[發(fā)明專利]套刻誤差的補(bǔ)償方法、補(bǔ)償裝置、光刻機(jī)及存儲介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110996234.6 | 申請日: | 2021-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN113777893A | 公開(公告)日: | 2021-12-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 曾健忠 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳天狼芯半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號: | G03F7/20 | 分類號: | G03F7/20;G03F9/00 |
| 代理公司: | 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44414 | 代理人: | 趙智博 |
| 地址: | 518000 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 誤差 補(bǔ)償 方法 裝置 光刻 存儲 介質(zhì) | ||
1.一種套刻誤差的補(bǔ)償方法,晶圓上設(shè)置有N個對準(zhǔn)記號,N為大于1的整數(shù),其特征在于,所述補(bǔ)償方法包括:
從N個所述對準(zhǔn)記號中,確定M個待插值記號組,M為大于零的整數(shù),所述待插值記號組包括至少兩個對準(zhǔn)記號;
獲取N個所述對準(zhǔn)記號的套刻誤差;
對于第i個所述待插值記號組,第i個所述待插值記號組為M個所述待插值記號組中的任一所述待插值記號組,根據(jù)第i個所述待插值記號組中的所有對準(zhǔn)記號的套刻誤差,確定第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差;
根據(jù)N個所述對準(zhǔn)記號的套刻誤差和M個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差,對所述晶圓進(jìn)行誤差補(bǔ)償。
2.如權(quán)利要求1所述的補(bǔ)償方法,其特征在于,所述對準(zhǔn)記號的套刻誤差包括所述對準(zhǔn)記號的套刻誤差的X分量和Y分量,套刻誤差的X分量是指套刻誤差在水平方向的分量,套刻誤差的Y分量是指套刻誤差在垂直方向的分量;根據(jù)第i個所述待插值記號組中的所有對準(zhǔn)記號的套刻誤差,確定第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差包括:
根據(jù)第i個所述待插值記號組中的所有對準(zhǔn)記號的套刻誤差的X分量,確定第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差的X分量;
根據(jù)第i個所述待插值記號組中的所有對準(zhǔn)記號的套刻誤差的Y分量,確定第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差的Y分量;
根據(jù)第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差的X分量和Y分量,確定所述第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差。
3.如權(quán)利要求2所述的補(bǔ)償方法,其特征在于,在根據(jù)第i個所述待插值記號組中的所有對準(zhǔn)記號的套刻誤差,確定第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差之前,還包括:
獲取第i個所述待插值記號組中的所有對準(zhǔn)記號分別與對應(yīng)的插值點(diǎn)的距離;
根據(jù)第i個所述待插值記號組中的第j個對準(zhǔn)記號與對應(yīng)的插值點(diǎn)的距離,確定第i個所述待插值記號組中的第j個對準(zhǔn)記號對應(yīng)的權(quán)重,第i個所述待插值記號組中的第j個對準(zhǔn)記號對應(yīng)的權(quán)重與第j個對準(zhǔn)記號與對應(yīng)的插值點(diǎn)的距離成反比,第i個所述待插值記號組中的第j個對準(zhǔn)記號為第i個所述待插值記號組中的所有對準(zhǔn)記號中的任一對準(zhǔn)記號;
所述根據(jù)第i個所述待插值記號組中的所有對準(zhǔn)記號的套刻誤差的X分量,確定第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差的X分量包括:
根據(jù)第i個所述待插值記號組中的所有對準(zhǔn)記號的套刻誤差的X分量和對應(yīng)的權(quán)重,確定第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差的X分量;
所述根據(jù)第i個所述待插值記號組中的所有對準(zhǔn)記號的套刻誤差的Y分量,確定第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差的Y分量包括:
根據(jù)第i個所述待插值記號組中的所有對準(zhǔn)記號的套刻誤差的Y分量和對應(yīng)的權(quán)重,確定第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差的Y分量。
4.如權(quán)利要求3所述的補(bǔ)償方法,其特征在于,所述根據(jù)第i個所述待插值記號組中的所有對準(zhǔn)記號的套刻誤差的X分量和對應(yīng)的權(quán)重,確定第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差的X分量包括:
根據(jù)第一公式,計算第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差的X分量;
其中,所述第一公式為Ax表示第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差的X分量,qj表示第i個所述待插值記號組中的第j個對準(zhǔn)記號對應(yīng)的權(quán)重,Vjx表示第i個所述待插值記號組中的第j個對準(zhǔn)記號的套刻誤差的X分量,H表示第i個所述待插值記號組中對準(zhǔn)記號的總數(shù)量;
所述根據(jù)第i個所述待插值記號組中的所有對準(zhǔn)記號的套刻誤差的Y分量和對應(yīng)的權(quán)重,確定第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差的Y分量包括:
根據(jù)第二公式,計算第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差的Y分量;
其中,所述第二公式為Ay表示第i個所述待插值記號組對應(yīng)的插值點(diǎn)的套刻誤差的Y分量,Vjy表示第i個所述待插值記號組中的第j個對準(zhǔn)記號的套刻誤差的Y分量。
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G03F7-004 .感光材料
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