[發明專利]一種平場校正參數的獲取方法及裝置

在審

• 申請號: 202111097720.0
• 申請日: 2021-09-18
• 公開（公告）號: CN113808046A
• 公開（公告）日: 2021-12-17
• 發明（設計）人: 郭慧;張見;戚濤;姚毅;楊藝
• 申請（專利權）人: 凌云光技術股份有限公司;北京凌云光子技術有限公司
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00;G06T7/80
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

1.一種平場校正參數的獲取方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取待校正圖像的暗場圖像，其中，所述暗場圖像由至少一個暗場像素塊組成，每一個所述暗場像素塊內包含至少一個暗場像素點；

計算并存儲所述暗場圖像的暗場行均值向量和暗場列均值向量；

調用存儲的所述暗場行均值向量，計算得到暗場行均值矩陣；

調用存儲的所述暗場列均值向量，計算得到暗場列均值矩陣；

將所述暗場行均值矩陣和所述暗場列均值矩陣相加，得到所述暗場圖像中每一個暗場像素點的FPN參數；

獲取待校正圖像的亮場圖像中每一個亮場像素點的PRNU參數；

將所述FPN參數和所述PRNU參數輸出為所述待校正圖像中每一個待校正像素點的平場校正參數。

2.根據權利要求1所述的一種平場校正參數的獲取方法，其特征在于，

所述FPN參數包括FPN行參數和FPN列參數；

其中，所述FPN行參數通過計算所述暗場行均值向量得到；

所述FPN列參數通過計算所述暗場列均值向量得到。

3.根據權利要求2所述的一種平場校正參數的獲取方法，其特征在于，

所述FPN行參數的計算公式為：

其中，FPN_R表示FPN行參數，表示暗場行均值向量；

所述FPN列參數的計算公式為：

其中，FPN_C表示FPN列參數，表示暗場列均值向量。

4.根據權利要求1-3任意一項所述的一種平場校正參數的獲取方法，其特征在于，

亮場像素點的PRNU參數均為1。

5.一種平場校正參數的獲取方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取待校正圖像的暗場圖像中每一個暗場像素點的FPN參數；

獲取待校正圖像的亮場圖像，其中，所述亮場圖像由若干亮場像素塊組成，每一個所述亮場像素塊內包含有若干亮場像素點；

計算并存儲所述亮場圖像的亮場行均值向量和亮場列均值向量；

調用存儲的所述亮場行均值向量，計算得到亮場行均值矩陣；

調用存儲的所述亮場列均值向量，計算得到亮場列均值矩陣；

將所述亮場行均值矩陣和所述亮場列均值矩陣相乘，得到所述亮場圖像中每一個亮場像素點的PRNU參數；

將所述FPN參數和所述PRNU參數輸出為所述待校正圖像中每一個待校正像素點的平場校正參數。

6.根據權利要求5所述的一種平場校正參數的獲取方法，其特征在于，

所述PRNU參數包括PRNU行參數和PRNU列參數；

其中，所述PRNU行參數通過目標值與所述亮場行均值向量和暗場行均值向量的差值相除得到；

所述PRNU列參數通過目標值與所述亮場列均值向量和暗場列均值向量的差值相除得到。

7.根據權利要求6所述的一種平場校正參數的獲取方法，其特征在于，

所述PRNU行參數的計算公式為：

其中，PRNU_R表示PRNU行參數，表示亮場行均值向量，FPN_R表示FPN行參數，Target表示目標值；

所述PRNU列參數的計算公式為：

其中，PRNU_C表示PRNU列參數，表示亮場列均值向量，FPN_C表示FPN列參數，Target表示目標值。

8.根據權利要求5-7任意一項所述的一種平場校正參數的獲取方法，其特征在于，

暗場像素點的FPN參數均為0。