[發明專利]芯片差異性的檢測方法及系統

在審

• 申請號: 202111133531.4
• 申請日: 2021-09-26
• 公開（公告）號: CN113970692A
• 公開（公告）日: 2022-01-25
• 發明（設計）人: 梁健宇;趙夢南;薛海松;鄭國忠;鐘曉煒
• 申請（專利權）人: 展訊通信（上海）有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強;李光金

1.一種芯片差異性的檢測方法，其特征在于，應用于芯片差異性的檢測系統，所述芯片差異性的檢測系統包括多個硅片分類與校準類SCC Type電路和SCC控制電路，每個SCCType電路包括多條環形振蕩器ROSC鏈，每條ROSC鏈由不同種類的晶體管構成；

所述方法包括：

所述多個SCC Type電路將輸出的SO信號輸入所述SCC控制電路；

所述SCC控制電路計算所述多個SCC Type電路的電路延遲值，得到多個電路延遲值；

所述SCC控制電路根據所述多個SO信號和所述多個電路延遲值確定芯片是否存在電氣特性差異。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述SCC控制電路計算所述多個SCC Type電路的電路延遲值，得到多個電路延遲值，包括：

所述SCC控制電路獲取所述多個SCC Type電路的采樣時鐘周期，得到多個采樣時鐘周期；

所述SCC控制電路將所述多個采樣時鐘周期分別輸入第一公式進行計算，得到所述多個電路延遲值，所述第一公式表示為：G＝(N*S)/T，所述N為預設的采樣周期數，所述S為所述采樣時鐘周期，所述T為常數。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述SCC控制電路根據所述多個SO信號和所述多個電路延遲值確定芯片是否存在電氣特性差異，包括：

所述SCC控制電路計算第i個SO信號與對應的電路延遲值之間差的絕對值，得到第一差值；

若所述第一差值大于預設值，則所述SCC控制電路確定第一SCC Type電路存在電氣特性差異，所述第一SCC Type電路為所述第i個SO信號對應的SCC Type電路；

若所述第一差值小于或等于所述預設值，則所述SCC控制電路確定第一SCC Type電路不存在電氣特性差異。

4.根據權利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，所述SCC控制電路設置于可掉電的電源域。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述SCC Type電路還包括連波計數器；

所述方法還包括：所述連波計數器將所述多條ROSC鏈輸出的方波轉化為串行的所述SO信號。

6.一種芯片差異性的檢測系統，其特征在于，所述系統包括芯片差異性的檢測系統包括多個硅片分類與校準類SCC Type電路和SCC控制電路，每個SCC Type電路包括多條環形振蕩器ROSC鏈，每條ROSC鏈由不同種類的晶體管構成；其中，

所述多個SCC Type電路，用于將輸出的SO信號輸入所述SCC控制電路；

所述SCC控制電路，用于計算所述多個SCC Type電路的電路延遲值，得到多個電路延遲值；

所述SCC控制電路，還用于根據所述多個SO信號和所述多個電路延遲值確定芯片是否存在電氣特性差異。

7.根據權利要求6所述的系統，其特征在于，在計算所述多個SCC Type電路的電路延遲值，得到多個電路延遲值方面，所述SCC控制電路具體用于：

獲取所述多個SCC Type電路的采樣時鐘周期，得到多個采樣時鐘周期；

將所述多個采樣時鐘周期分別輸入第一公式進行計算，得到所述多個電路延遲值，所述第一公式表示為：G＝(N*S)/T，所述N為預設的采樣周期數，所述S為所述采樣時鐘周期，所述T為常數。

8.根據權利要求6或7所述的系統，其特征在于，所述SCC控制電路設置于可掉電的電源域。

9.一種檢測設備，其特征在于，所述檢測設備包括處理器、存儲器、通信接口，以及一個或多個程序，所述一個或多個程序被存儲在所述存儲器中，并且被配置由所述處理器執行，所述程序包括用于執行如權利要求1-5任一項所述的方法中的步驟的指令。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲用于電子數據交換的計算機程序，其中，所述計算機程序使得計算機執行如權利要求1-5任一項所述的方法的步驟。