[發明專利]極耳的平面度測量方法及測量裝置

有效

• 申請號: 202110982005.9
• 申請日: 2021-08-25
• 公開（公告）號: CN113720282B
• 公開（公告）日: 2022-11-25
• 發明（設計）人: 賀珍真;盧盛林;何翔;董瑞
• 申請（專利權）人: 廣東奧普特科技股份有限公司
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30;G06T7/00;G06T17/00
• 代理公司: 北京冠和權律師事務所 11399
• 代理人: 陳彥朝

本發明提供了一種極耳的平面度測量方法及測量裝置，方法包括：S1、建立標準3D極耳平面度模型池；S2、獲取待測量極耳的型號信息；S3、根據型號信息獲取標準3D極耳平面度模型池中與型號信息相對應的標準3D極耳平面度模型；S4、掃描待測量極耳，生成待測量3D極耳平面度模型；S5、將標準3D極耳平面度模型與待測量3D極耳平面度模型重疊，得到待測量3D極耳平面度模型相對于標準3D極耳平面度模型的極耳高度偏離信息；S6、根據極耳高度偏離信息計算得到待測量極耳的平面度。本發明用于消除極耳平面度的測量精度受到人工操作時，工作臺、夾具等器件的影響，并能提升測量效率，滿足生產需求。

技術領域

本發明涉及極耳平面度測量領域，尤其涉及一種極耳的平面度測量方法及測量裝置。

背景技術

聚合物鋰離子電芯在制作完成后，還要經過極耳轉焊等pack工序，才能制成最終能直接應用的成品電池，聚合物鋰電池在制作過程中，有很多充放電過程和電壓內阻檢驗項目，這些都需要通過設備工裝接觸極耳才能夠實現，這些工序不可避免的都會對極耳平面度產生影響。而極耳的平面度對于pack轉焊十分重要，當極耳平面度太大的時候，焊接會出現虛焊、焊爆等問題，直接導致電池不良。尤其對于聚合物鋰離子電池質量要求比較高的廠家來說，極耳平面度已經成為了電池制作中常規的檢驗項目。

現有的極耳平面度測試方法都是利用光學原理進行測量的，光學測量設備有普通光源掃描設備(例如OMM)和激光掃描設備(例如APMT)等，但是這些設備往往都很貴重，一般在數萬元到數十萬美元，時間長，OMM設備需要數分鐘，測試誤差大，極耳稍微偏斜或翹起測試數值就會相差很大，很難在生產上應用起來，或是利用數顯千分表檢測極耳平面度，但這種方法是直接在工作臺上對電池進行固定后對極耳進行厚度測量并計算平面度，導致極耳平面度的測量精度受到工作臺、夾具等器件的影響，且人為操作工作臺時易疲勞、速度慢、針對不同鋰電池極耳時需要先熟悉產品，效率較慢，無法滿足生產需求，因此，亟需提出一種極耳的平面度測量方法及測量裝置，用于解決極耳平面度的測量精度受到工作臺、夾具等器件的影響，且人為操作工作臺時易疲勞、速度慢、針對不同鋰電池極耳時需要先熟悉產品，效率較慢，無法滿足生產需求的問題。

發明內容

本發明提供一種極耳的平面度測量方法及測量裝置，用于解決極耳平面度的測量精度受到工作臺、夾具等器件的影響，且人為操作工作臺時易疲勞、速度慢、針對不同鋰電池極耳時需要先熟悉產品，效率較慢，無法滿足生產需求的問題。

一種極耳的平面度測量方法，包括：

S1、建立標準3D極耳平面度模型池；

S2、獲取待測量極耳的型號信息；

S3、根據型號信息獲取標準3D極耳平面度模型池中與型號信息相對應的標準3D極耳平面度模型；

S4、掃描待測量極耳，生成待測量3D極耳平面度模型；

S5、將標準3D極耳平面度模型與待測量3D極耳平面度模型重疊，得到待測量3D極耳平面度模型相對于標準3D極耳平面度模型的極耳高度偏離信息；

S6、根據極耳高度偏離信息計算得到待測量極耳的平面度。

作為本發明的一種實施例，建立標準3D極耳平面度模型池，包括：

獲取預設數量的不同極耳型號的極耳標準參數信息；

根據預設數量的不同極耳型號的極耳標準參數信息構建預設數量的不同極耳型號的標準3D極耳平面度模型；

根據預設數量的不同極耳型號的標準3D極耳平面度模型建立標準3D極耳平面度模型池。

作為本發明的一種實施例，獲取待測量極耳的型號信息，包括：

以預設傾斜角度的光源照射待檢測極耳，獲取待檢測極耳的彩色圖像和反光圖像；