[發明專利]一種用于檢測顯示模組缺陷的檢測方法及系統

在審

• 申請號: 202111057658.2
• 申請日: 2021-09-09
• 公開（公告）號: CN113866182A
• 公開（公告）日: 2021-12-31
• 發明（設計）人: 劉磊;白楊
• 申請（專利權）人: 安徽億普拉斯科技有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01N21/88
• 代理公司: 合肥正則元起專利代理事務所(普通合伙) 34160
• 代理人: 劉汪丹

本發明公開了一種用于檢測顯示模組缺陷的檢測方法及系統，涉及顯示器技術領域，解決了人工檢查顯示模組存在差錯的技術問題；步驟一：該方法包括提供電源點亮顯示模組，檢測顯示模組的顯示屏體缺陷并生成顯示屏體缺陷分析報告；步驟二：提供照射光線照亮顯示模組表面，檢測顯示模組偏光片缺陷并生成偏光片缺陷分析報告；步驟三：綜合分析模塊對顯示屏體缺陷分析報告和偏光片缺陷分析報告進行綜合分析，然后生成綜合缺陷報告；步驟四：缺陷評級模塊根據綜合缺陷報告生成缺陷等級。本發明設計合理，便于顯示模組缺陷檢測。

技術領域

本發明屬于顯示器技術領域，涉及缺陷檢測技術，一種用于檢測顯示模組缺陷的檢測方法及系統。

背景技術

顯示器分為屏體部分和表面偏光片部分，偏光片表面容易在生產過程被劃傷，當劃傷較深時會損壞偏光片表面下屏體部分，影響觀看的效果；現有技術中對顯示器的檢查往往通過人工完成，而人工很難分辨偏光片缺陷和屏體缺陷，難以判斷顯示屏是否合格。

因此亟需一種用于檢測顯示模組缺陷的檢測方法及系統解決上述問題。

發明內容

本發明提供了一種用于檢測顯示模組缺陷的檢測方法及系統，用于解決人工檢查顯示模組存在差錯的技術問題。

本發明的目的可以通過以下技術方案實現：

一種用于檢測顯示模組缺陷的檢測方法，具體步驟包括：

步驟一：提供電源點亮顯示模組，檢測顯示模組的顯示屏體缺陷并生成顯示屏體缺陷分析報告；

步驟二：提供照射光線照亮顯示模組表面，檢測顯示模組偏光片缺陷并生成偏光片缺陷分析報告；

步驟三：綜合分析模塊對顯示屏體缺陷分析報告和偏光片缺陷分析報告進行綜合分析，然后生成綜合缺陷報告，具體過程包括：

獲取偏光片缺陷分析報告中劃傷缺陷的劃傷深度，當劃傷深度大于等于偏光片的厚度時，判斷所述劃傷缺陷下方的顯示屏體的像素點有缺陷；

當劃傷深度小于偏光片的厚度時，判斷顯示屏體在所述劃傷缺陷下方的像素點無缺陷，將顯示屏體缺陷分析報告中相應的像素點缺陷排除；

步驟四：缺陷評級模塊根據綜合缺陷報告生成缺陷等級。

進一步地，生成顯示屏體缺陷分析報告，具體過程包括：

對顯示模組通電，利用高清圖像采集模塊獲取顯示模組第一高清圖像；

圖像處理模塊處理顯示模組第一高清圖像，獲取差異點；

缺陷分析模塊將差異點在標準缺陷數據庫中進行比對，獲取顯示屏體缺陷分析報告。

進一步地，獲取差異點過程包括：

圖像處理模塊獲取第一高清圖像與標準數據庫中同一型號顯示模組的標準表面圖像進行比對，提取第一高清圖像中的差異點；所述差異點包括若干個差異圖像和坐標信息。

進一步地，所述顯示屏體缺陷分析報告包括缺陷種類、缺陷程度、缺陷點坐標信息。

進一步地，生成偏光片缺陷分析報告，具體過程包括：

提供至少五個方向上的照射光線，利用高清圖像采集模塊獲取顯示模組的第二高清圖像集，所述第二高清圖像集包括若干高清照片，所述高清照片包括從顯示模組至少五個方向上拍攝的照片；

圖像處理模塊處理第二高清圖像集，獲取立體區別點；

缺陷分析模塊將立體區別點在標準缺陷數據庫中進行比對，獲取偏光片缺陷分析報告。

進一步地，獲取立體區別點過程包括：