[發(fā)明專利]一種平場校正參數(shù)的獲取方法及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111097720.0
• 申請日: 2021-09-18
• 公開（公告）號: CN113808046A
• 公開（公告）日: 2021-12-17
• 發(fā)明（設計）人: 郭慧;張見;戚濤;姚毅;楊藝
• 申請（專利權）人: 凌云光技術股份有限公司;北京凌云光子技術有限公司
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00;G06T7/80
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

本申請?zhí)峁┮环N平場校正參數(shù)的獲取方法及裝置，方法包括獲取待校正圖像的暗場圖像；計算并存儲暗場行均值向量和暗場列均值向量；調用存儲的暗場行均值向量，計算暗場行均值矩陣；調用存儲的暗場列均值向量，計算暗場列均值矩陣；將暗場行均值矩陣和暗場列均值矩陣相加，得到每一個暗場像素點的FPN參數(shù)；獲取待校正圖像的亮場圖像中每一個亮場像素點的PRNU參數(shù)；將FPN參數(shù)和PRNU參數(shù)輸出為待校正圖像中每一個待校正像素點的平場校正參數(shù)。本申請僅需要存儲待校正圖像的行均值向量和列均值向量，減小了平場校正時需要存儲的參數(shù)數(shù)據(jù)量，并且本申請可得到與對待校正圖像中逐個像素點進行平場校正參數(shù)計算后相同數(shù)據(jù)量的平場校正參數(shù)。

技術領域

本申請涉及圖像處理技術領域，尤其涉及一種平場校正參數(shù)的獲取方法及裝置。

背景技術

在圖像處理領域中，為了解決相機中的圖像傳感器自身的響應不一致性，光源和鏡頭引入的亮度非均勻性等問題，一般采用平場校正對相機所采集到的圖像進行處理。平場校正(FFC)是以相機中的圖像傳感器的線性響應為基礎進行亮度校正的校正方式，通過平場校正可以提高相機成像的均勻性。平場校正時需要使用平場校正參數(shù)，計算平場校正參數(shù)通常需要采集一張暗場圖像Dark_Img和一張80％亮度的亮場圖像Bright_Img，然后利用采集到的圖像計算平場校正參數(shù)。平場校正參數(shù)包括FPN和PRNU，具體計算公式如下：

其中，Target可以是Bright_Img-FPN的最大值、最小值、均值，或者是設置值。平場校正時，V_out＝(V_in-FPN)*PRNU,V_out表示平場校正后的輸出圖像，V_in表示平場校正前的輸入圖像。

通常，圖像中的每個像素點都會有一組平場校正參數(shù)(FPN和PRNU)，所以對于采用大分辨率相機采集的圖像，該圖像中平場校正參數(shù)(FPN和PRNU)的數(shù)據(jù)量非常大，需要很大的存儲器件(如：Flash、DDR)才能進行存儲；并且，在平場校正的計算過程中，對平場校正參數(shù)(FPN和PRNU)的讀取時間也很長。因此，在對相機成像均勻性要求不太高的應用中可以通過對平場校正參數(shù)(FPN和PRNU)進行簡化，以減少大分辨率圖像中平場校正參數(shù)(FPN和PRNU)需要存儲的數(shù)據(jù)量。

目前，常用的對平場校正參數(shù)(FPN和PRNU)簡化的方法是通過大分辨率圖像中的多個像素點共用一套平場校正參數(shù)(FPN和PRNU)進行簡化；具體簡化過程為：首先，對采集到的暗場大分辨率圖像和亮場大分辨率圖像采用Binning圖像讀出模式進行處理，即將暗場大分辨率圖像和亮場大分辨率圖像上的n*m像素塊內的所有像素點取均值變成一個像素點，得到合成像素點；然后，再計算合成像素點的平場校正參數(shù)(FPN和PRNU)。此時，大分辨率圖像中的平場校正參數(shù)(FPN和PRNU)會減少為原平場校正參數(shù)(FPN和PRNU)數(shù)據(jù)量的n*m/1，對暗場大分辨率圖像和亮場大分辨率圖像進行平場校正時，同一個n*m像素塊內的所有像素點共用一套平場校正參數(shù)(FPN和PRNU)，采用上述方法一定程度上減少了標定過程中需要存儲的平場校正參數(shù)(FPN和PRNU)的數(shù)據(jù)量，但是會使得采用標定過程得到的平場校正參數(shù)對需要校正圖像進行平場校正后的輸出圖像出現(xiàn)馬賽克效應。

發(fā)明內容

本申請?zhí)峁┝艘环N平場校正參數(shù)的獲取方法及裝置，以解決現(xiàn)有技術中的采用多個像素點共用一套平場校正參數(shù)可在一定程度上減少標定過程中需要存儲平場校正參數(shù)(FPN和PRNU)的數(shù)據(jù)量，但是會使得采用標定過程得到的平場校正參數(shù)對需要校正圖像進行平場校正后的輸出圖像出現(xiàn)馬賽克效應的問題。

第一方面，本申請?zhí)峁┮环N平場校正參數(shù)的獲取方法，包括以下步驟：

獲取待校正圖像的暗場圖像，其中，所述暗場圖像由至少一個暗場像素塊組成，每一個所述暗場像素塊內包含至少一個暗場像素點；

計算并存儲所述暗場圖像的暗場行均值向量和暗場列均值向量；

調用存儲的所述暗場行均值向量，計算得到暗場行均值矩陣；