人: 沈相權(quán)

本發(fā)明公開了DSP工藝精細管控?定盤、拋布形狀測量裝置及其方法，涉及拋布形狀測量裝置技術(shù)領(lǐng)域，包括支撐架，支撐架的內(nèi)部兩側(cè)分別轉(zhuǎn)動連接有第一傳送輥與第二傳送輥，位于永久磁鐵與電磁鐵組件之間設(shè)置有繪圖紙，測量筆的底端與繪圖紙接觸并在繪圖紙上留下印記，電磁鐵與永久磁鐵相互吸引，能夠?qū)⒗L圖紙固定，避免圖紙的偏移保證測量組件繪制圖形的精確度，測量組件中測量筆與固定卡之間通過卡扣連接，當(dāng)測量筆損壞或者需要檢修時可將其與固定卡分離，滑柱與筒體之間為滑動連接設(shè)計，并且滑柱的頂端設(shè)置有復(fù)位彈簧，在測量筆下降并且與繪圖紙接觸時能夠起到很好的緩沖作用，避免測量筆的與繪圖紙的剛性接觸造成的損壞。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及拋布形狀測量裝置技術(shù)領(lǐng)域，具體為DSP工藝精細管控-定盤、拋布形狀測量裝置及其方法。

背景技術(shù)

DSP是尺寸穩(wěn)定性聚酯纖維的簡稱，國外對用于子午胎骨架材料的聚酯簾子線/布均冠以DSP。在行業(yè)內(nèi)用作DSP材料的具有高模低收縮性能聚酯工業(yè)絲均以HMLS冠名。DSP材料拋布是一種復(fù)合材料物性較為堅固、多孔聚合物，具有相當(dāng)高的孔壁硬度，可成功用于對濾光模、各種玻璃、硅片以及砷化鎵半導(dǎo)體片進行終道拋光，具有相當(dāng)長的使用壽命，拋布的耐磨性和極好的表面平整度，可提供帶背膠、開槽和其它常用要求。

但是布料在生產(chǎn)過程中需要進行裁邊切割工作，使DSP的產(chǎn)品規(guī)格更加精準(zhǔn)，而裁切過程中往往會在生產(chǎn)線上產(chǎn)生較多的線渣粘附在布料上，導(dǎo)致布料移動至其他產(chǎn)線工位時，該工位操作受到影響，從而最終的成品質(zhì)量無法得到管控，而且拋光布在生產(chǎn)時需要定時進行抽檢，傳統(tǒng)應(yīng)用于拋光布形狀參數(shù)測量的檢測方法，布料的測量一般以人工為主，采用手動接觸式測量，測量時由測量員拿著測量工具，測量必要的尺寸與角度，在圖紙上繪制處輪廓，這使得布料的測量效率較低，人力消耗較大，且長時間的人工操作，使得布料測量的精確度降低，從而造成布料測量的誤差增大，進而影響后續(xù)的精確加工和實際生產(chǎn)。

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供了DSP工藝精細管控-定盤、拋布形狀測量裝置及其方法，解決了DSP布料生產(chǎn)過程中布料裁切時容易產(chǎn)生較多料渣污染生產(chǎn)線以及人工測量布料形狀效率低下、精確度低、無法滿足實際生產(chǎn)需求的問題。

為實現(xiàn)以上目的，本發(fā)明通過以下技術(shù)方案予以實現(xiàn)：DSP工藝精細管控-定盤、拋布形狀測量裝置，包括支撐架，所述支撐架的內(nèi)部兩側(cè)分別轉(zhuǎn)動連接有第一傳送輥與第二傳送輥，所述第一傳送輥與第二傳送輥的外壁共同套接有傳送帶，所述支撐架的頂部分別固定連接有防護殼與測量機構(gòu)，所述測量機構(gòu)位于防護殼的一側(cè)，且防護殼的底部貫穿支撐架并延伸至內(nèi)部，所述防護殼的內(nèi)部固定設(shè)置有裁切組件與固定架，且防護殼的頂部一側(cè)固定連接有吸塵組件，所述固定架的內(nèi)壁轉(zhuǎn)動連接有粘塵輥。所述第一傳送輥與第二傳送輥的一端均貫穿支撐架并固定連接有齒輪，兩個所述齒輪通過鏈條形成轉(zhuǎn)動連接結(jié)構(gòu)，且其中一個所述齒輪的一側(cè)壁固定連接有電動機，所述電動機通過電機架固定連接在支撐架的側(cè)壁上。所述支撐架的一側(cè)壁設(shè)置有控制開關(guān)、檢修窗與出紙導(dǎo)板，所述檢修窗通過鉸鏈與支撐架轉(zhuǎn)動連接，所述出紙導(dǎo)板與測量機構(gòu)的內(nèi)部相連通。

所述測量機構(gòu)包括測量架與滑座，所述滑座固定連接在測量架的頂部，且滑座的內(nèi)部相對側(cè)壁開設(shè)有滑槽，滑槽的內(nèi)部滑動連接有蓋板，所述測量架的頂部設(shè)置有若干測量組件，所述測量組件的底端貫穿測量架并延伸至內(nèi)部，所述測量架的底部兩側(cè)固定設(shè)置有永久磁鐵，所述永久磁鐵的正上方均固定設(shè)置有電磁鐵組件。

所述測量組件包括筒體，所述筒體的頂端固定連接有支撐板，且筒體的內(nèi)部滑動連接有滑柱，且筒體的一側(cè)壁開設(shè)有限位通槽，所述滑柱的底端固定連接有固定卡，且滑柱的頂端固定連接有復(fù)位彈簧，且滑柱的一側(cè)壁固定設(shè)置有限位塊，所述固定卡的內(nèi)部設(shè)置有測量筆。

所述電磁鐵組件包括固定板與壓板，所述固定板與壓板之間設(shè)置有伸縮桿，所述伸縮桿的外壁套設(shè)有彈簧，所述彈簧的頂端固定連接在固定板的底部，且彈簧的底端固定連接在壓板的頂部。