[發明專利]一種半導體制冷器件的分類設備及分類檢測方法

有效

• 申請號: 202111089566.2
• 申請日: 2021-09-17
• 公開（公告）號: CN113522798B
• 公開（公告）日: 2021-12-10
• 發明（設計）人: 梁逸笙;譚金旺
• 申請（專利權）人: 廣東富信科技股份有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38;H01L21/67
• 代理公司: 佛山市禾才知識產權代理有限公司 44379
• 代理人: 何慧敏;單蘊倩

1.一種半導體制冷器件的分類設備，其特征在于：包括物料存放裝置、第一抓取裝置、定位裝置、檢測裝置、第二抓取裝置、分類存儲裝置和控制器；

所述控制器分別電聯接于所述定位裝置、所述檢測裝置和所述第二抓取裝置，所述第一抓取裝置用于將存放于所述物料存放裝置的半導體制冷器件轉運至所述定位裝置，所述檢測裝置用于對位于所述定位裝置的半導體制冷器件進行電性檢測，所述第二抓取裝置用于根據電性檢測結果將半導體制冷器件轉運至所述分類存儲裝置，所述分類存儲裝置用于對半導體制冷器件根據所述電性檢測結果進行分類存儲；

所述定位裝置包括定位座、第一限位組件和第二限位組件，所述定位座設有容納位，且所述容納位設有相鄰的第一開邊和第二開邊；

所述第一限位組件包括可位置移動的第一檔板，所述第一檔板可靠近和遠離所述第一開邊，所述第二限位組件包括可位置移動的第二檔板，所述第二檔板可靠近和遠離所述第二開邊，所述容納位、所述第一檔板和所述第二檔板用于圍成容納半導體制冷器件的容納腔；

所述第二限位組件還包括限位座和支撐板；所述支撐板可前后移動地安裝于所述限位座的頂部，所述支撐板用于支撐半導體制冷器件的導線；所述第二檔板與所述支撐板一體成型，且所述第二檔板位于所述容納位與所述支撐板之間；

所述定位裝置還包括第三限位組件，所述第三限位組件包括可位置移動的第三檔板，所述第三檔板可靠近和遠離所述容納位的頂部，所述第三檔板用于抵于半導體制冷器件的頂部，并將半導體制冷器件限位于所述容納腔；

所述檢測裝置包括檢測移動組件和夾取件，所述夾取件通過所述檢測移動組件可靠近和遠離所述定位裝置的上方，所述夾取件用于夾取位于定位裝置的半導體制冷器件的導線，并對半導體制冷器件進行電性檢測；

所述夾取件包括第一導線夾具和第二導線夾具，所述第一導線夾具和所述第二導線夾具可相向和相背移動，所述第一導線夾具朝向所述第二導線夾具的相對面設置有導電端或檢測端，所述第二導線夾具朝向所述第一導線夾具的相對面設置有對應的檢測端或導電端，所述第一導線夾具和所述第二導線夾具的相向移動用于夾取半導體制冷器件的導線，并通過導電端和檢測端對半導體制冷器件進行電性檢測。

2.根據權利要求1所述的一種半導體制冷器件的分類設備，其特征在于：所述容納位設有多個，且所述第一檔板、所述第二檔板、所述第三檔板的數量與所述容納位的數量相等。

3.根據權利要求1所述的一種半導體制冷器件的分類設備，其特征在于：所述物料存放裝置包括支撐臺、存放支撐板和存放組件，所述存放組件固定于所述存放支撐板的頂部，所述存放支撐板可移動地安裝于所述支撐臺的頂部，所述存放組件通過所述存放支撐板可移動至所述第一抓取裝置的下方。

4.根據權利要求3所述的一種半導體制冷器件的分類設備，其特征在于：所述存放組件設有多個存放單元，所述存放單元包括存放架和分隔條，所述存放架開設有多個用于存放半導體制冷器件的存放槽，所述分隔條靠近所述存放槽的槽口設置，且所述分隔條的兩側與所述存放槽之間留有分隔間隙。

5.根據權利要求1所述的一種半導體制冷器件的分類設備，其特征在于：所述第一抓取裝置包括第一移動組件和第一抓取件，所述第一抓取件安裝于所述第一移動組件，所述第一移動組件用于驅動所述第一抓取件在所述分類設備的移動；

所述第二抓取裝置包括第二移動組件和第二抓取件，所述第二抓取件安裝于所述第二移動組件，所述第二移動組件用于驅動所述第二抓取件在所述分類設備的移動。

6.一種半導體制冷器件的分類檢測方法，其特征在于，使用權利要求1至5任意一項所述的半導體制冷器件的分類設備，包括以下步驟：

（1）獲取定位裝置的半導體制冷器件放置信號；

（2）根據半導體制冷器件放置信號，判斷是否向檢測裝置發送檢測控制指令；若是，令檢測裝置根據檢測控制指令，夾取半導體制冷器件的導線，并使檢測裝置與導線建立電性連接關系；

（3）向檢測裝置發送通電控制指令，并通過檢測裝置獲取半導體制冷器件的電性參數檢測結果；

（4）將電性參數檢測結果與預存的電性參數區間范圍進行比對，根據比對結果獲取半導體制冷器件的分類等級信息；

（5）根據分類等級信息，生成分類控制指令，并向第二抓取裝置發送分類控制指令，令第二抓取裝置根據分類控制指令將半導體制冷器件轉運至分類存儲裝置中與分類等級信息對應的存儲區域，以對半導體制冷器件進行等級分類。