[發明專利]設備測試方法、裝置、可讀介質及電子設備在審
| 申請號： | 202111082941.0 | 申請日： | 2021-09-15 |
| 公開（公告）號： | CN113742153A | 公開（公告）日： | 2021-12-03 |
| 發明（設計）人： | 葛士建;劉顯;張宇;聶海濤;許曉菡;袁帥;李琛琛;王亞彬;彭亮;王劍 | 申請（專利權）人： | 北京字節跳動網絡技術有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22;G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙) 11447 | 代理人： | 魏云鹿 |
| 地址： | 100041 北京市石景山區*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 設備 測試 方法 裝置 可讀 介質 電子設備 | ||
1.一種設備測試方法，其特征在于，所述方法包括：
獲取目標設備對應的設備測試參數；
獲取所述設備測試參數在待測試環境中對應的目標參數值；
在當前環境中按照所述目標參數值對所述目標設備進行測試，以得到所述目標設備在所述待測試環境中的測試結果，所述當前環境與所述待測試環境為不同的環境。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測試環境包括高溫高濕環境，所述高溫高濕環境為環境溫度大于或等于預設溫度閾值且環境濕度大于或等于預設濕度閾值的測試環境；所述獲取所述設備測試參數在待測試環境中對應的目標參數值包括：
在所述待測試環境為所述高溫高濕環境的情況下，根據預設參數環境對應關系，獲取所述高溫高濕環境對應的第一目標參數值；其中，所述預設參數環境對應關系包括不同的待測試環境對應的設備測試參數的目標參數值。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述在當前環境中按照所述目標參數值對所述目標設備進行測試包括：
將所述目標設備的設備測試參數的值設置為所述目標參數值；
在所述當前環境中對所述目標設備進行測試。
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述在所述當前環境中對所述目標設備進行測試包括：
在所述當前環境中，通過所述目標設備運行目標負載程序，以便對所述目標設備進行測試；其中，所述目標負載程序為包括操作系統和目標業務系統的程序。
5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其特征在于，所述目標設備為目標服務器；在所述獲取所述設備測試參數在待測試環境中對應的目標參數值之前，所述方法還包括：
根據所述目標服務器的啟動參數，確定所述待測試環境。
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述目標服務器的啟動參數包括所述目標服務器的主板基礎輸入輸出系統的預設參數。
7.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述目標服務器的啟動參數包括所述目標服務器的主板啟動芯片的預設引腳的引腳電壓。
8.一種設備測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：
測試參數獲取模塊，用于獲取目標設備對應的設備測試參數；
參數值獲取模塊，用于獲取所述設備測試參數在待測試環境中對應的目標參數值；
設備測試模塊，用于在當前環境中按照所述目標參數值對所述目標設備進行測試，以得到所述目標設備在所述待測試環境中的測試結果，所述當前環境與所述待測試環境為不同的環境。
9.一種計算機可讀介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理裝置執行時實現權利要求1至7中任一項所述方法的步驟。
10.一種電子設備，其特征在于，包括：
存儲裝置，其上存儲有計算機程序；
處理裝置，用于執行所述存儲裝置中的所述計算機程序，以實現權利要求1至7中任一項所述方法的步驟。
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