[發(fā)明專利]陣列基板母板、陣列基板、顯示面板及顯示裝置

在審

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• 申請日: 2021-09-17
• 公開（公告）號: CN113823643A
• 公開（公告）日: 2021-12-21
• 發(fā)明（設計）人: 安亞帥;王建;張勇;楊智超;鄧祁;乜玲芳;王德生;郝龍虎;王佩佩;郭贊武;秦相磊;龐凈
• 申請（專利權(quán)）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: H01L27/12
• 分類號: H01L27/12;H01L21/66
• 代理公司: 北京華夏泰和知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11662
• 代理人: 王衛(wèi)忠

本發(fā)明涉及一種陣列基板母板、陣列基板、顯示面板及顯示裝置。陣列基板母板上設置有切割線，切割線將陣列基板母板分為多個面板區(qū)；陣列基板母板上還形成有多個陣列檢測走線，每個陣列走線設置在每個面板區(qū)內(nèi)的主線部和將相鄰面板區(qū)的主線部連接在一起的跨線連接部；主線部與面板區(qū)內(nèi)的用于進行陣列檢測的電性端子連接；跨線連接部跨越相鄰面板區(qū)之間的切割線；每個陣列檢測走線的跨線連接部的寬度小于該陣列檢測走線的主線部的寬度；和/或，任意兩相鄰陣列檢測走線的跨線連接部的間距大于該兩相鄰陣列檢測走線的主線部的間距。上述陣列基板母板可以使每個陣列基板邊緣處的陣列檢測走線的斷口處不容易產(chǎn)生靜電。

技術(shù)領域

本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領域，尤其涉及陣列基板母板，根據(jù)陣列基板切割得到的陣列基板，包括陣列基板的顯示面板，以及包括該顯示面板的顯示裝置。

背景技術(shù)

制備陣列(Array)基板是顯示面板制備過程中的一個重要步驟。在完成Array制程后，需要對在陣列基板母板上形成的薄膜晶體管等結(jié)構(gòu)進行檢查測試，一般稱之為陣列檢測(Array Test)。通過陣列檢測，可以在前期檢測不良，避免后續(xù)工藝過程中繼續(xù)制備已經(jīng)存在問題的產(chǎn)品。

陣列檢測一般通過在陣列基板母板上形成陣列檢測走線(A/T走線)，陣列檢測走線還與陣列檢測端子(AT pad)連接，同時還與陣列基板母板上每個面板區(qū)內(nèi)的電性端子(ET pad)連接，而電性端子與面板區(qū)內(nèi)的柵線和數(shù)據(jù)線連接，從而實現(xiàn)陣列檢測端子和面板區(qū)內(nèi)的子像素的連接，對面板區(qū)內(nèi)形成的子像素的結(jié)構(gòu)進行檢測。

陣列基板母板上的每個面板區(qū)會沿切割線(Cutting Line)被切割為陣列基板。按照切割方式的不同，陣列基板母板可以分為兩種，第一種為零切割(相鄰的面板區(qū)之間只有一道切割線，二者相接，不存在間距)的陣列基板母板，第二種切割方式為非零切割(相鄰的面板區(qū)之間有兩道切割線，二者被隔開，之間存在間距)的陣列基板母板。

對于零切割方式的陣列基板母板，其陣列檢測走線沿相鄰面板區(qū)之間的切割線設置，陣列檢測走線會在相鄰的面板區(qū)之間跨越二者之間的切割線，在將面板區(qū)切割形成陣列基板后，陣列基板的邊緣處會有暴露的陣列檢測走線的斷口，在該斷口處容易形成靜電，傳導到陣列基板內(nèi)，引起陣列基板和顯示面板的不良或損壞。

對于非零切割方式的陣列基板母板，其陣列檢測走線沿相鄰面板區(qū)的兩道切割線之間的切割區(qū)設置，陣列檢測走線會向面板區(qū)方向延伸出連接線(一般為ITO走線)，該連接線延伸進入到面板區(qū)，與面板區(qū)的電性端子連接。就每個面板區(qū)而言，其內(nèi)設置的電性端子的數(shù)量較多，在面板區(qū)的寬度不足的情況下，多個電性端子一般排列為多排，并且排列地較為緊湊和密集，相鄰的電性端子之間的間距較小。在這樣的情況下，用于連接電性端子和陣列檢測走線的ITO走線的寬度必須設置的較細，才能實現(xiàn)與多個電性端子的連接，否則就無法同時與該多個電性端子連接。這樣帶來的問題是，較細的ITO連線導致在陣列檢測走線和電性端子之間的電阻較大，不利于進行陣列檢測。或者，另外的一種情況是，將面板區(qū)的寬度設置的較大，即面板區(qū)具有較大的邊框，這樣能夠增加相鄰電性端子之間的距離，保證連接陣列檢測走線和電性端子的ITO走線具有足夠的寬度，但這樣切割形成的陣列基板及進一步制備的顯示面板的邊框?qū)挾冗^大。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供了一種陣列基板母板、陣列基板、顯示面板和顯示裝置，以解決上述現(xiàn)有技術(shù)中陣列基板的邊緣處出現(xiàn)陣列檢測走線的斷口，容易因靜電而導致不良和損壞，以及，陣列檢測走線的寬度需設置的較細而不利于陣列檢測或者導致邊框?qū)挾容^大的技術(shù)問題。

本發(fā)明提供的一種陣列基板母板，所述陣列基板母板上設置有切割線，所述切割線將所述陣列基板母板分為多個面板區(qū)；所述陣列基板母板上還形成有多個陣列檢測走線，每個所述陣列走線設置在每個面板區(qū)內(nèi)的主線部和將相鄰面板區(qū)的主線部連接在一起的跨線連接部；所述主線部與所述面板區(qū)內(nèi)的用于進行陣列檢測的電性端子連接；所述跨線連接部跨越相鄰面板區(qū)之間的切割線；每個陣列檢測走線的跨線連接部的寬度小于該陣列檢測走線的主線部的寬度；和/或，任意兩相鄰陣列檢測走線的跨線連接部的間距大于該兩相鄰陣列檢測走線的主線部的間距。