[發明專利]芯片差異性的檢測方法及系統

在審

• 申請號: 202111133531.4
• 申請日: 2021-09-26
• 公開（公告）號: CN113970692A
• 公開（公告）日: 2022-01-25
• 發明（設計）人: 梁健宇;趙夢南;薛海松;鄭國忠;鐘曉煒
• 申請（專利權）人: 展訊通信（上海）有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強;李光金

本申請實施例公開了芯片差異性的檢測方法及系統，應用于芯片差異性的檢測系統，該芯片差異性的檢測系統包括多個硅片分類與校準類SCC Type電路和SCC控制電路；該方法包括：多個SCC Type電路將輸出的SO信號輸入SCC控制電路；SCC控制電路計算多個SCCType電路的電路延遲值，得到多個電路延遲值；SCC控制電路根據所述多個SO信號和多個電路延遲值確定芯片是否存在電氣特性差異。本申請提出使用不同種類的晶體管進行混搭組成基本SCCtype，可以顯著降低ROSC在整體尺寸較小的車規級芯片上占的面積，保證測試的覆蓋率，滿足穩定性要求較高的車規級標準對芯片良率的要求。

技術領域

本申請涉及通信技術領域，尤其涉及一種芯片差異性的檢測方法及系統。

背景技術

芯片，又稱微電路(microcircuit)、微芯片(microchip)、集成電路(integratedcircuit)，是指內含集成電路的硅片，體積很小，是計算機等電子設備的重要組成部分。芯片的生產制造是一個不精確的過程，一同生產出的芯片在不同的位置可能會表現出明顯的電氣特性差異，會影響芯片運行的穩定性，比如，當芯片外加電壓為0.9V時，需要運行到320MHz頻率的區域，部分邏輯可以穩定運行在這個頻率下，而部分邏輯會出現時序違例，從而導致芯片行為異常。而這些內部差異較大的芯片無法通過自動測試設備(AutomaticTest Equipment，ATE)測試進行篩除。因此，對于芯片穩定性要求極高的車規級芯片，如何進行芯片差異性檢測是亟需解決的問題。

發明內容

本申請實施例提供了一種芯片差異性的檢測方法及系統，提出使用不同種類的晶體管進行混搭組成基本SCCtype，可以顯著降低ROSC在整體尺寸較小的車規級芯片上占的面積，同時保證測試的覆蓋率，滿足穩定性要求較高的車規級標準對芯片良率的要求。

第一方面，本申請實施例提供一種芯片差異性的檢測方法，應用于芯片差異性的檢測系統，所述芯片差異性的檢測系統包括多個硅片分類與校準類SCC Type電路和SCC控制電路，每個SCC Type電路包括多條環形振蕩器ROSC鏈，每條ROSC鏈由不同種類的晶體管構成；

所述方法包括：

所述多個SCC Type電路將輸出的SO信號輸入所述SCC控制電路；

所述SCC控制電路計算所述多個SCC Type電路的電路延遲值，得到多個電路延遲值；

所述SCC控制電路根據所述多個SO信號和所述多個電路延遲值確定芯片是否存在電氣特性差異。

第二方面，本申請實施例提供的一種芯片差異性的檢測系統，所述系統包括芯片差異性的檢測系統包括多個硅片分類與校準類SCC Type電路和SCC控制電路，每個SCCType電路包括多條環形振蕩器ROSC鏈，每條ROSC鏈由不同種類的晶體管構成；其中，

所述多個SCC Type電路，用于將輸出的SO信號輸入所述SCC控制電路；

所述SCC控制電路，用于計算所述多個SCC Type電路的電路延遲值，得到多個電路延遲值；

所述SCC控制電路，還用于根據所述多個SO信號和所述多個電路延遲值確定芯片是否存在電氣特性差異。

第三方面，本申請實施例提供一種檢測設備，所述檢測設備包括處理器、存儲器、通信接口，以及一個或多個程序，所述一個或多個程序被存儲在所述存儲器中，并且被配置由所述處理器執行，所述程序包括用于執行上述第一方面所述的方法中所描述的部分或全部步驟的指令。

第四方面，本申請實施例提供一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲用于電子數據交換的計算機程序，其中，所述計算機程序使得計算機執行上述第一方面所述的方法中所描述的部分或全部步驟。