[發明專利]一種用于檢測顯示模組缺陷的檢測方法及系統

在審

• 申請號: 202111057658.2
• 申請日: 2021-09-09
• 公開（公告）號: CN113866182A
• 公開（公告）日: 2021-12-31
• 發明（設計）人: 劉磊;白楊
• 申請（專利權）人: 安徽億普拉斯科技有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01N21/88
• 代理公司: 合肥正則元起專利代理事務所(普通合伙) 34160
• 代理人: 劉汪丹

1.一種用于檢測顯示模組缺陷的檢測方法，其特征在于，具體步驟包括：

步驟一：提供電源點亮顯示模組，檢測顯示模組的顯示屏體缺陷并生成顯示屏體缺陷分析報告；

步驟二：提供照射光線照亮顯示模組表面，檢測顯示模組偏光片缺陷并生成偏光片缺陷分析報告；

步驟三：綜合分析模塊對顯示屏體缺陷分析報告和偏光片缺陷分析報告進行綜合分析，然后生成綜合缺陷報告，具體過程包括：

獲取偏光片缺陷分析報告中劃傷缺陷的劃傷深度，當劃傷深度大于等于偏光片的厚度時，判斷所述劃傷缺陷下方的顯示屏體的像素點有缺陷；

當劃傷深度小于偏光片的厚度時，判斷顯示屏體在所述劃傷缺陷下方的像素點無缺陷，將顯示屏體缺陷分析報告中相應的像素點缺陷排除；

步驟四：缺陷評級模塊根據綜合缺陷報告生成缺陷等級。

2.根據權利要求1所述的一種用于檢測顯示模組缺陷的檢測方法，其特征在于，生成顯示屏體缺陷分析報告，具體過程包括：

對顯示模組通電，利用高清圖像采集模塊獲取顯示模組第一高清圖像；

圖像處理模塊處理顯示模組第一高清圖像，獲取差異點；

缺陷分析模塊將差異點在標準缺陷數據庫中進行比對，獲取顯示屏體缺陷分析報告。

3.根據權利要求2所述的一種用于檢測顯示模組缺陷的檢測方法，其特征在于，獲取差異點過程包括：

圖像處理模塊獲取第一高清圖像與標準數據庫中同一型號顯示模組的標準表面圖像進行比對，提取第一高清圖像中的差異點；所述差異點包括若干個差異圖像和坐標信息。

4.根據權利要求2所述的一種用于檢測顯示模組缺陷的檢測方法，其特征在于，所述顯示屏體缺陷分析報告包括缺陷種類、缺陷程度、缺陷點坐標信息。

5.根據權利要求1所述的一種用于檢測顯示模組缺陷的檢測方法，其特征在于，生成偏光片缺陷分析報告，具體過程包括：

提供至少五個方向上的照射光線，利用高清圖像采集模塊獲取顯示模組的第二高清圖像集，所述第二高清圖像集包括若干高清照片，所述高清照片包括從顯示模組至少五個方向上拍攝的照片；

圖像處理模塊處理第二高清圖像集，獲取立體區別點；

缺陷分析模塊將立體區別點在標準缺陷數據庫中進行比對，獲取偏光片缺陷分析報告。

6.根據權利要求5所述的一種用于檢測顯示模組缺陷的檢測方法，其特征在于，獲取立體區別點過程包括：

分別將第二高清圖像集中的高清照片與標準圖像集中對應方向上相同拍攝角度的標準照片進行比較，并標記區別點，然后將各方向上的所有照片中的同一個區別點轉化為立體區別點，所述立體區別點為三維圖像；所述立體區別點包括坐標信息，坐標信息為在偏光片下對應的所有的像素點坐標。

7.根據權利要求1所述的一種用于檢測顯示模組缺陷的檢測方法，其特征在于，所述偏光片缺陷分析報告包括劃傷深度、劃傷長度以及劃傷數量。

8.執行權利要求1-7任一項所述的一種用于檢測顯示模組缺陷的檢測方法的檢測系統，其特征在于，包括：

高清圖像采集模塊，用于采集顯示模組表面第一高清圖像和第二高清圖像集；

圖像處理模塊，用于對第一高清圖像和第二高清圖像進行處理，分別獲取差異點和立體區別點；

缺陷分析模塊，用于將差異點和立體區別點在標準缺陷數據庫中進行比對，分別生成顯示屏體缺陷分析報告和偏光片缺陷分析報告；

綜合分析模塊，用于對顯示屏體缺陷分析報告和偏光片缺陷分析報告進行綜合分析生成缺陷等級。