[發明專利]一種半導體制冷器件的分類設備及分類檢測方法

有效

• 申請號: 202111089566.2
• 申請日: 2021-09-17
• 公開（公告）號: CN113522798B
• 公開（公告）日: 2021-12-10
• 發明（設計）人: 梁逸笙;譚金旺
• 申請（專利權）人: 廣東富信科技股份有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38;H01L21/67
• 代理公司: 佛山市禾才知識產權代理有限公司 44379
• 代理人: 何慧敏;單蘊倩

本發明涉及半導體制冷器件自動生產線技術領域，尤其涉及一種半導體制冷器件的分類設備及分類檢測方法。一種半導體制冷器件的分類設備包括物料存放裝置、第一抓取裝置、定位裝置、檢測裝置、第二抓取裝置、分類存儲裝置和控制器；控制器分別電聯接于定位裝置、檢測裝置和第二抓取裝置，第一抓取裝置用于將半導體制冷器件轉運至定位裝置，檢測裝置用于對半導體制冷器件進行電性檢測。本技術方案提出的一種半導體制冷器件的分類設備，有利于解決現有采用人工檢測分類方式造成的分類效率低下、誤判率較高的技術問題。進而提出的一種使用上述半導體制冷器件的分類設備的分類檢測方法，有利于提升半導體制冷器件的分類效率和分類準確性。

技術領域

本發明涉及半導體制冷器件自動生產線技術領域，尤其涉及一種半導體制冷器件的分類設備及分類檢測方法。

背景技術

半導體制冷器件是利用半導體材料的珀爾帖效應制成的、可以產生制冷、或制熱作用的芯片，具有體積小、結構緊湊、制冷量控制方便等特點，在小型制冷如紅酒冷藏柜、汽車用冷熱兩用箱、電子冰淇淋機等產品中得到了廣泛的應用。

半導體制冷器件包括第一基板、第二基板和設置在第一基板與第二基板之間的晶粒。半導體制冷器件在裝配過程中，通常會由于晶粒制備工藝以及半導體制冷器件裝配工藝的影響，造成半導體制冷器件的電性參數存在差異，即導致半導體制冷器件的實際電性參數與理論電性參數存在誤差。而不同的電性參數的半導體制冷器件所適用的應用場景有所不同，若忽略半導體制冷器件的實際應用參數，則會影響半導體制冷器件的工作效率，以及縮短其使用壽命。

現有技術中，通常采用人工方式對半導體制冷器件的實際電性參數進行檢測，然后再根據檢測后的實際電性參數對半導體制冷器件進行等級分類。現有采用人工方式對半導體制冷器件進行檢測分類的效率十分低下，難以與半導體制冷器件自動生產線的生產效率相互匹配，人工成本較高，不利于降低半導體制冷器件的總生產成本；且檢測過程中存在人為因素的干擾，容易對半導體制冷器件造成誤判，增大了半導體制冷器件的實際電性參數與實際應用參數的不匹配性，同時也增大了半導體制冷器件的工作效率低下、使用壽命縮短的可能。

發明內容

本發明的目的在于提出一種半導體制冷器件的分類設備，有利于提升半導體制冷器件的分類效率，解決現有采用人工方式對半導體制冷器件進行檢測分類造成的分類效率低下、人工成本較高、誤判率較高的技術問題，結構簡單合理，自動化程度高，能有效克服現有技術中的不足之處。

本發明的另一個目的在于提出一種使用上述半導體制冷器件的分類設備的分類檢測方法，有利于提升半導體制冷器件的分類效率，以及確保半導體制冷器件的準確分類，給半導體制冷器件的生產加工帶來便利。

為達此目的，本發明采用以下技術方案：

一種半導體制冷器件的分類設備，包括物料存放裝置、第一抓取裝置、定位裝置、檢測裝置、第二抓取裝置、分類存儲裝置和控制器；

所述控制器分別電聯接于所述定位裝置、所述檢測裝置和所述第二抓取裝置，所述第一抓取裝置用于將存放于所述物料存放裝置的半導體制冷器件轉運至所述定位裝置，所述檢測裝置用于對位于所述定位裝置的半導體制冷器件進行電性檢測，所述第二抓取裝置用于根據電性檢測結果將半導體制冷器件轉運至所述分類存儲裝置，所述分類存儲裝置用于對半導體制冷器件根據其電性檢測結果進行分類存儲。

優選的，所述定位裝置包括定位座、第一限位組件和第二限位組件，所述定位座設有容納位，且所述容納位設有相鄰的第一開邊和第二開邊；

所述第一限位組件包括可位置移動的第一檔板，所述第一檔板可靠近和遠離所述第一開邊，所述第二限位組件包括可位置移動的第二檔板，所述第二檔板可靠近和遠離所述第二開邊，所述容納位、所述第一檔板和所述第二檔板用于圍成容納半導體制冷器件的容納腔。